首页 >  国家标准(GB) >  GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

基本信息

标准号: GB/T 43035-2023

中文名称:半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

标准类别:国家标准(GB)

英文名称:Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination

标准状态:现行

发布日期:2023-09-07

实施日期:2023-09-07

出版语种:简体中文

下载格式:.pdf .zip

下载大小:10.11 MB

标准分类号

标准ICS号:电子学>>31.200集成电路、微电子学

中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L57膜集成电路

关联标准

采标情况:IEC 60748-20-1:1994,IDT

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:24页

标准价格:43.0

相关单位信息

起草人:王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟

起草单位:中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

提出单位:中华人民共和国工业和信息化部

发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

标准简介

本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验,从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。


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GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求