本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。 GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 GB/T12843-1991 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
General principle oft measuring rnethodsof microprocesgors and peripheral interface circuits' parametersfor semiconductor Integrated clrcults主题内容与适用范围
GB/T 12843—91
本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路（以下简称器件）电参数测试方法的基本原理。
本标准适用于器件电参数的测试。2引用标准
SI/7.9015.2(TE:748-2）半导体器件集成电路第2部分数字集成电路3总要求
3.1兴无特殊说明，测试期问，环境或参考点溢度偏离规定值的范围，应符合器件详细规范的规定。3.2測试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响；测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定
3.3测试期间施丁被测器件的电源电压,应在规定值的士1%以内;施于被测器件的其他电参量的精度，应符合器件详细规范的规定。3.4被测器件与测试系统连接与断开时，不应超过器件的使用极限条件。3.5测试期问，测试设备或操作者应避免因静电感应而引起器件失效。4静态参数测试
4.1输人高电平电流7m
4. 1.1月的
本方法是用米测试输人端施加规定的高电平时，流入该端的电流。4-1.2测试原理图
国家技术监督局1991-04-28批准1991-12-01实施
4.1.3测试条件
GB/T12843—91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定，环境温度TA
电源电压Vop；
输入高电平电压Vm，输入低电平电压Vn:輪出端条件。
4.1.4测试程序
4.1.4.1在器件详细规范规定的环境温度T、下,将被测器件接入测试系统中。4:1.4.2电源电压V调到器件详细舰范规定的电压值。多
4.1.4.3被测输入端施加器件详细规范规定的输入高电平电压Vi其余输入端施加器件详细规范规定的输入低电平电压 Vl.：
4.1.4.4：输出端接器件详细规拖的规定4.1.4.5在被测输入端测得输入商电平电流u。4.1.4.6按本标准4.1.4.3～4.1.4.5条的规定，分别测试每个输入端。4.2输人低电平电流m此内容来自标准下载网
4.2.1日的
本方法尽用来测试输入端施加规定的低电平吋，流出该端的电流。4.2.2测试原理图
4. 2. 3 测试条件
GB/T 12843—91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度
b.电源电压Voni
输入高电平电压V，输入低电平电压V：d.
输出端条件：
4.2.4测试程序
4. 2. 4. 1
、器件详细规范规定的环境蕴度T，下，挤被测器件接人测试系统中。4. 2. 4. 2
电源电压调到器件详细规范规定的电压值，输
4.2.4.3被测输人端施加器件详细规范规定的输人低电平电压VL,其余输入端施加器件详细规范规定的输入高电平电压 Vima
输出端按器件详细规范的规定。4. 2. 4. 4
4.2.4.5在被测输入端测得输入低电平电流Im。4.2.4.6按本标准4.2.4.3～4.2. 4.5条的规定,分别测试每个输人端。4.3输出高阻态时高电平电流 lux4. 3. 1目的
本方法是用来测试在输入端施加规定的电压使输出为高阻态的情况下，输出端施加规定的高电平电压Vn时的输出电流。
4.3.2测试原理图
4. 3. 3测试条件
GB/T 12843--91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度Ta
b.电源电压Vop:
c.输入端逻辑电乎：
d输出高电平电压Von。
4.3.4测试程序
4. 3. 4. 1
4. 3. 4. 2
在器件详细规范规定的环境温度T。下，将被测器件接人测试系统中。电源电压V调到器件详细规范规定的电压值。4.3.4.3输人端施加器件详细规范规定的逻辑电平，使被测输出端为高阻态，VoH
4.3.4. 4被测输出施加器件详细规范规定的高电平电压Va，其余输出端按器件详细规范的规定。4.3.4.5在被测输出端测得输出高阻态时高电平电流Iozm4.3.4.6按本标准4.3.4.3~4.3.4.5条的规定分别测试相应输出端。4.4输出高阻态时低电乎电流1ozL4. 4. 1目的
方法是用来测试在输入端旅加规定的电压使输出为高随态的情况下，输出端施加规定的低电平电压Vo时的输出电流。
4.4.2测试原理图
4. 4. 3 测试条件
GB/T12843—91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA：
电源电压：
输入端逻辑电下
输出低电平电压VoL
测试筐序
4. 4 4. 1
4. 4. 4. 2
在器件详细规范规定的环境温度T,下，将被测器件接入测试系统中。电源电压V品调到器件详细规范规定的电压值。4.4.4.3输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平,使被测输出端为高阻态，被测输出端施加器件详细规范规定的低电平电压V孔,其余输出端按器件详细规范的规定。4. 4. 4.4
5在被测输出端测得高阻念时低电平电流1ozl。4. 4. 4. 5
4.4.4.6按本标准4.4.4.3~4.4.4.5条的规定，分别测试相应输出端，4.5I作状态时电源电流Tp
4. 5.1甘的
本力法是用来测试在规定的条件下使器件为工作状态时流过电源端的电流。4.5.2测试原理图
4.5.3测试条件
GB/T12843—91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压Vm>：
输入网络条件和输出网络条件；d、工作频率。
4.5.4测试程序
4.5.4.1在器件详细规范规定的环境温度T，下,将被测器件接入测试系统中。4.5.4.2电源电压V%调到器件详细规范规定的电压值。4.5.4.3输入端条件、输出端条件以及工作频率按器件详细规范的规定，使被测器件执行规定的功能操作。
4.5.4.4在电源端测得工作状态时电源电流fom，4.6输出高电平电压Von
4.6.1目的
本方法是用米测试在输入端施规定的电压使输出端为逻辑高电平时的输出电压。4.6.2测试原理图
4.6.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。9.
环境温度TA：
电源电压V
输入端避辑电；
输出端负载。
4.6.4测试程序
GB/T 12843—91
4.6.4.1在器件详细规范规定的环境温度T。下，将被测器件接入测试系统中。4.6.4.2电源电压V调到器件详细规范规定独电压估。4.6.4.3输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。4.6.4.4被测输出端施加器件详细规范规定的负载。4.6.4.5在被测输出端测得输出高电平电压VuH4.6.4.6按本标准4.6.1.3~-4.6.4.5条的规定，分别测试有关输出端，4.7输出低电平电1oE
4.7. 1月的
本方法是川来测试性输入端施加规定的电压使输出端为逻辑低电平时的输出电压。4.7.2测试原理图
4.7.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度T&；
电源电压p
输入端逻辑电平；
d．输出端负载。
4.7.4测试程序
4.7.4.1在器件详细规范规定的环境温度T。下，将被测器件接入测试系统中。4.7.4.2电源电压Vou调到器件详细规范规定的电压值。4.7.4.3输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。4.7.4.4被测输出端施加器件详细规范规定的负载。在被测输出端测得输出低电平电压e，4. 7. 4. 5
4.7.4.6按本标准4.7.4.3~~4.7.1.5条的规定，分别测试有关输出端编
5动态参数测试
5.1输入电容C,
5.1.1目的
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本方法是用来测试输入端对地之间的电容。5.1.2测试原理图
5.1.3测试条件
测试期问，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a：环境温度Ta
电源电压Im
输入网络条件：
输出网络条件：
偏置网络条件：
测试频率。
测试群序
5. 1. 4. 1
5. 1. 4. 2
5. 1. 4. 3
在器件详细规范规定的环境温度T。下，将被测器件接入测试系统中。电源电压品调到器件详细规范规定的电压值。偏骨条件按器件详细规范规定。输出网络按器件详细规范的规定。5. 7. 4. 4
测试频率按器件详细规范规定。5. 1.4. 6测量输入端对地的电容C1。注：C在规定的测试频率下呈现低阴抗。②「在规定的测试频率下呈现高阻抗。5.2输出电容 Co
5. 2. 1H的
本方法是用米测试输出端对地的屯容。5.2.2测试原理图
5.2.3测试条件
GB/T 12843—91
测试期闻、下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA+
电源电压Vopi
输入网络条件；
输出网络条件：
偏置网络条件；
测试频率。
测试步骤
5. 2. 4. 1
在器件详细规范规定的环境温度T，下，将被测器件接人测试系统中。电源电压V%调到器件详细规范规定的电压值。编置条件按器件详细规范规定。5.2.4.4输入网络按器件详细规范规定。5.2.4.5测试频率按器件详细规范规定。5.2.4.6测量输出端对地的电容Co。注()心在现定的测试频率下呈低屈抗。() 1. 在规定的测试频率下呈高阻抗。5.3数据输出延迟时间tD(0)
5.3.1H的
本方法是用来测试器件在执行规定的功能操作时，数据端输出相对于规定输入时钟的延迟时间。5.3.2测试原理图
5.3.3试条件
GB/T 12843-91
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定，E。环境溢度 Tx
电源电
输入高电平电压 Vm,输入低电平电压 ViL:d.输出高电乎电压V,输出低电平电压Var.,e.
输入脉冲条件：
幅度：
宽度；
上升时间：
下降时间；
重复频率。
f、不同脉冲之间的柏互关系，
输入网络、输出网络、输出负载网络。5. 3. 4测试步骤
5.3.4.1在器件详细规范规定的环境温度T.下，将被测器件接入测试系统中。5.3.4.2电源电压Vu调到器件详细规范规定的电压值。5.3.4.3入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。输出端施如器件详细规范规定的负载。5.3.4.4
启动测试系统，被测器件执行舰定的功能。5. 3. 4. 5
5.3.4.6.观测数据端输出相对于规定输入时钟的延迟时间t(m)5.4地址输出延迟时间tt
5.4..1日的
GB/T 12843-91
本方法是用来测试器件在执行规定的功能操作时，地址端输出相对于规定输入时钟的延迟时间，5. 4. 2测试原理图
5.4.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度T；
电源电压Voo：
输入高电平电压Yu:输入低电平电压VL:输出高电平电压Von输出低电平电压Vor;输入脉冲条件：
幅度：
宽度：
上升时间；
下降时问：
重复频率。
不同脉冲之间的相互关系；
输人网络、输出网络、输出负载网络。测试程序
5. 4. 4. 1
5. 4. 4.2
在器件详细规范规定的环境温度T。下，将被测器件接入测试系统中。电源电压/品调到器件详细规范规定的电压值。5.4.4.3输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。5.4.4.4输出端施加器件详细规范规定的负载。5.4.4.5启动测试系统，被测器件执行规定的功能。5.4.4.6观测地址端输出相对于规定输入时钟的延退时间4>6功能测试
6.1微处理器及外周接口电路的功能是指器件详细规范中所规定的全部操作翰
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6.2功能测试所使用的测试图您的生成方法以及所使用的测试设备，艺符合器件详细规范的规定。附加说明：
本标推由全国集巢成电路标准化分技术委员会提出。本标准由机械电了工业部北京机械工业自动化研究所、电广标准化研究所负责起草。本标准主要起草人徐永康、高、张宏图。
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