本标准规定了温盘驱动器小型磁头的通用技术条件，主要内容包括术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于盘片外径为90mm和130mm温盘驱动器的小型铁氧体磁头。 GB/T 14080-1993 温盘驱动器小型磁头通用技术条件 GB/T14080-1993 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
温盘驱动器小型磁头通用技术条件Generic specification of mini-magnetichead for Winchester disk drive1主题内容与适用范围
GB/T 14080 93
本标准规定广温盘驱动器小型磁头的通用技术条件，主要内容包括术语、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。本标滩适用于盘片外径为90mm和130mm温盘驱动器的小型铁氧体磁头。2引用标准
包装储运图示标志
GB 191
电电子产品基本环境试验规程总则GB24211
GB2422电工电了产品基本环境试验规程名词术语电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB 2433.1
电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB 2423.2
GB 2423.3
电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验Ea：冲击试验方法GB2423.5
电工电子产品基本环境试验规程试验Fc：振动（正弦）试验方法GB 2423. 10 [
GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB4857.2运输包装件基本试验温湿度调节处理GB 4857. 5
3术语
运输包装件基本试验垂直冲击跌落试验方法3.1浮动块slider
具有铁芯并提供空气支承面的部件。3.2弹性臂flexure
由性材料制成，将浮动块连接到驱动架上并提供磁头加载力的部件。3.3加载力load force
使浮动块面间磁盘并维持飞行高度的力。3.4加载高度load height
磁头安装基准面到媒体表面的平均距离。3.5飞行高度fly height
浮动块飞行时，磁头读写间隙到媒体表面的平均距离。3.6纵摇pitch
浮动块长度方向同-空气支承面到媒体表面的最大平均高度差。3.7横摇roll
国家技术监督局1993-01-07批准1993-08-01实施
GB/T14080--93
浮动块宽度方向两空气支承面到媒体表面的最大平均高度差。3.8空气支承面airbearing surface浮动块上维持浮动块飞行的表而。3.9崩口chip
棱和角上的缺口。
3.10麻点pit
表面上的点状缺陷。
3.11疏松崩loosechip
材料已崩裂尚未脱离本体的崩口。3.12疏松麻点　loose pit
材料已崩裂但尚未脱离本体的麻点。3.13划痕scratch
表面上的线状损伤
3.14裂纹crack
材料开裂形成的细缝。
3.15闻隙长度gaplength
读写间隙在磁道方向的平均尺寸。3.16闻隙深度gapdepth
读写间隙在垂直于空气支承面方向的尺寸，3.17磁道宽度trackwidth
在汽支承面上铁芯宽度的平均尺寸。3.18实际磁道宽度effectivetrackwidth除去任何机械损伤以外的儿何磁道宽度。4技术要求
4.1外观和结构
4.1.1温盘磁头山浮动块、线圈、弹性臂等组成。4.1.2铁芯不允许有断裂和裂纹。4.1.3间隙长度方向读写间隙两侧0.025.mm范用内，磁道必须满足实际磁道宽度的费求.此范周内不允许有划痕、麻点。磁头其他位置上的崩口、划痕、麻点由产品标准规定4.1.4磁头表面不许有蔬松崩口、疏松麻点和裂纹4.1.5线圈漆皮不允许有损伤。
弹性臂不允许有折痕、变形和生锈。4.1.65
弹性臂舌片和加载梁在非工作状态下，支点应贴紧加载梁.最大间隙不大了0.075mm。4.1.7
4.1.8产品表面不允许有污染。
4.1.9其他要求由产品标准规定。4.2机械参数
磁头的外形尺寸由产品标准规定。4.2.1
4.2.2磁头的安装尺寸山产品标准规定。4.2.3线圈师数、线圈始木端、引出线长度由产品标准规定4.2.4
读写间隙长度和间隙深度由产品标准规定。4.2.5加载力为0.093±0.010N。4.2.6
加载高度如下：
GB/T 1408093
a．扩孔安装型的加载高度为1.092mm或1.473mm；b.螺钉安装型的加载高度为2.540mm。4.2.？当线速度达到9.4m/s时，飞行高度的标称值为0.178~0.305μm，其偏差值为上0.025um，其体标称值由产品标准规定。
4.2.8纵摇为0.254±0.127μm。4.2.9横摇为0+0.050μm。
4.2.10空气支承面平面度不大于0.127μm。4.2.11浮动块与弹性臂的粘结剥离力不小于0.98N。4.3静态电气参数
4.3.1电感
磁头电感的标称值巾产品标准规定；磁头电感的偏差不大于标称值的15%。h.
4.3.2绝缘电阻
在直流110V的条件下，线圈和铁芯之间的绝缘电阻应大于10M2。4.3.3谐振频率
磁头线圈的谐振频率应大于12MHz。4.4动态电气参数
4.4.1读出幅度
读出韬度如表1所示，
磁盘直径
4.4.2分辨率
测试半径
分辨率如表2所示。
磁盘直径
4.4. 3写
重有如表3所示。
测试半径
标称值
读出幅度
分凝率
磁盘直径
4.5气候适应性
作温度为15~57℃；
凝臀。
GB/T 14080
测试半径
工作时相对湿度为8%~80%，湿球温度不应超过26；存运输温度为40～65℃；
贮存运输的相对湿度为8%～80%，湿球温度不应超过30C。在任何情况下，磁头1作面不得4.6振动适应性
振动频率为20Hz；
振动加速度为20m/s；
振动时间为15min。
4.7冲击适应性
冲击加速度为50m/s；
脉冲持续时间为11ms：
冲击次数为3次；
冲击波形为梯形波
4.8运输包装件跌落适应性
运输包装件跌落适应性如表4所示。表4
包装件质量
4.9工作寿命
磁头的工作寿命用起停次数来度量，起停次数不少于10000次。试验方法
5.1试验气候条件
本标准除气候环境试验外，具他试验均在下述正常人气条件下进行，温度：15～35;
相对湿度：45%~~75%；
大气压力：86~～106kPa；
空气洁净度：100级。
5.2试验用仪器
试验用仪器的等级要高于相应技术指标的等级。5.2.1体视显微镜
放大倍数：30倍。
5.2.2拉力测试仪
跌落高度
测量范围：5.88N；
刻度值：0.049N。
5.2.3工具显微镜
放大倍数：30倍；
刻度值：0.001mm。
5.2.4投影仪
放大倍数：30倍；
刻度值：0.001mm。
5.2.5带摄像系统的高倍工具显微镜分辨力：0.025mm。
5.2.6激光平面干涉仪
分辨力：0.025um。
5.2.7加载力测试仪
分辨力：0.001N。
5.2.8飞行高度测试仪
分辨力：0.0025mm。
5.2.9电感测试仪
分辨力：0.01μH。
5.2.10绝缘电阻测试仪
电压：直流110V；
电阻：10MQ。
5.2.11示波器
频率范围：≥20MHz；
灵敏度：≤0.1mV/cm。
5.2.12电流探头
电流探头工作频率：≥10MHz。
5.2.13选频电压表
电压范围：3.0×10~~100V；
GB/T 14080—93
精度：在1kHz时，误差为土2%全刻度值。5.3试验设备和校正系数
5.3.1试验设备
读写分析仪；
b.动态参数测试仪。
动态参数测试仪在使用前应用读写分析仪对其各项参数进行调校。5.3.2校正系数
5.3.2.1原始校准数据
原始校准数据是由用户提供的。它是用用户提供的校准头和校准盘在用户的试验设备1测得的5.3.2.2二级校准头的校正系数
二级校准头在校准盘土测得的幅度、分辨率和重写与原始校准数据有着校正系数的关系。（I)HF为高频读出幅度的校正系数，CD为分辨率的校正系数，CDow为重写的校正系数。各校正系数按式（1）、（2）（3)进行计算：
原始校准读出幅度
CDHF=二级校准买在校准盘上测得的读出幅度(1）
GB/T 14080 93
原始校准分辨率
CI)x二三级校准头在校准盘上测得的分辨率CDow=原始校准重写一二级校准头在校准盘上测得的重写二级校准头的各校正系数必须满足下列要求：0. 90≤CD≤1. 10;
0. 90≤CD≤1. 10;
- 2dBCDuw≤+2dB。
5.3.2.3测试磁盘的校正系数
（2）
测试磁盘用二级校准头测得的幅度、分辨率和重写与原始校准数据有着校正系数的关系。（T为高频读出幅度的校止系数，（Tk为分辨率的校正系数，CTow为重写的校正系数。各校正系数按式（1）、(5）（6)进行计算：
原始校准读出幅度
CTum-测试磁盘二级校准买测得的读出幅度×CDH原始校准分辨率
(TR测试磁盈用二级准买测得的分磷率×CDCTow=原始校准重写-测试磁盘用二级校准头测得的重写十(DoW测试磁的备校正系数必须满足下列要求：0. 90≤CTHF1. 10 ;
0. 90≤CTr≤1. 10;
2dBsCTow +2dB
5.4试验工作条件
5.4.1写电流
写电流波形应与图1相符，在磁头插头处测得的电流幅度如表5所示，Tu(15~20)ns
T (15 ~ 20)mS
图1写电流波形
（4）
（5）
磁盘直径
GB/T 14080--- 93
测试半径
静态写电流正、负之差wIwl应小于2mA，5.4-2直流抹除电流
除另有规定外，在执行所有写操作前，应进行直流抹除。标称值
乌电流（wwe）
用直流抹除时，通过两个读写绕组之的直流抹除电流为25±0.25mA5.4.3读出通道
读出通道的差动输入阻抗应为750士372与12士2.5pF并联。它包括放人器的输入阻抗，以及在读放大器输入端测得的所有其他分布阻抗和集中阻抗电路（包括磁头绕组、读出道的输入阻抗以及连接线）的谐振频率为9.3士0.5MHz。5.5外观和结构检查
外观用体视显微镜进行检查。
5.6机械参数检查
5.6.1磁头的外形尺寸、安装尺寸用工具显微镜、投影仪或同等仪器进行检查。5.6.2读写间隙长度、磁道宽度、间隙深度用带摄像系统的高倍显微镜或同等仪器进行检查。5.6.3加载力用加载力测试仪在产品标准规定的加载高度下进行检查。5.6.4
飞行高度、纵摇、横摇用飞行高度测试仪进行检查。5.6.5空气支承面平面度用激光平面干涉仪进行检查。5.6.6粘结剥离力用拉力测试仪进行检否。5.7静态电气参数检查
5.7.1磁头的电感用电感测试仪或同等仪器进行检查。5.7.2磁头的绝缘电阻用绝缘电阻测试仪或同等仪器进行检查。5.7.3谐振频率用信号源和示波器或同等仪器进行检查。5.8动态电气参数检查
磁头动态电气参数的检查均应在动态参数测试仪上进行.测量值需用各校正系数（I)（T（见5.3.2.2、5.3.2.3)校正
5.8.1读出幅度
按4.4.1要求在磁盘上写入并测出平均幅度.其值经校正后应满足表1中的要求。5.8.2分辨率
在4.1.2规定的测试半径E：
用低频在磁盘上写入并测出读出幅度：a.
用相应高频在磁盘上写入并测出读出幅度：分辨率按式(7)计算：
分辨率二
其值经校正后应满足表2中的要求。高频读出幅度
低频读出幅度
5.8.3重写
GB/T 14080www.bzxz.net
在4.4.3规定的测试半径上，根据产品标准规定的频率：a：用低频在磁盘上写入并测出读出幅度；不进行直流抹除，用相应的高频在磁盘上重写并测出低频残余信号的读出幅度；h.
重写按式（8）计算：
重写= 20lg重弓后低频线余信号的读出幅度重写前低频读出幅度
其值经校正后应满是4.4.3条的要求。5.9环境试验
5.9.1般要求
-（8)
环境试验方法的总则和名词术语应符合GB2421和GB2422的有关规定，以下各项试验中规定的初始检测和最后检测均按4.1条和4.4条进行。5.9.2温度下限试验
5.9.2.1工作温度下限试验
按GB2423.1\试验Ad”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测，其温度变化按1C/min的速率降温到工作温度下限值，待温度稳定后存放2h，再按4.4条的要求进行检测。5.9.2.2贮存运输温度下限试验
按（B2423.1\试验Ah\中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测，其温度变化按1/min的速率降温到贮存运输温度下限值，存放16h。恢复时间为4h，再进行最后检测。为防止试验中磁头上结霜和凝露，允许将磁头包装件用聚乙烯薄膜密封后进行试验，必要时还可以在密封套内装吸潮剂，5.9.3温度1限试验
5.9.3.11.作温度上限试验
按GB2423.2\试验Bd”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测，其温度变化按1C/min的速率升温到工作温度上限值，待温度稳定后存放2h，再按4.4条的要求进行检测5.9.3.2购存运输温度上限试验
按GB2423.2\试验Bb\中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测，其温度变化按1C/min的速率升温到工作温度L限值，存放16h，恢复时间为4h，再进行最后检测。5.9.4恒定湿热试验
5.9.4.1！作条件下的恒定湿热试验按GB2423.3“试验Ca”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测，试验湿度按T作湿度上限值（湿球温度不超过26C），存放2h，恢复时间为4h，再进行最后检测。5.9.4.2览：存运输条件下的恒定湿热试验按GB2423.3~试验Ca”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测.试验湿度按贮存运输湿度上限值（湿球温度不超过30℃），存放48h，恢复时间为4h，再进行最后检测。5.9.5振动试验
按GB2423.10“试验Fc”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测。将样品按工作位置固定任振动台，然后分别在三个互相年直的轴线方向按4.6条的要求进行动。振动试验结束后，再对受试样品进行最后检测。
5.9.6冲击试验
按GB2423.5\试验Ea”中规定的方法进行，受试样品必须进行初始检测。将样品按工作位固定在冲击台上，然后分别在三个互相垂直的轴线方向按4.7条的要求进行冲击。冲击试验结束后，再对受试样品进行最后检测。
5.9.7运输包装件跌落试验
GB/T 14080—93
对受试样品进行初始检测，使运输包装件处于准备运输状态，按GB4857.2中2.1条表中的条件6规定进行预处理4h。
将运输包装件按GB4857.53.5.2条a的要求和木标准中4.8条的规定值进行跌落.任选叫面。每面跌落一次，试验后按产品标准的规定检查包装件的损坏情况，并对受试样品进行最后检测。5.10工作存命试验
受试样品按工作位置固定在动态参数测试台上，对受试样品进行初始检测，然后受试样品在动态参数测试台上连续起停10000次，样品起停时的加速和减速时间应在6.0上1.0s以内，试验后再对受试样品进行最后检测。
6检验规则
6.1-般规定
产品在定型(设计定型、生产定型)和生产过程中必须按照本标准的规定和产品标准的补充规定进行检验，并应符合这些规定的要求。6.2检验分类
产品应通过下列检验：
定型检验；
b．交收检验；
例行检验。
各类检验项目和顺序分别符合表6的规定。若产品标准中有补充的检验项目，则应将其插入到表6的相应位置，并依次排序。
试验项目
外观和结构
机械参数
静态电气参数
动态电气参数
温度下限
温度上限
恒定凝热
运输包装件跌落
工作寿命
技术要求
试验方法
注：“√”表示必作项目；“△”表示选作和抽检项目。6.3定型检验
6.3.1产品在设计定型和生产定型时应通过定型检验。定型检验
交收检验
例行捡验
6.3.2定型检验由产品制造单位质量检验部门或上级主管部门指定或委托的质量检验单位负责进行。6.3.3定型检验中的样品数不少于两套磁头6.3.4检验中出现故障或某项通不过时，应停止检验，查明故障原因，提出故障分析报背，重新进行该项检验。若在以后的继续检验中再次出现故障或某项通不过时，再查明原因，排除故障和提册故障分析63
报告后.应重新进行定型检验。
6.3.5检验后要提交定型检验报告。6.4交收检验
GB/T1408093
6.4.1批量生产或连续生产的产品，一般应进行全数交收检验，其中粘结刹离力仪限每批拍取少量样品进行检验，样品数山产品标准规定。检验中出现任何：项不合格时，允许返修后重新进行检验。若博次油现不合格时，判该产品不合格。对于生产和质量都稳定的批量产品.其交收检验中机械参数和外观结构检查两项允许按（B2828进行抽样检验，产品标准中应真体规定抽样方案和验收后的处理方法。6.4.2交收检验由产品制造单位质量检验部门负责进行，6.4.3检验项日全部合格的磁头，贮存期超过个月的产品在出厂前应重新进行交收检验，6.5例行检验
6.5.1批量生产的产品，一般每批均应进行例行检验。连续生产的批量产品每年至少进行次例行检验。当更改设计和主要工艺或更换主要材料时，应进行相应项日的例行检验。6.5.2例行检验由产品制造单位质量检验部门或上级主管部门指定或委托的质量检验单位负责进行。根据定货方要求，制造单位应提供该产品近期的例行检验报告。6.5.3例行检验的样品应在交收检验合格的产品中抽取，样品数不少丁3套磁头，6.5.4检验中出现故障或某项通不过时.应查明故障原因，提出故障分析报告，然后加倍抽取样品再剂逃行检验。若再出现故障或某项通不过时，则判该产品通不过例行检验。经例行检验的样品，应印有标记，-般殿不应作为正品出厂。6.5.5检验后要提交例行检验报告。了标志、包装、运输与贮存
7.1包装箱外应标有制造厂名、产品名称、产品型号，出厂年、月、日，并有“小心轻放”“怕湿”和“向上”等运输标志，标志应符合GB191的规定。包装箱外运输标志不应该因运输条件和白然条件而退色、变色或脱落。
7.2合格产品包装盒的盖面上贴有标牌，标牌上应有制造厂名称.产品型号，出」年、月、日。7.3包装箱应符合防潮、防尘、防震的要求。包装箱内应有装箱单，检验合格证及有关文件。7.4包装后的产品应能以任何交通工具进行运输，在长途运输时不得装在开的船舱或车中，中途转运时不得存放在麟天仓库中，在运输过程中不得和易燃、易爆、易腐蚀的物品混装，并直产品不许经受雨淋、雷击与机械损伤。
7.5存放产品的仓库坏境温度为0～40℃，相对湿度为20%~~80%，尚时，仓库内不充许有各种有害气体，易燃、易爆的物品和有腐蚀性的化学物品，并且无强烈的振动、冲击和强磁场作用，包装箱应燃离地面至少20cm，距离墙壁、冷源、热源、窗口或空气入口至少50cm。附加说明：
GB/T14080-93
本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由蛇口开发科技有限公司、机械电子工业部电子标准化研究所负责起草。本标准主要起草人徐善松、许忠桂、蔡小阳、郑洪仁。65
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