本标准适用于无焊压接连接，其连接导线的绞合导体或实心导线以及适当设计的未绝缘压接筒或预绝缘压接筒的无焊压接连接。这种连接用于通信设备和采用类似技术的电子设备中。 GB/T 18290.2-2000 无焊连接 第2部分:无焊压接连接 一般要求、试验方法和使用导则 GB/T18290.2-2000 标准下载解压密码：www.bzxz.net

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第2部分：无焊压接连接
本标准等同采用IEC60352-2：1990《无焊连接使用导则》和IEC60352-2的修订本1(1996年)。本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国电子设备机电元件标准化技术委员会归口。本标准由信息产业部电子工业标准化研究所负责起草。本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙。本标准为首次发布。
一般要求、试验方法和
GB/T18290.2—2000
IEC前言
1）EC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会认可。
3）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEd标准。EC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。4)IEC未制定使用认可标志的任何程序，当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。WwwWbzw.cb
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GB/T18290.2—2000
IEC引言
本标准由IEC/TC48(电子设备用机电元件）制定的。本标准与EC60512《电子设备用机电元件基本试验规程和测量方法》一同使用。本标准文本以下列文件为依据：六个月法则
48(C.0.)301
表决报告
48(C.0.)304
表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。引用标准，
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修定，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T42101984电子设备用机电元件名词术语（eqVIEC50-581：1978）GB/T5095.1—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分：总则(idtIEC60512-1:1994)
GB/T5095.2一1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测量、绝缘试验和电压应力试验(idtIEC60512-2：1994）GB/T5095.5—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分：撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验(idtIEC60512-5:1992)
GB/T5095.6—1997
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分，气候试验和锡焊试验(idtIEC60512-6：1984)GB/T5095.8—1997
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第8部分：连接器、接触件及引出端的机械试验（idtIEC60512-8：1993)GB/T5095.9—1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分：杂项试验(idtIEC60512-9.1992)
GB/T5095.11—1997
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分：气候试验(idtIEC60512-11:1995)
IEC60068-1：1988环境试验第1部分：总则和导则IEC60130-7：1971频率低于3MHz的连接器第7部分：卡口和推拉连接的多接触件圆形连接器IEC60189-3.1988
PVC绝缘和PVC护套的低频电缆和导线第3部分：单芯、双芯和三芯的PVC绝缘的实心或绞合导体的装置导线IEC60203:1966
5车制的压接接触件压接区域的尺寸IEC60673.1980
实心或绞合导体的低频细装置线修订3（1989）
ISO6507/1:1982
2金属材料硬度试验维氏硬度试验第1部分：HV5至HV100采用说明：
1本部分标准已转化成我国相应的国家标准。1
中华人民共和国国家标准
无焊连接第2部分：无焊压接连接一般要求，、试验方法和使用导则Solderless connections-
Part 2: Solderless crimped connections-Generalrequirements,test methods and practical guidanceAO
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idtIEC60352-2:1996
本标准规定了无焊压接的一般要求、试验方法和使用导则。本标准规定了两个试验一览表：a）基本试验一览表适用于符合第二篇中全部要求的无焊压接连接b）完全试验一览表：适用于不完全符合第二篇中全部要求的无焊压接连接，例如：与实心导线不同的材料等的连接。
第一篇总
1范围
本标准适用于无焊压接连接，其连接导线的绞合导体（横截面积为0.05mm2至10mm）或实心导线（直径为0.25mm至3.6mm）以及适当设计的未绝缘压接筒或预绝缘压接筒的无焊压接连接。这种连接用通信设备和采用类似技术的电子设备中。为七在规定的环境条件下获得稳定的电气连接，除了试验程序外，本标准还规定了从工业使用实际出发的十些经验数据资料。
注：本标准不适用于同轴电缆压接。2目的
确定无焊压接连接在规定的机械、电气和夫气条件下的适用性当用来连接的工具的设计或加工不同时，提供一种试验结果可比的方法。5
适用于本标准的术语租定文规定在GBD/T4210中。6BT5095中也规定子定义。
对本标准而言，规定了下面附加的术语和定义。3.1压接筒crimpbarrel
设计适配一根或多根导线的导线简，并采用压接工具进行压接连接。3.2开式压接筒opencrimpbarrel压接前为散开式的压接简，如U型或V型，如图1所示。国家质量技术监督局2000-12-28批准些适用的术语和
2001-07-01实施
3.3闭式压接筒closedcrimpbarrelGB/T18290.2—2000
。绝续篇变
压接前为封闭式压接筒，如图2所示。车删的压妾蘭
3.4预绝缘压接筒
焊制的压接简
pre-insulated crimp barrel
冲制/卷制的压接简
具有永久固紧的绝缘层的压接筒，并且通过该绝缘层进行压接，如图3所示。长接简绝缘查
给蜂支撑套
压拨衡
3.5压接区域crimpingzone
压接筒的一部分，在此处施加压力使包围导线的筒产生变形或改变形状达到压接连接，如图4所示。压接简带绝缘紧套时，用压接工具施加压力使之变形固紧导线绝缘层，如图4c所示。压接区域
闭式压接简
绝续紧套
开式压接简
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绝嫁套的儿接区域
绝缘紧奕
图4（完）
压接模（简称压模）
crimpingdie
压接工具形成压接的那部分，通常采用压接砧座、压头和定位件。交合导线
注：为了挤压绝缘紧套（如适用)，压模可以有单独的或与压接筒的压模合为一体的。型号
不适用。
第二篇要
5加工质量
应按照通常切实可行的方法采用精细和熟练的方式加工连接产品。6工具
应按照工具制造厂提供的说明书来使用和检验压接工具。压接工具在整个使用寿命期间应能进行稳定可靠的压接连接压接工具应配有相适应的压模。压模可调节时，应具有适应于压接筒的正确调节的装置手勃压接工具应具有全周期压接机构。自勃压接工具应具有全周期压接机构或等效的安全装置。这些机构应能正确的设置，并单应能保持所进行的设署
工具应根据对压接连接的试验结果来进行评定。7压接筒
压接筒应由铜或铜合金（铜含量至少为60%）制成。按ISO6507/1进行试验时，维氏硬度应不超过220HV5。7.2尺寸
尺寸应适合于本标准第8章中规定的合适绞合导线。注：压接筒的尺寸和导线导体的横截面积之间的关系，见15.4。7.3表面涂覆层
压接筒可不电镀或电镀锡、锡一铅、银、金或钯。表面应无污染或腐蚀。
7.4结构特性
压接筒的结构应能在对剥去绝缘层的导体的部位加压力产生变形或改变形状时达到压接连接。注：本标准没有规定压接简刺穿导线绝缘层达到连接的技术。3
应采用下列压接筒的型别：
一未绝缘的开式压接简；
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一未绝缘或预绝缘的闭式压接简。压接简应无损伤导体之类的锐边。8导线
应采用绞合导线。
8.1材料
应采用退火铜，其断裂伸长率不小于10%。8.2尺寸
绞合导体的横截面积应在0.05mm2至10mm。注：压接筒的尺寸与导线导体的横截面积之间的关系，见15.4。8.3表面涂覆层
采用未电镀导体或镀锡、锡铅或者银的导体。表面应无污染或腐蚀。
8.4绝缘层
绝缘层应能很容易从导线的导体上剥离，而不会改变导线或绞合导线的物理特性。9压接连接
a）工具、压接筒和导线的组合应相适应；b）压接筒配备有绝缘支撑套或绝缘紧套时，绝缘导线外径应能与绝缘支撑套或绝缘紧套的尺寸匹配；
c）导线的剥离长度应正确，剥离的绞合线应无损伤，例如个别断裂或完全断裂；导线剥离部分应清洁，并且应无绝缘微粒多股线的抢扭应正确。如果导线的捻扭已扰乱，可以轻微抢扭一下使其恢复；
d）导线在压接筒的位置应正确，即有正确的深度。这可按下述方法检查：1）具有检查结构的开式压接筒或闭式压接简中，应采用目视检查；2）在无检查结构（如检查孔)的闭式压接简中，应进行测量以确定深度是否正确（间接测量压接简的允许插入深度；导线剥离长度以及压接筒端部与导线绝缘层起始点之间的距离）。绞合线的所有股线应在压接简内，并且应无损伤；e）压接筒具有绝缘支撑套或绝缘紧套时，绝缘层应正确位于支撑套或紧套内。第三篇试验
10试验
10.1概述
按引言中说明，适用于下列条件的有两个试验一览表：一符合第二篇中所有要求的压接连接应按12.2的基本试验一览表进行试验并满足其要求；一不完全符合第二篇中所有要求（例如，压接所用的不同实心导线，不同材料等)应按12.3的完全试验一览表进行试验并满足其要求。10.2试验的标准条件
除非另有规定，所有试验应在GB/T5095.1中规定的试验的标准条件下进行。在试验报告中应注明测试时的环境温度和相对湿度。4
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对试验结果有争议时，应采用IEC60068-1的仲裁条件之一进行重复试验。10.3预处理
在规定时，按照GB/T5095.1规定，连接产品应在试验的标准条件下预处理，历时24h。10.4试验样品安装
在试验中要求安装时，除非另有规定，试验样品应采用正常安装方法进行安装。11型式试验
一般检查
应按GB/T5095.1中试验1a和试验1b进行。外观检查可用约为5倍放大镜进行检查。所有压接连接应进行外观检查，以确定是否符合7至9的有关要求。11.2机械试验
注：一根以上导线的压接，见17.2。11.2.1V抗张强度
应按GB/T5095.8中试验16d进行试验。TACO
压接筒(端子)制造厂另有规定外，抗张强度的最低值应符合图5所示。图5中的导体横截面是由绞合线每股的名义直径和股数进行计算的。1000-
曲线A：闭式压接筒的最低值；
1. 0 1. 52.54. 0 6. 010. n
导体横载面,mem 2
曲线B：开式压接筒或预绝缘压接筒的最低值。图5压接连接抗张强度
11.2.2绝缘紧套有效性
应按GB/T5095.8中试验16h进行试验。5
缠绕周期数：2。
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施加的张力：使导线进入接触件处贴于心轴上的最低张力。11.3电气试验
注：一根以上的导线压接，见17.2。11.3.1接触电阻
应按GB/T5095.2中试验2a或2b进行试验（按相关规范规定）。合适的试验装置线路如图6所示。连接点
有绝缘货套的
闭式压接简
闭式压接筛
有绝缘紧套的
开式压接简
开式压接
去谢层处
式中：R。=压接连接的接触电阻，Q，RBD=连接点B和D之间测得的电阻，QR100=100mm导线(DE)测得的电阻，Q;100×B100
r=压接简尾端和连接点D之间的距离，mm。注：距离，推荐为25mm至100mm。图6
接触点B尽可能靠近压接筒中导线的端头，但是，在开式压接筒中不要触到导线端头。为了达到试验结果的可信性和重现性，在连接点处对所有绞合线需要有良好的接触。离压接连接的安全距离的D点，可以采用任何方法确保对绞合线的所有股数有良好的接触。应采用合适的试验装置保证对所有连接点有良好的接触。试验装置应保证所有连接点应固定在预先端接的固定距离不变。在采用试验探针时，为了避免损伤绞合线，探针头应为圆头。在采用试验2b时，试验电流应为1安培每平方毫米导线横截面积（即1A/mm）。为了防止试验样品发热，施加试验电流的时间应尽可能短。6
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0.060. 060. 130. 2 0.28
0.6 0.751.01.52.54.06.010.0
导体截面,mm2
曲线A：初始接触电阻最大值。
曲线B：电气或气候试验后，阻值的最大变化值注：铜质压接筒的压接连接的接触电阻R。和铜导体(K=1)。图7
图7中的横截面是由绞合线每股的名算的。
图中初始接触电阻最大值（曲线A)和电阻最大变化值（曲线B)仅适用于符合第7章中的压接筒进行压接的连接，而导体符合第8章中的规定，式中K=1。压接筒的材料非铜质时，曲线A和曲线B的值乘以K，其K值为：K
表中列举了其他材料的K值：
退火铜，100.0Cu
铜锌合金(黄铜)
70.0Cu,30.0Zn
铜锡合金(青铜)
94.0Cu,6.0Sn
铜镍锌合金(锌白铜)
61.0Cu,18.0Ni,21.0Zn
特种铜合金：
铜铍合金
(98.1Cu,1.9Be)
硅铜(97.5Cu,1.9Ni0.6St）
材料电阻率
铜的电阻率
电阻率
Qmm2/m
0.030~0.061
0.083~0.15
0.19~0.31
4.83~8.72
11.05~18.02
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条件试验后接触电阻所允许的最大值等于测得的最初值加上图7曲线B给出并用K修正的最大允许变化值(如适用)。
注：详细的资料可见正C60189-3和EC60673及修改1和2。11.3.2耐电压（预绝缘压接简的压接连接）应按GB/T5095.2中试验4c进行试验。耐电压值1500Vt.m.S。，4560Hz。11.4气候试验
除非另有规定，在下列试验中应采用上限类别温度（UCT）和下限类别温度（LCT）：UCT：125℃
LCT：-55℃
11.4.1温度快速变化
应按GB/T5095.6中试验11d进行试验。应采用下列细则：低温：TALCT
高温：TUCT
暴露时间：ti30min
循环次数：5
该试验不检查导线绝缘特性或预绝缘压接筒的绝缘特性。11.4.2高温
应按GB/T5095.6中试验11i进行试验。应采用下列细则：试验温度：UCT
试验时间：96h
本试验不检查导线绝缘特性。
11.4.3气候序列
应按GB/T5095.11中试验11a进行试验。应采用下列细则：高温
试验温度：UCT
循环湿热
上限试验温度：55℃
循环次数：6
降低温度方式：1或2
试验温度：LCT
本试验不检查导线的绝缘特性或预绝缘压接筒的绝缘特性。11.4.4循环电流负载
应按GB/T5095.5中试验9e进行试验。应采用D型试验样品进行试验（见12.1.4）。除详细规范另有规定，试验样品应串联，以便同时对所有试验样品加上电流负载。如果采用串联并且结构充许，可以用两个端头连接的试验样品。在这种情况下，两试验样品之间的导线长度约为200mm。为了避免散热，试验样品的环线在导线处应固定并且用热导率低的绝缘材料作为固定装置。端头重量大到需要另外支撑时，也可采用热导率低的绝缘材料支撑装置。注：压接连接试验样品构成零件整体的一部分时，要注意零件对试验结果的影响（例如散热作用）。在图8和EC60760中给出下列示例：8
固定装益
有出园
固定装查
多接触件元件
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约200nm
a有接头的压接筒
b有插合端的接触件的压接筒
无压接接触件
压接连接
阴按触件
阳接触件
医接连接
有压接接触件部分
（如板装连接器）部分
心多接触件零件的压接连接
图中给出了施加的试验电流。
图9中的横截面是由绞合线每股的标称直径和股数进行计算的。图9中的试验电流仅适用于符合第7章中的压接简，符合第8章中规定的导体。试验严酷度：20或500次循环。
注：有关导线的详细资料见正C60189-3和正C60673及修改1和2。11.45低温压接（预绝缘压接简的压接连接）为准备低温试验所要求的压接连接试验样品数量的全部零件：压接简和导线（与12.1.5中E型试验样品相关)以及压接工具等应在低温（一15土2)℃中历时2h。所有零件保持在该温度下制成所要求的试验样品数量。然后，试验样品在该温度下保持1h。试验后，允许试验样品在试验的标准条件下恢复1h至2h。注：上述试验方法，只要正C60512中已包括此方法，应可用正C60512中的方法替代。11.5其他试验
11.5.1预绝缘压接筒耐液体
如果要求本试验，应按GB/T5095.9中试验19a进行试验。仅用清洁液体进行试验，液体和温度应由详细规范规定。耐电压：1500Vr.m.S.，45~60Hz。9
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