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GB/T 17723-1999

基本信息

标准号: GB/T 17723-1999

中文名称:黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:已作废

发布日期:1999-04-01

实施日期:1999-01-02

作废日期:2009-05-01

出版语种:简体中文

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标准分类号

标准ICS号:成像技术>>37.020光学设备

中标分类号:仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器

关联标准

替代情况:被GB/T 17362-2008代替

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066.1-15976

页数:平装16开, 页数:7, 字数:10千字

标准价格:8.0 元

出版日期:2004-04-16

相关单位信息

首发日期:1999-04-11

复审日期:2004-10-14

起草单位:北京有色金属研究总院

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

发布部门:国家质量技术监督局

主管部门:国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。 GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法 GB/T17723-1999 标准下载解压密码:www.bzxz.net