本标准规定微波铁氧体器件主要性能的测量方法导则。这些性能参数包括：反射损耗、正向损耗、反向损耗、相位移和群延时。 GB/T 19404-2003 微波铁氧体器件主要性能测量方法 GB/T19404-2003 标准下载解压密码：www.bzxz.net

1CS 29. 100. 10
中华人民共和国国家标准
GB/T19404—2003/IEC61830:1997微波铁氧体器件主要性能测量方法Microwave ferrite components--Measuring methods for major properties(IEC 61830:1997,IDT)
2003-11~24发布
中华人民共和国
玉家质量臀督检验检总扇
2004-08-01实施bzxZ.net
irKAoNiKAca
GB/19404-2003/1EC 61830:1997主要性能测量方法\（英文版）。本标推等同架用IEC61380：1997微被铁氧体元件本标准对1EC.61380中各图位置按相关条款作了移动，并去掉了第1章中的说明性注解1。本标出全国磁性元作与铁氧体材料标委会提出并归口。本标推中电子技术标雅化研究所(CESI)总归口。本标推起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所、中国航天集國第二十三研究所。木标准主要起草人：张芦、胡滨、匡论、尹景林CB/t194042003/1Ee61830:1997
1EC61830:1997≤微波铁氧体器件主要性能测量方法》给出了经典的、传统的测量微波铁氧体器件半要性能的测量方法。
本标推小排斥通常使用的网络分析仪测量微波铁氧体器件要性能的测量方法，实用的微波铁氧体器件主要性能的测量方法标推有：-GJB2650—1996微波元器件性能测量方法，微波器件测试方法。
-Q1996—1990
1范围
YKAONTKAca-
GB/T19404—2003/IEC61830:1997微波铁氧体器件主要性能测量方法本标推规定微波铁氧体器件主要性能的测量方法导则，这些性能参数包括：反射损耗、正向损耗，反向损耗、相位移和群延时。
注：尽管目前网络分析仪已被大多数厂商胜于测量微波铁氧体器件上述各项参数，然面,要了解包括使用网络分析仪在内的通用测量方法，需要掌择基本测盘方法的知识。因此,传统测革方法还是在此进行了叙述。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件·其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标推，然而，鼓励根据本标准达成协的各方研究是否再使用这些文件的最新版本。儿是不注且期的引用文件,其最新版本适用于本标准。IEC60510-1-3：1980卫星地面站用无线电设备的测量方法第1部分：分系统和分系统组合通用的景反射损耗第3节：中频范围内的测量[EC 60510-1-3 AMD1.1988
3反射损耗
3. 1阻抗、反射损耗、反射系数和电压驻波比(VSWR)之间的关系对于微波铁氧体器件，更注重反射损耗的测鼠而不尼阻抗、反射系数或电压驻波比(VSW)的测量。
阻抗 Z 相对于其标称值 Z, 的反射系数或 VSWR 的测量:技射损耗L(单位dB)与阻抗2和Z：的关系见式(1)：2+
L=20lg
授射损耗L(单位dB)也可以表示见式(2)L=20g
式中：
-.电压反射系数
与阻抗Z.Z.的关系见式（3)：
电压驻波比(VSWR)表示见式(4)：VSWR
3. 2测量方法
按射损耗的测量方法可以用逐点法或扫频法。作为示例下面章条款中规定「后一种方法但是，任何-种其他方法只要能够提供所要求的准确度（典型值为土1dB)，都可以采用。在此例中，所需设备列出如下，并如阁1所示。
扫频信号发生器，台；
--微波电桥，一件；
GB/T 19404—2003/IEC 61830:1997校推衰减器，一件；
-幅度检测器，一件；
示波器.一台，
扫颊痣号
衰减器
待测器件
橄波电桥
幅度检避器
图 1 测量反射损耗的设备配置
杀被器
本方法主要用于测量线性器件和无源端口的反射损耗，如隔离器的输入阻抗，也可用于測量线性、有源和无源器的反射损耗，例：在器件的输出端（源阻抗）但此端口应无信号，且被试器件可以认为是线拌无源网络。
测试过程中使用的电缆、衰减器、连接器等的反射摄耗以及测试设备输人输出端的反射损耗，都可以用同样的方运检测。
3.3测量设备的基本要求
3.3.1扫频信号发生器
布规定的整个频率范内，信号发生器产生正弦射频信号，其输出电平应恒定。扫拥重复频率f。应在10Hz～100Hz范围内.但接收部分，即幅度检测器和示波器的通带频率应是扫摘频率的50倍～100倍。
3.3.2微波电桥
在规定的整个信号电平范内，电桥的输出电压应与被测阻抗的反射系数成比例。3. 3. 3检测器的灵敏度
检测器可检测的最低电平至少应比3. 4.3规定条件下电桥预期的最小输出电平低20 dB。3. 4测量规程
3.4.1总则
测景过程包括三个步骤，即，校准、电桥的平衡检测和测量。3.4.2校准
调节扫频信号发生器的输出电平，使电桥电阻乙两端的电压达到预期值。应注意避免测量设备超负荷工作。
将电桥的测量臂短路，调节校准意减器以在幅度检测器输出一个适当的真流电平。3.4.3电桥的剩余反射损耗的检测将匹配负戴(同轴或波导型)与电桥连接，取代未知阻抗乙。调节校谁减器算至求波器显求屏上的扫迹接近重合，以此检测剩余反射摄耗，只要接收系统灵敏度充分满足要求，迹就能达到完全重合。当扫迹重含或接收系统灵敏度达到极限时，应记下衰减器的预调值，这个预调值决定在规定雅确度范围内能测量的最大反射损耗。当反射损耗至少低于1面所得预调值的20 dB时，测量准确度可以达到士！dB。例如，当预调值为50dB时，可测量不大于30dB的反射损耗，准确度为二1dB，3.4.4反射损耗的测
将末知阻抗2的待测器件一个端口连接到电桥，器件的另一端口接匹配负载Z.。在规定懒率（由频标仪指示）下，调节校准衰减器，直到示波器显示屏上的测量扫迹与参考扫迹重合，TKAONKAca-
GB/T19404—2003/IEC61830:1997衰减器的读数与在 3. 4.2 中获得的读数之差等于末知阻抗 Z的反射损耗。著需要测量器性具他端口的反射损耗，对被测端口重复以上程序。3.5结果说朗
测量结果最好如图2所示，以示波器显示的带有垂直坐标的曲线或照片表示，坐标也可以作转换，示波器的显示应标出基线。
频率 /GHz
图 2 反射损耗示波器显示范例任何情说下，剩余反射损耗期线应与翘量脚线采用相简的方式显茶，若測量结果不用图像表示，应如下例给出測量数据：a）3.5GHz4.5GHz反射提耗大丁23dBb）剩余反射损耗大于45B。
3.6规定内容
设备详细技术条件应包括以下内容：a）反射损耗范围：
b）频率带宽范国，
4正向损耗和反向报耗
4. 1 定义和基本条件
正间损耗和反问损耗是用恒定输入电平下，输出电平和参考电平之差与频率的曲线获得，用分贝(dB)表永。
4.2测量方法
测量可以采用逐点法，也而以使用扫频法。后者的测量设备配置示例如图 3所示。为了降低失配误差，建议在待测器件的输人端和输出端加隔离器，示被器
扫频信号
发生群
京减器
隔高器
隔高器
图3量正向损耗和反向损耗的设备配置4.3测量设备的基本要求
检测据
在使用扫频方法时，扫频信号发生器的重复率，扫描信号的波形及检测器和示波器的通带应符合3.3. 1
GB/T 19404—2003/IFC 61830:1997应注意确保测量结果不受测量信号谐波的影响。测量前，应对测量设备进行检测，将信号发牛器的输出端连接到检测器的输人端，校准测量设备包括要使用的电缆，教藏器和其他树件本身的固有误差。測量无连接器的器件时，如：带线或插针接口的器件，应使用带有连接器的专用谢域夹具。用分贝(dB)表示失配误差极限F的计算公式如式(5)：E -- 20lg(1 —1 ipz )
式中：
待测器件输出端的电下反射系数；P:——包括隔离器在内的检测器电压反射系数。-5
例如：当件小于0.0023时，换句话说，当待测器件和括隔离器在内的检测器反射损耗的总和大于 53 dB时,测出的正向损耗的误差在上0. 02 dB内，4.4测量程序
4.4. t总则
测量程序由两个步骤组成校准和测量。4.4.2校准
罄语孕发生器的箍出电平借马与带隔离器的检测器相连，以校准测量设备的本身误差·井确能箍出参考电平。根据测量要求，设定校准按器适当的减值。若需要排除测量夹具的损耗时，校谁应包括测量夹具的损耗：测量夹其的校准可以用根阻抗为Z的线连接在测量夹具的输人和输出端山来完成。4.4.3正向损耗和反向损耗的刹量在规定频率（频标仪指示）\F，将待测器件连接在信号发生器利检测器之间，调节校准衰减器，直至测星扫迹与参考扫迹在示波器屏幕上重合：该衰减器读数与在3.4.2中获得的读数之差等于待测器件的正向损耗或反向损耗。对有个或多个端口的环行器-除输入端和输出端之外，其他端口都应与匹配负载相连接，改变测量端口,并重复土面的步骤测量 3.4.4中所述的参数。4.5结果说期
4.5.1正向损耗和反向损耗
获得的測量结果，最好选用尔波器显示的曲线或照片，如图4所示。示波器显示的纵、横坐标刻度都应经过校。
频率/iHz
图4正向损耗和反向损耗的示波器显示范例P/
顾率 /GHz
图4（续）
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GB/T19404—2003/IEC 61B30:1997若测量结果不能用图像品示时，则应按下面示例提供测量数据：8）3. 5 GHz4.5GHz,正向扪耗(1 端到 2端)小于 0. 2 dB;b)3. 5 GHIz～~4. 5 GHz,反向损耗(2 端到 1 端)大于 23 dB。4.5.2波动分量
当从测量特性曲线容易鉴别波动分量时，此波动量以峰一峰最大变化求表示，单位为dB,应规定波动懒率，
5 相位移和群延时
5.1定义和基本条件
对于线性网络,传输函数 H(jw)可以表示为H(j) = A()e-i
其中，A（w）与幅度频率特性有关，B（）与其相位顺率特性（如果输出信号游后于输入伤号则认为是正向)有关。
相位移α)(单位为孤度)定义如下：(w) B(w) .. 2tn
在-整数
通常测量相位变化，相位变化尽随频率变化的被测相位与参考相位之差。网络的群延时r()定义为)刘的一阶导数,即：
单位为秒。
通常测量群延时的变化，即上面定义的群延时与参考频率下群延时之差。5.2测量方法
测量可以是逐点法，也可以是扫频法。对于后者，测量设备配置示例如图5所示。调制
发生器
调制器
扫频信号
发生器
滤波器
图5测量相位移和群延时的设备配置5.2.1测量设备的基本要求
应具备下列条件：
检测器
示波器
GB/T 19404--2003/IEC 61830:1997&）调制度和调制频率。应适当选择，以保证相应的频谱在一定的带宽产生，在此带宽内，被测器件的幅一频特性和群延时特性接近于一条直线；虫调制器引起的与被测器件的幅度相位转换效应和传输容量有关的同步调幅可忽略不计。b）
解调器对同步调幅应当是不敏感的，对此，频率跟踪型解调器非常适用的；相位检翘器对与扫描频率同步的幅度调制应当是术感+d)
在阁5中表示的调制器和解调器应当是高质量的。可行时，它们设计成群延时响应固定不变，
如果满足上述录件，相位检测器的输出电压V<见图5）与被测器件群延时的关系如下：V = kpt(w)
式中：
——对应相位检测器斜率的常数，V/rad；x—-2元m。
注：位检测器(见图 5)除了可以测量群延时变量 T外,还可以测量相依差(ut)，如果使用谢制频率 0. 277 778MHz，那么检测器中1°的相位差的输出电压应等于10ns的群延时变化的输出电压。F=可以选取用满足条件a)的其他测试频率,但为避免过高噪声的影响,不能选择太低频率(如10 kH2)。5.2.2测量程序
优先采用图5所示方法，将一个频率为于的射频信号和一个赖率为f的调制测试信号馈送到优质调制器，由调制测试信号以低调制度产生一个调频的射频信号。将调制射频信号馈送到待测器件，然后通过一个高品质解调器将调制测试信号.解调。当射频信号在规定频带扫描时，解调后的试验调制信号的幅度和相位要发生变化，相位检测器的输出信号与射频相位移和群延时成比例。5.3结果说明
5.3.1相位移和群延时特性
测得的相位移和/或群延时特性最好用横坐标刻度为频率的示波器重复显小函表示，如阁6所示。若不能提供图片，应如下例给出测试数据：36
额率/GHa
*调制赖率 0. 277 778 MHz
图6相移和群延时的示波器显示图示例a）3.5 GHz--f. 5GHz.相位移变化为:±5°4 GHz,相位移为 90°h）3.5GHz~4.5G月z,群延时的总变化为2.5ns。应给出调制频率，及相成调制度。5.3.2波动分量
当波动分重可以从测量特性识别时，波动蜂：峰值用度或纳秒表示。应规定波动频率。
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