本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度的方法。本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度；但它不适用于一切的转化膜，有些转化膜因为太薄而不能用这种方法测量。 GB/T 4957-2003 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法 GB/T4957-2003 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度的方法。本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度；但它不适用于一切的转化膜，有些转化膜因为太薄而不能用这种方法测量。

GB/T 4957—2003/ISO 2360,19B2本标准等采用[S02360：19%22非菌性基体金再上非导覆益层星盖层厚度测量
祸流法
（英文版）。
本标准代心4957—19%5背性金风体上非导电覆益层厚测量涡落方达
本标准根据19）2360：1982作如下编辑性样改：）“用“本标准\代替“本国际标雅\，b》收消了国际标难的崩言+
引用了采用国际标准的国家标准；t）增加了规落性引用文件，
本标准由中国机械.1业联合会提出：术杯准全围金质马非金底覆荒层标准化技术委员冬归口本标准资起革单位，武汉材料保护研究所。本标准梦圳电草单位：渐江东消市新丰企业有限公司，本标谁主要起萃人：哟晖，坤立橱、永春，觉逆新，弹秀林。本标准所代替标准的历次放本发布情况为：-GB/T4957—1985。
1燕禹
CB/T 4957—2003/ISO 236:19B2非磁性基体金属上非导电罗盖层程盖层厚度测涡玩法
本标准规定了使用涡流测厚仪无摄渡量非磁性基体金高上非导电通盖层序度的方法。本方法道月于测量大多数阳录氧化膜的厚度；但它不适用十的转化膜，有此转化膜因为太遵面不能用这种万法测量（见第？章）。本方法理论上能量磁性基体金慢上覆益层的度，但不了推荐。在这种情说下，采用GB/T4956中所规定的燃性方法进行测低。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用血成为本标准的条款。凡是注片期的用文件，其随后所有的快改单（不包括数误的内容>或您订版均不近用于本标惟，然而·歧断根据本标注达成协议的各方研究是否可使用这些文件的量新版本，凡是不注月期的引用文件，其最新服本适用干本标准。心BT4056磁性体上非磁性靠层夏滋层厚度测性法（1S02178，1982,IDT）3用理
祸流划厚仅器测头装查中产生的高锁电避场，将在受于测头下面的让体中产生竭流，识流的版糊和相位是存在干导体利测头之州的非导电疆益层厚度的函数。4影响测量准度的图素
下列因素可能影响震益层厚度测量的准确度4.1理盖层厚度
避量不确定度是杰方固有的，对于薯殖益层测做的不确定度（确切地说）是恒定值，与题益县所度光关，对于每一单次测量而言至少是U.5J11，烂干乎度约大于25m的魔益层，谢量的不确定度等十归似恒定的分效与通益层医度的栗积。如果对厚度等于或小下5m的覆益虑副过时要收几个读数的平均值：罩度小于3m的磺盖层厚度测量可施达本到第7年趣定的准确要求。4.2基体金底的电性能
用涡流议器测量序座会受基体金剧电导率的彩响，金因的出导率与材料的成分收热处期有关，电导率刘酬盘的影响随仪器的制造和型号不同前有期显的差开。4.3基体金同的序盘
每一台器都有一个基体金属的活样淳度，人于这个厚院，测温箱不受基体金属再度增加的影响。山于临界厚度既取决于酬头累统的测盘规本义取决于基体金册的电导率，因此.临异原度值应通过实验确定，险非制进商对此有规定
通带，对于·定的测贴频率，基体金同的电导率愈商，其临界厚度越小，刘于一定的成体金同，测母频率越产，茶体金快临界厚事越小。4.4边像效虚
涡流仪器对试样表面的不注续敏感.因此，人非边缘或内转角处的减取称是不可娠的，除非仪器专GD/T 4957—2003/ISO 236;1982门为这类测其进行了校准，
4.5曲年
试样的曲率影哪测量，曲率的影响四仪器制造和类型的不同而有很大的差异，但总是随曲率半格的磁少而更为明显，因比在弯曲的试样上进行测最将是不可带的，除非议器为这类测量作了专门的校摊：
4.6表面粗短皮wwW.bzxz.Net
基述金城和题直具的表面形貌对测量有影制.租植表面既能造成系统误益义能造成偶然误若；在不同的位管上作多次测单能降低留然误差、如果基佐金属粗物，还需要在术除机的粗糙基体金属试样上的若十位置校验仪举零点，如果没有适合的末踪题的相间基体金，应用小他基体金风的溶兼除去试择上的重益层4.了外乘附关尘埃
涡流仪器的制头必须与试样表面离密接触.因为收器对茹码测头与需益层表面紧密传触的外来物质「分敏感。应该检查测头前端的清滑度。4.8测头压力
使测头费贴试样所施加的压力影响仪器的试数，因此，压力应该保持恒定。这可以借助于一个合适临来其米达到。
4.9测头的放置
仅解则头的颜斜放益，会改变仪器的响应，因此，测头弃测量点处应该与微试表面始终保持乘克，这可以借助于个合适的老具来达到。4.10试样的变形
测头可使软的领益是或薄的试样变形。在这样的成样上进行可求的测量叫能是做不到的，或者只有使用特殊的融头或夹具小服进行：4.11测头的道度
出于温丧的较大变化会影响测头的接性，所以应该在与校难很度大致相同的条件下快用测头刷度5收器的校准
5.1抵述
每台仪辈在使用前，部应按测造断的说明，用一些合质的饮准标准片进行校准、并对第4章中对学的因素和第6章中进的我序给予冠当的注意。5.2格准标准片
已知厚度的校追标准片可以是也可以是有预益层的标准片。5.2.1较准箱
5.2.1.1用丁满流收校谁的标销通常出适马的塑料制成，消有干在旁曲表面上的难+并上比有覆盖层的标准片更容易获得。5.2.1.2为了避免测显误差，成保证箔与基体累需链，如果可能的话应避免使用具有弹性的箱。标准易于形成压案，必须经常更换，5.2.2有量热尽的标准片
有疆盖居的标准片出已知厚度的、厚均寸丑与基体拉料牢绍合的非导电通益层将成，5.3较准
5.3.1校准标准片的基体金风应其有与试样约基休金风相似的电单性能。致议将从无通荒层的校准标准片的基体金属上得划的读数与从试持基然金再上得到的读作比较，以确认校准标准计的适用任5.3.2如果基怀金回厚使新对过1.2户定义的临界厚废，则预盖层序度测不受基体企属厚度的影追，如果没在超过临界厚度，则谢量利校准的基体金成厚度底孩尽可衡相问。如果不能这样，购应用一片定2
GB/T4957--2D03/1S02360:1982
够厚的、电学性能相同的金网将校准标难片或试举垫起，以快读数不受基件企厚度的影明！但如果基体金减两面都有题益辰，或基体金属和衬垫金属之间存证何隙.则不能用此方法5.3.如果持测谨益层的弯状他之不能平面方式校准时：则有整益后的标准片的曲率或效救推箔的基体的曲率应与待刹亢样的曲率相同：6测划程序
6.1谢速
按制逆商的说朗去操作舞一台仪器，对第4章中列举的因求给予相应的注忘，在每次仅器投入使用时，以段在使用中每陷一定时间（至少每小时一次).都应在谢盘现场别仪器的校准进行核对，以保证仪器的性能证常.必舜遵守下列注意事项。
6.2基体金属厚度
基体金离厚度是否过临界厚度，如来设有超过，采用5.3.2中报述的方法·变若保证已经采用与试样相同序度和相同电学托能的标推片进行过仪器悦准，6.3逆赚效
不要在载近成样药边感、孔润、内就角等处进行测量，除非为这视量所作的校准的有效性巨经报到了证实“，
6.4曲率
不要在试样的弯曲表面上进行测耳，除非为这类测最所作的校准的有效性口经根对了证实。6.5演数的次效
由于位端的正波动性，为而有必要在每一测盘位置上收儿个该数，要益层序度的局部差别可能也要求在任一给定的面职上进行多次测量，表面相樊时更是如此。6.6表面清洁应
测量前，应除去试样表面上的任何外来物所，如灰尘、油脂和腐蚀产物等，但不能除去任间覆益层村料。
7准确度要求
仪器及其校准和操作应使覆益层厚度能测准对文实序度的10%以内。如采测量小于5产m的覆益层序度，推孝取几次读数的平均值。覆益层厚度小于3Ⅱ时，可能达不到这样的准确度。为了评估接近迎荣的效皮，叫采川种构单的决类落应检查女法，即一个于净的用基格金两前各的无益定的试样按如下方云透行操作，将剂头放置在试样上充分5商边象处，将将仅据图至于点将测头连游划逐移动，范高收靠试效发生亚化时测头的位，半空业共均效象的距，慢邮滤实到过穿的距离较上连测得的电地，刚可能人川夜难而直接使用仪器，如乘测头养近也缘他用，则仅器项作专门的校准。如有多要，费考制连市的说组书，
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