本标准规定了每一个用于提供接口槽或表面卡耦合装置(CCDs)和ID-1型的无触点集成电路卡(CICCs)的耦合区域的尺寸、位置、属性和作用。本标准没有规定：CICC上的偶合件的尺寸、位置和作用；CICD上的耦合件的尺寸、位置和作用；产生耦合域的方法。本标准与GB/T 17553.0相结合起来加以使用。附录A示出了用于将域位置与CICC联系起来的X轴与Y轴上的尺寸。附录B示出了在CICC和CCD上都有的耦合件的例子。本标准用到的尺寸均以名词示出并用毫米表示；图示没有按比例示出。 GB/T 17553.2-2000 识别卡 无触点集成电路卡 第2部分：耦合区域的尺寸和位置 GB/T17553.2-2000 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS35.240.15
中华人民共和国国家标准
GB/T17553.2—2000
idtIS0/IEC10536-2：1995
识别卡无触点集成电路卡
第2部分：耦合区域的尺寸和位置Identification cards-Contactless integrated circuit(s) cards-Part 2:Dimensions and location of coupling areas2000-10-17发布
2001-10-01实施
国家质量技术监督局
GB/T17553.2—2000
本标准等同采用国际标准ISO/IEC10536-2：1995《识别卡无触点集成电路卡第2部分：耦合区域的尺寸和位置》。
GB/T17553在总标题《识别卡
无触点集成电路卡》下，包括下述部分：一第1部分：物理特性；
一第2部分：耦合区域的尺寸和位置；一第3部分：电信号和复位规程。本标准的附录A、附录B是提示的附录。本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由信息产业部电子工业标准化研究所归口。本标准起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所。本标准主要起草人：金倩、陈云峰、黄家英、王爱英。GB/T17553.2—2000
ISO/IEC前言
ISO（国际标准化组织）和IEC（国际电工委员会）建立了世界范围标准化的专门系统。ISO或IEC的国家成员团体通过国际组织建立的各个技术委员会参与制定针对特定技术领域的国际标准。ISO和IEC技术委员会在共同感兴趣的领域合作。其他与ISO和IEC有联系的官方和非官方的各国际组织也参与此项工作。
在信息技术领域，ISO和IEC建立了一个联合技术委员会，即ISO/IECJTC1。由联合技术委员会提出的国际标准草案需分发给各成员团体进行表决。作为国际标准发布至少需要75%的成员团体投票赞成。bzxz.net
国际标准ISO/IEC10536-2由联合技术委员会ISO/IECJTC1（信息技术）的分委员会SC17（识别卡及相关设备)制定。
ISO/IEC10536在总标题《识别卡无触点集成电路卡》下，包括下述部分：一第1部分：物理特性；
一第2部分：耦合区域的尺寸和位置；一第3部分：电信号和复位规程。附录A、附录B仅提供参考信息。中华人民共和国国家标准
识别卡无触点集成电路卡
第2部分：耦合区域的尺寸和位置Identification cards-Contactless integrated circuit(s) cardsPart 2:Dimensions and location of coupling areas1范围
GB/T17553.2—2000
idtIS0/IEC10536-2:1995
本标准规定了每一个用于提供接口槽或表面卡耦合装置（CCDs）和ID-1型的无触点集成电路卡(CICCs）的耦合区域的尺寸、位置、属性和作用。本标准没有规定：
CICC上的耦合元件的尺寸、位置和作用；CCD上的耦合元件的尺寸、位置和作用；产生耦合域的方法。
本标准与GB/T17553.1相结合起来加以使用。附录A示出了用于将域位置与CICC联系起来的X轴与Y轴上的尺寸。附录B示出了在CICC和CCD上都有的耦合元件的例子。本标准用到的尺寸均以名词示出并用毫米表示：图示没有按比例示出。注：以各种距离操作的其他类型CICC，其格式或接口可以在将来进行开发，他们可以要求对本标准进行补充，或要求制定其他国际标准。
2引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T14916—1994识别卡物理特性（idtISO7810：1985）GB/T17553.1—1998识别卡无触点集成电路卡第1部分：物理特性（idtISO/EC10536-1：1992)
3定义、缩略语和符号
3.1定义
GB/T17553.1中给出的定义和下列定义适用于本标准：3.1.1电感耦合区域inductivecouplingarea使电感耦合元件工作的磁通量集中的区域。3.1.2电容耦合区域capacitivecouplingarea在CICC和CCD之间电容耦合可以发生的区域。3.2缩略语
3.2.1CICC
国家质量技术监督局2000-10-17批准2001-10-01实施
GB/T17553.2—2000
如GB/T17553.1中所定义的无触点集成电路卡。3.2.2CCD
如GB/T17553.1中所定义的卡耦合装置。3.3符号
3.3.1ID-1
如GB/T14916中所定义。
如附录A中所定义。
如附录A中所定义。
4耦合区域的尺寸
4.1电感耦合区域
每一区域的尺寸应如图1所示(单位为mm）。11.00
4.2电容耦合区域
每一区域的尺寸应如图2所示(单位为mm)。9. 00
5耦合区域的数量和位置
本标准规定了8个耦合区域，其尺寸如图1和图2所示，其中4个是图1和图3中所示的H1到H4尺寸的电感耦合区域，另外4个是电容耦合区域，其尺寸如图2和图4中E1到E4所示。CICC不必使用所示的所有耦合区域。CCD应能使用所示的所有耦合区域。这些耦合区域的使用将在GB/T17553.3中规定。
5.1电感耦合区域的位置
四个电感耦合区域的中心位置如图3所示（单位为mm）。2
电容耦合区域的位置
GB/T17553.2—2000
四个电容耦合区域的中心位置如图4所示（单位为mm）。59.30
26. 30—
GB/T17553.2—2000
附录A
（提示的附录）
X轴和Y轴上的尺寸-
本附录叙述了用于cICC区域位置的轴。一测量方法
构造两条正交参照轴X和Y，在0点相交。在轴上标出三个参照点：P2、P3在X轴上，离O点分别为11.25mm和71.25mm，P1在Y轴上，离0点为27.00mm。放置卡，使卡的顶边接触点P2和P3，左边接触P1（见图A1)。
附录B
（提示的附录）
CICC和CCD上耦合元件的举例
耦合元件的例子和选项在图B1和图B2中示出。耦合元件定义为：CCD或CICC上的物理结构，它能产生或与外来电场或磁场发生作用。关键字
1—耦合线圈1，
2—耦合线圈2；
3—触点（表面）(7816-2)；
4—CICC电容器片；
GB/T17553.2—2000
CICC上糊合元件的举例
CCD,上耦合元件的举例
5一线圈和U型芯1；
6一线圈和U型芯2；
7—CCD电容器片；
磁条区的
位置的男限
凸或可离光区域
的位造的界限
8一置于CCD时CICC的轮廊。当放在这一轮廊范围内时CICC有四个可能的方向
1这一例子不排除远距离耦合所使用的大线圈。2CICC并不一定要包括所示出的所有耦合元件。图B1CICC和CCD上的耦合元件的举例5
GB/T17553.2—2000
带有一个线围的CICC
带有两个线图的CICC
帮有一个大线图的CICC
图B2CICC上耦合元件选项的举例带有一个线图和四个
电容器片的CICC
在两线圈和四～
电容器片的CICC
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