本部分旨在规定测量随机配接的光连接器的衰减的统计分布和平均值所要求的程序，本部分术语“衰减”也可称为“插入损耗”。 GB/T 18311.34-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分：检查和测量-随机配接连接器的衰减 GB/T18311.34-2003 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS 33.180.20
中华人民共和国国家标准
GB/T18311.34-2003/IEC61300-3-34:2001纤维光学互连器件和无源器件
基本试验和测量程序
第3-34部分：检查和测量
随机配接连接器的衰减
Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-34 : Examinations and measurements-Attenuation of random mated connectors(IEC 61300-3-34:2001,IDT)
2003-11-24发布
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2004-08-01实施
GB/T 18311.34---2003/IEC 61300-3-34:2001前言
本部分为GB/T18311的第34部分，并隶属于GB/T18309.1一2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分：总则和导则》。本部分等同采用IEC61300-3-34:2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-34部分：检查和测量随机配接连接器的衰减》（英文版）。为便于使用，对于IEC61300-3-34:2001还作了下列编辑性修改：删除IEC61300-3-34：2001的前言。《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序》是系列国家标准，下面列出了这些国家标准的预计结构及其对应的IEC标准：a）GB/T18309.1一2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分：总则和导则》(idtIEC61300-1：1995）。GB/T18310《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2部分：试验》b)
GB/T18310.1--2002《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-1部分：试验振动（正弦）》（IEC61300-2-1：1995，IDT)基本试验和测量程序
GB/T18310.2一2001《纤维光学互连器件和无源器件分：试验配接耐久性》（idtIEC61300-2-2：1995）-GB/T18310.3一2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序分：试验静态剪切力》（idtIEC61300-2-3：1995）—GB/T18310.4—2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序分：试验光纤/光缆保持力》（idtIEC61300-2-4：1995）第2-2部
第2-3部
第2-4部
c）GB/T18311《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3部分：检查和测量》GB/T18311.1一2003《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分：检查和测量外观检查》IEC61300-3-1：1995，IDT）GB/T18311.2--2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分：检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性》（idtIEC61300-3-2：1995）GB/T18311.3一2001《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-3部分：检查和测量监测衰减和回波损耗变化（多路）》（idtIEC61300-3-3：1997）GB/T18311.4一2003《纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4部分：检查和测量衰减》（IEC61300-3-4:2001,IDT）本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口。本部分起草单位：上海传输线研究所。本部分主要起草人：樊鹤峰、汤钩、程方茂、马磊、怀向芳、王锐臻。I
1范围
GB/T18311.34--2003/IEC61300-3-34;2001纤维光学互连器件和无源器件
基本试验和测量程序
第3-34部分：检查和测量
随机配接连接器的衰减www.bzxz.net
本部分旨在规定测量随机配接的光连接器的衰减的统计分布和平均值所要求的程序，本部分术语“衰减”也可称为“插人损耗”。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T18311的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T18309.1一2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分：总则和导则(IEC61300-1:1995,IDT)
GB/T18311.1-2003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序·第3-1部分：检查和测量外观检查（IEC61300-3-1：1995,IDT）3概述
3.1试验方法
本程序规定了测量随机配接的光纤连接器衰减的两种方法。这两种方法都提供了从一个批次中选取的一一组跳线（如适用，包括适配器），用于光学系统时所期望平均性能的估计值。为了保证测量提供一个统计上没有误差的估计值，跳线和所有适配器必须随机抽取。方法1规定了基于使用10根跳线（20个光连接器）和10个适配器的测量程序。在这个方法中所有的插头按顺序被用作“基准”插头，并且所有剩下的插头相对于选择准插头进行测试。基于360次测量的结果见图3所示的试验矩阵。方法1旨在用于设计定型试验的一部分，可能包括一个或多个供货方。定型一旦通过，方法2取决于过程控制的维持。然而，有争议时，应以方法1作为基准测量方法。方法2规定了基于15根跳线的测量程序。选择的5根跳线作为基准跳线，每根基准跳线的个插头被指定为基准插头。剩下的10根跳线的所有插头都相对于5根基准插头进行测量，100次测量结果如图6所示的试验矩阵。考虑到对于用户或者生产成品的供货方，就每天的常规检测而言，方法1所要求的测量次数非常大。因而，基于以上的原因，方法2可以作为一种替代的选择。注：在本测量方法中，采用基准插头或基准跳线这些术语来定义那些从一批器件中随机选取的器件，相对于这些器件来进行比较测量。这不意味着这些基准插头或基准跳线对应的光器件是经过特别选取或特制的。3.2预防措施
如下的测试条件应该得到满足。3.2.1应采取预防措施保证包层模不影响测量，可通过光纤涂覆层的作用将包层模消除。1
GB/T 18311.34—2003/IEC 61300-3-34:20013.2.2应采取措施确保测试中光纤位置在测量P，和P期间保持固定，以避免由于弯曲损耗导致衰减变化。
3.2.3测试仪器的稳定性应不大于0.05dB或者所测衰减量的10%,两者中取较小者。应在整个测量期间和工作温度范围内保持稳定性。不管是多模还是单模，所要求的测量分辨率应为0.01dB。3.2.4为了获得一致性的结果，在测试之前应清洁和检查所有的连接器和适配器，并按GB/T18311.1-2003进行外观检查。
3.2.5光纤内的光功率应保持在不发生非线性散射效应的电平。4装置
4.1光源(S)
光源由一个光发射器、连接装置和相连电子线路组成。除符合稳定性和功率电平要求外，光源应有以下的特性：
中心波长：按性能和产品标准中的详细规定；谱宽：经滤光的LED不大于150nm（半最大值全宽，FWHM）；谱宽：LD小于10nm（半最大值全宽，FWHM）；对于多模光纤，应使用诸如LED的宽带光源；对于单模光纤，LED或LD都可以使用。注：一相干光源的模式干涉在多模光纤中会产生散斑图像。由于它们的特征时间长于检测器的分辨时间，这些散斑图像引起散斑或模式噪声以功率起伏的形式被观察到，因此在多模测试中采用相干光源可能达不到稳定的注人条件。所以,对于测量多模器件应避免采用包括 OTDR的光源在内的激光器,而使用 LED或其他非相于光源。
4.2注入条件（E）
除非另有规定，注人条件应符合GB/T18309.1--2001附录B的规定，注人条件应确保消除所有包层模并且达到-一种稳态模式分布。对于多模光纤，在相关规范要求有严格限制注人条件以达到稳态模式分布的场合，被试器件的注人条件应由表1给出。
表1严格限制的注入条件
光斑尺寸/μm
光纤尺寸/μm
注1：耦合功率比(CPR)值：士1dB。NA
注2：光斑尺寸和数值孔径的偏差应分别小于10%和5%。4.3检测器(D)
CPR/dB
1300nm
检測器由一个光检测器、连接装置和相连电子线路组成。检测器的连接件是一个适配器，它能插人一个合适结构的连接器插头。检测器应检测到所有经连接器插头出射的光。除符合稳定性和分辨率要求外，检测器应有如下的特性：线性度：多模不大于士0.25dB（-5dBm～一60dBm）；单模不大于±0.1 dB(一5 dBm～一60 dBm)。注：在工作波长处,功率计的线性度应以一23 dBm 的功率电平为基准。2
GB/T18311.34—2003/1EC61300-3-34:2001在测量P1和测量P2之间检测器的连接被断开情况下，测量的重复性应在0.05dB或所测衰减量的10%以内，取其中较小者，应采用个有大光敏面的检测器以达到这一要求。检测器的准确性应和测试要求相适应。在测量波长上光功率计的动态范围应能测量从被试器件出射的功率电平。
5程序
5.1方法1
5.1.1随机选取10根测试的跳线，按试验顺序标识被测插头，从1a到10b（例如：la一1b，2a—2b，3a—3b......10a--10b)。
5.1.2随机选取10个适配器，按顺序地从1到10标识适配器。5.1.3如图1所示，把跳线1a一1b接人测试系统，把插头1a作为基准插头，测量功率P1。基准跳线
图1基准跳线测量—
一方法1
5.1.4如图2所示，把被测跳线2a-—2b和适配器1接人系统并测量传输功率P2。5.1.5用公式（1)计算配对的连接器对1a/2a和适配器1的损耗值：插人损耗=「10lg(片
式中：
-(A XL)
（dB）
A—光纤每千米的衰减值，单位为分贝每千米(dB/km)；L一一光纤的长度,单位为千米(km)。D
.（1)
注：对于单模和多模跳线（50/125μm和62.5/125μm），当长度很短时，例如小于10m，乘积A×L可以忽略。5.1.6把插入损耗填人图3所示的试验矩阵。5.1.7采用适配器1反向连接跳线2a一2b并测量传输功率P2以得到配对1a/2b连接器对的插人损耗。
基准跳线
重复步骤5.1.6。
适配器1
2被测跳线测量
测试跳线
方法1
GB/T18311.34—2003/IEC61300-3-34:2001基准
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
转接座
平均值
最大值
标准偏差
平均值
统计结果
被测跳线
最大值
图3方法1的试验矩阵
标准偏差
保留插头1a和适配器1作为基准配置，用跳线3a一3b代替测试跳线2a一2b。5. 1. 10
测试。
测量传输功率P2。
重复步骤5.1.9和5.1.10直到剩下的测试跳线的所有插头都完成相对于基准插头1a的一旦完成步骤5.1.11,反向连接基准跳线使插头1b成为基准插头。5.1.13相对于基准插头1b和适配器1测量所有插头的插人损耗5.1.14
一旦完成步骤5.1.13，替换基准插头和适配器使插头2a和适配器2成为基准插头。相对于基准插头2a和适配器2测量所有测试插头的插人损耗。重复步骤5.1.12把插头2b标识为基准插头。GB/T18311.34—-2003/IEC61300-3-34:20015.1.17继续这个过程直到所有的插头都按顺序地被用作基准插头，并用那些剩下的插头和适配器与其配接测试。
5.1.18把衰减结果填入如图3所示的试验矩阵中。5.2方法2
5.2.1随机选取15根跳线和5个适配器用于测试。5.2.2在已选取的15根跳线中随机选取5根，标识每根跳线的一个插头（例如：1，2，3，4，5）作为基准插头。类似地从1至5标识适配器。最后按顺序从la到10b标识剩下的插头（例如：1a--1b，2a一2b，3a—3b..·..10a—10b)。
5.2.3如图4所示，把插头1作为基准插头，测量功率P1。基准跳线
图4基准跳线测量-
方法2
5.2.4把跳线1a--1b插人适配器1中，然后把它们接人如图5所示的测试系统中，测量传输功率P2。参考跳线
转接座1
图5被测跳线测量
5.2.5用公式（2)计算配接的连接器对1/1a的损耗值：测试跳线
一方法2
「1olg（P）
插人损耗=
(A×L)
（dB）
式中：
A一光纤每干米的衰减值，单位为分贝每千米（dB/km）；L
光纤的长度，单位为千米（km）。插头
注：对于单模和多模跳线（50/125μm和62.5/125μm），当长度很短时，例如小于10m，乘积A×L可以忽略。5.2.6反向连接跳线1a一1b并测量传输功率P2，以获得配接连接器对1/1b的插人损耗。5.2.7重复步骤5.2.4到5.2.6直到所有其他跳线的插头都相对于基推插头1和适配器1进行了测试。
5.2.8完成步骤5.2.7后，用基准插头2和适配器2代替基准插头和适配器，使它们成为基准插头。5.2.9用上述过程，测量所有插头相对于基准插头2和适配器2的插人损耗。5.2.10继续这个过程直到所有的基准插头和适配器都按顺序地被应用，并且所有的跳线都相对于它们进行了测试。
5.2.11把衰减结果填人图6所示的试验矩阵。5
GB/T 18311.34--2003/IEC 61300-3-34 :2001基准配置
测试插头
平均值
最大值
标推偏差
统计结果
5.3结果分析
适配器1适配器2
「适配器3
平均值
最大值
适配器4
适配器5
标准偏差
图6方法2的试验矩阵
平均值
最大值标准偏差
从方法1或方法2所得的摘要结果中得到的平均（中值）衰减值和最大衰减值应符合相关连接器性能规范规定的数值
规定的细节
按适用情况，在相关规范中应规定下述细节：性能特性（允许的衰减量，统计偏差等）；注人条件；
-光源的波长；
光纤每公里的衰减值；
-相对于本试验程序的差异。
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