GB 5080.7-1986
标准分类号
标准ICS号:电气工程>>29.020电气工程综合
中标分类号:电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性
出版信息
出版社:中国标准出版社
页数:平装16开, 页数:31, 字数:54千字
标准价格:16.0 元
出版日期:1987-10-01
相关单位信息
首发日期:1986-11-19
复审日期:2004-10-14
起草人:徐福祯
起草单位:电子工业部第五研究所
归口单位:全国电工电子可靠性与维修性标准化技术委员会
提出单位:中华人民共和国电子工业部
发布部门:国家标准局
主管部门:信息产业部(电子)
标准简介
本部分假定相邻失效间时间(对可修复设备)或失效前时间(对不可修复设备)的统计分布是服从指数分布的,即失效率为常数。 GB 5080.7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB5080.7-1986 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
中华人民共和国国家标准
设备可靠性试验
恒定失效率假设下的失效率与
平均无故障时间的验证试验方案Equi pment reliabllit y testlagCompliance test plans for failure rateand mean time between failuresassuming constant fallure rate1范围
UDC 621.3-192.001
.4:001.5
GB 5080.7-86
IEC 605- 7-1978
本部分假定相邻失效间时间(对可修复设备)或失效前时间(对不可修复设备)的统计分布是服从指数分布的,即失效率为常数。在上述条件下,本部分的统计试验方案适用于以平均无故障时间、失效前平均时间及失效率为可靠性特征的可肇性验证试验。
本部分结合GB5080·1—86《设备可靠性试验总要求》一起使用。本部分等同采用IEC605-.7《设备可靠性试验第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案》。2有关的可靠性特征
本部分的基本可靠性特征是平均无故障时间。时间是指所有受试设备的累积相关试验时间。时间可置换为距离、循环次数或其它适用于受试设备的量或单位。失效数是指试验过程中出现的累积相关失效数。具体的可靠性试验应对可以计人的相关试验时间及相关失效数加以明确的规定。试验方案中的符号“m”代表基本的可靠性特征。失效前平均时间及失效率等可靠性特征按下述规则换算为平均无故障时间。因此,本部分的试验方案完全适用于这些特征。
可靠性特征为平均无故障时间MTBF时:MTBF= m
可靠性特征为(首次)失效前平均时间m或MTTF时:mp =MTTF=m
可靠性特征为失效率入时:
3统计试验方案及--般试验程序
3.1试验方案的类型
试验方案有二种类型:
截尾序贯试验方案,见第4章,
定时(定数)截尾试验方案,见第5章。国家标准局1986—11—19发布
1987-10-01实施
GB5080.7—86
详细的可靠性试验规范应指出采用何种类型的试验方案,GB5080·1一867.3.1款给出了选择试验方案类型的指南。类型的选择还取决于技术方面所具备的条件,如试验过程中监测受试产品性能的可能性(见GB5080·1-86的9.1条)及可用于试验的总时间。第4章及第5章给出了各试验方案,方案是以图表形式表示的,并以图的形式同时给出了相应的工作特性曲线(接收概率相对于实际的平均无故障时间)及作出判定的期望相关试验时间。3.2一般试验程序
从给定的产品总体中随机地抽取规定数量的设备,投人规定的试验过程,并按GB5080·1-86的9.5和9.2条记录和逐次累积所有受试产品的相关试验时间和相关失效数。可修复产品失效时,失效产品应按GB5080·1-86第10.1条进行修复并投人试验。相关试验时间的计算与受试产品经历的时间(总时间)是无关的。相关试验时间和相关失效数应累积到按所选择的序贯试验方案能作出判定为止,或按所选择的定时定数截尾试验方案达到截尾条件为止。累积相关试验时间的理解应以GB318782《可靠性基本名词术语及定义》为准。其计算方法如本部分3.3条所示。3.3累积相关试验时间的计算
各受试产品的相关试验时间可用受试产品上各自的计时器记录时,第K次失效时的累积相关试验时间应是所有计时器读数之和。即T:
式中: n
tk,m
-受试产品总数,
-到第k次失效时,受试产品中第m号受试产品的相关试验时间的读数。在判定点上未出现失效时的累积相关试验时间T*为:r*- r*
式中:1*—到判定点时,第m号受试产品的相关试验时间的读数。若用其它方法记录相关试验时间,则第k次失效时的累积相关试验时间T应用下述选代公式计算。它包括到第k-1次失效的累积相关试验时间及第k-1次失效到第k次失效间的累积相关试验时间。Tk=Tk-- +Mt..
式中:n—受试产品总数
-第k-1次失效后受试产品中第m号受试产品的第j个周期的相关试验时间。第k-1次失效或其它技术或管理原因可能引起间断,不同受试产品的间断次数可能各不相同。图1进一步说明了相关试验时间的周期编号。392
受试产
品编号
第—1次
GB5080.7-86
图 1相关试验时间的周期编号
在判定点上未出现失效时的累积相关试验时间T*为:T*=
式中: Tr-
一在判定点之前最后一次失效时的累积相关试验时间;相关试验时间
+ 1.1 +t 12
+ 21+t 2.2+t 2,3
日历时间
最后一次失效后受试产品中第m号受试产品的第i个周期的相关试验时间。上述公式也适用于受试产品是不可修复的设备,只是各受试产品在首次失效后就没有相关试验时间。
4序贯试验方案
本章叙述优先选用的截尾序贯试验方案(包含工作特性曲线及作出判定的期望相关试验时间)。4.1序贯试验方案的特征
序贯试验方案的特征由下列表示:mo=规定可接受的平均无故障时间,α-生产方风险?
β=使用方风险,
Dm=平均无故障时间的鉴别比。
生产方风险α是当实际的m=mo时,设备被拒收的概率。使用方风险β是当实际的m=m时,设备被接收的概率。这里ml是不可接受的平均无故障时间。平均无故障时间的鉴别比在这里的定义是:Dm一mo/ml。4.2序贯试验方案的表与图
下表列出了本部分给出的序贯试验方案。393
标称值,%
GB 5080.7—86
序贯试验方案
m=mo时作出判定的期时间
no的倍数
实际风险,%
注:①实际风险α‘与β’偏离标称的a与是由于试验方案中采用近似与截尾所致。m=ml
②在试验期间或在不超过试验周期和监测区间(见GB5080.1一86第8.1条和9.1条)中,累积相关试验时间及相关失效数应经常地与接收和拒收标准进行比较。394
相关失效数
GB 5080.7—86
继续话
=m。时,期望判定点
累积美试验时间
试验方案4=1(a=0.10,β=0.10,Dm=1.5)表2
累积相关试验时间(mo的倍数)拒收
(等于或小于)
注:相关失效数大于等于41,
(等于或大于)
律拒收。
试验方案4:1
相关失效数
累积相关试验时间(mo的倍数)拒收
(等于或小于)
(等于或大于)
14m。
GB5080.7—86
图3试验方案4:1工作特性曲线
图4试验方案4:1判定的期望相关试验时间实际的m
实际的m
相关失效数
GB5080.7—86
m=m,时,期望判定点
10m。累积相关试验时间
5试验方案4:2(a=0.10,β=0.10,Dm=2.0)图5
表3试验方案4:2
累积相关试验时间
(等于或小于)
注:相关失效数大于等于16,一律拒收。(mo的倍数)
(等于或大于)
GB 5080.7—86
图6试验方案4:2工作特性曲线
图7试验方案4:2判定的期望相关试验时间实际的m
实际的m
相关失效数
GB5080.7—86
m严m。时,期望判定点
累积相关试验时间
试验方案4:3(a0.10,B=0.10,Dm=3.0)表4试验方案4:3
累积相
关斌验
(等于或小于)
注:相关失效数大于等于7,
一律拒收。
的倍数)
(等于或大于)
GB5080.7--86
试验方案4:3工作特性曲线
图10试验方案4:3判定的期望相关试验时间实际的m
实际的m免费标准bzxz.net
GB 5080.7-86
m = mo时,期塑判定点
图11试验方案4:4(α=0.10,β=0.10,Dm=5.0)表5试验方案4:4
相关失效数
累积相关
(等于或小于)
注,相关失效数大于等于4,一律拒收。时间
1.25m。 累积相关试验时间
(mo的倍数)
(等于或大于)
GB5080.786
试验方案4:4工作特性曲线
图13试验方案4:4判定的期望相关试验时间实际的m
实际的m
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