GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 GB/T4957-1985 标准下载解压密码：www.bzxz.net

法》。
中华人民共和国国家标准
非磁性金属基体上非导电
覆盖层厚度测量
涡流方法
Non-conductive coatings on
non-magnetic metal substrates-Measurementof coating thickness-Eddy curent methodUDC 621.793
: 531.717.1
GB4957—B5
本标准规定了使用涡流仪器无损测最非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的方法。该方法适用于测量大多数阳极氧化覆层的厚度，但不适用于测量所有薄的转化膜：本标准等效来用国际标准IS023601982《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的满流测量方1原理
涡流厚仪的测头装置所产生的高频电磁场，使置于测头下面的导体产生涡流，其摄幅和相位是导体与测头之间的非导屯覆盖层厚度的函数，2影响测量精度的因素
2.1覆盖层厚度
该方祛行在着周有的测最误萃，对于薄的盖层，该误筹是常数，与覆盖层厚度无关，单次测量，其绝对误差至少为0.5微米。覆盖限厚度大于25微米时，共误差与覆盖！厚度近似成止比。补测量5微米或5微米以下的覆盖层巧度附，应取几个读数的半均值。测量3微米以下的覆是掌度，可能达不到第5章叫所规定的精度要求。2.2基体金属电性质下载标准就来标准下载网
基体金属的电导率对测量有影响，而基休金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。电导率的影响与仪器的制造和类型有很大关系。2.3基体金属厚度
每·种仪器都有个基体金属的临界厚度。人于这个厚度，测最就人受基体金属厚度的影响。基体金属临界厚度与测头装置的测量频率及基体金属电导率有关。如果仪器制造厂末提供这个临界厚度值，则应通过实验确定。
一股，对-给定的测量频率，基体金属电导率越高，临界厚度就越小当基体金属电导率不变时，测量频率越高，临界厚度越小
2.4边缘效应
涡流测源仪对试样表面形状的陡变敏感。闪比在靠近试样边缘成内转角处进行测量是不可靠的，除非仪器对此作广专的校准。
试样的曲率对测量有影响。非率的影响仪器的制造和整型行关，供这种影响总是随着曲率平径的减小显地增人。因此在书讲试样的表面上避量是不可能的，除非仪器对此作了专门的校准。国家标准局1985-02-14发在
19A5-12-01实益
2.6表面粗糙度
GB 4967-85
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测鼠有影响。粗趟程度增加，影响增大。粗糙表而会引起系统误差和隅然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂疫的粗糙度相类似的基体金属试样上取几个位置校对仪器的零点，惑用对基体金厚没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再棱对仪器的零点。2.7附着物质
由于涡流仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，仪器测头必须与测试表而直接接触。
2.8测头压力
测头置丁试样上所施加的压力人小会影响测量的读数，闪此，要保持压力恒定。2.9测头的放置
测头的放置方式对测皇有影响。在测量中，成当使测头与试样表面保持垂直。2.10试样的变形
测头会使软盖层试样或薄试样变形，因此：很难在这些试样上测出可靠的数据。在这种情况下，要求采用特殊测头或辅助装置进行测量。2.11 温度
明显的温度变化对测头的特性有影响，因此，要在温度大致相近的情况下进行校准和测量。3仪器的校准
3.1概述
测量前，每台仪器应按制造厂的说明打，选择适当的校准标准片进行校准，并应当注意2章中所列的影响因素及4章中所述的操作过程。3.2校准标准片
可采用已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样作为校准标准片3.2.1校准箔
3.2.1.1用于涡流仪校准的校准箔，通常用合适的塑料制成，它们有利于弯曲表面上的校准，比有覆差层标准片更适用。
3.2.1.2为防上产生测量误差，必须确便校准箱与基体紧密接触，应避免使用有弹性的箔。校准箔易产牛压痕，因此要经常更换。3.2.2有覆盖层标准片
采用已知厚度的、均均的、并与基体结合牢固的非导电性覆盖层作为标准片。3.3检验
3.8.1校准标准片的基休金属电性质，应当与试样的基体金属电件质相似。为了证实标准片的适用性，可将校准标准片的基体金属上所测得的读数与试样的苯体金属上所测得的读数进行比较。3.3.2如果试样和校准片的基休金属没有超过2.3中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行核准：在与试样的基体金属厚度相同的金属标准片上校准，或用--足够厚的，电学性质相的金属衬垫校准标准片或试样，但必须使基体金与衬垫金展之间无问隙。对两面有覆盖层的试样，不能采用衬势法。
3.3.3如果待测覆盖层的曲率已泌到不能在面校准，则有覆盖层标准片的曲率或置」校准范下的其休金属的曲率，应与试样的曲率相同。4操作程序
4.T概述
每台仪器就按照制造！的说明逆行操作，并应当注意第2意中所列的影响因素。GB4967—65
每次测量前，要在测试场所对仪器进行校准。在间断使用中，也要经常对仪器进行校准（至少每小时校准一次），以确保仪器处于正常的工作状态。操作时应当遵守十列条款的规定。4.2基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3.2中的两种方法的·-种。.3边缘效应
不应在紧靠试样的突变处如边蒙，孔洞和内转角等处进行测量，除非已验证对此测量所作的校准是可靠的。
4.-曲率
不应在试样的曲表面上测量，除非已验证对此测量所作的校准是可靠的。率.5读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在一测更面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任给定的面积内进行多次测量，衰面粗时更应如此。4.6表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附著物质，如尘士、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖离物质。
5精度要求
测量精度取决于仪器的性能、操作和校准。必须使测量误差在±10%以内。测量5微米或5微米以下的覆盖层厚度，应取几个读数的均值。覆盖层厚度小上3微米时，可能达不到这样的精度要求。附加说明：
本标准由中华人民共和国机械上业部提出，由机械工业部武汉材料保护研究所归口。本标准由机械工业部武汉材料保护研究所负贰起草。本标准上要起草人胡铁骑、王渝。
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