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基本信息

标准号: GB/T 42897-2023

中文名称:微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法

标准类别:国家标准(GB)

英文名称:Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Tensile strength test method for nano-scale membranes of silicon based MEMS

标准状态:现行

发布日期:2023-08-06

实施日期:2023-12-01

出版语种:简体中文

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下载大小:2.79 MB

标准分类号

标准ICS号:电子学>>31.200集成电路、微电子学

中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L59微型组件

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:16页

标准价格:31.0

相关单位信息

起草人:张大成、杨芳、李根梓、顾枫、刘鹏、李凤阳、王旭峰、高程武、陈艺、于志恒、华璇卿、刘若冰、张彦秀、王清娜、邵峥、李强、宏宇、赵成龙、张宾、李海全

起草单位:北京大学、中机生产力促进中心有限公司、中国电子技术标准化研究院、北京燕东微电子科技有限公司、厦门市智慧健康研究院有限公司、宁波瑞成包装材料有限公司、四川富生电器有限责任公司、深圳市美思先端电子有限公司、无锡韦感半导体有限公司、广州奥松电子股份有限公司等

归口单位:全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)

提出单位:全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)

发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

标准简介

本文件描述了硅基MEMS加工过程中所涉及的纳米厚度膜轴向抗拉强度原位试验的要求和试验方法。 本文件适用于采用微电子工艺制造的纳米厚度膜抗拉强度测试。


标准图片预览

GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法 GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法