基本信息

标准号： GB/T 14031-1992

中文名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

标准类别：国家标准(GB)

标准状态：现行

发布日期：1992-01-02

实施日期：1993-08-01

出版语种：简体中文

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标准分类号

标准ICS号：电子学>>31.200集成电路、微电子学

中标分类号：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

关联标准

出版信息

出版社：中国标准出版社

书号：155066.1-9732

页数：平装16开， 页数：17， 字数：30千字

标准价格：13.0 元

出版日期：2004-08-13

相关单位信息

首发日期：1992-12-17

复审日期：2004-10-14

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准简介