本部分规定了带触点的集成电路卡的物理特性它适用于可能包含凸印和/或磁条(如ISO/IEC 7811中所规定)的ID-1型识别卡。本部分适用于带有电触点的物理接口的卡，但是没有规定卡上集成电路的性质、数目和位置。 GB/T 16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 GB/T16649.1-2006 标准下载解压密码：www.bzxz.net

IC%35.240.15
中华人民共和国国家标准
GB/T16649.1—2006
代警GR/T1649.1936
识别卡
带触点的集成电路卡
第1部分：物理特性
Identification cards-—Integrated circuit(s) cards with contacts-Part 1:Phvsical characteristics(IS0/IEC 7816-1:1998.M0D)
2006-03-14发布
中华人民共和国国家凝量监督检验检疫总局中国国家标化管理委员会
2006-07-01实施
CB/I 16649.t—2006
范性引用文件
术语和定文
物理·
GB/164U识则卡带触点的集度心路卡拟分为1一个邮分：第1部分，物理特；
年2部分触点的尺小和位置：
第3部分：心信少和传输办议；
--第4部分，行业间交换用分令；第5部分，应用标识符的国家编号休系和江期规程：第（部分，行业间数元：
募？部分：用化下查语言（SCQ)的行业命令；笑K部分，与安企相关的行业间命会：英部分，际加的行命今和安全！部分同的出信号复官应：
第11部分：央成电路卡上通过生物为达能身份验证：第12部分：行越点集成电路的（SB按11.部分（1564S的第】部分，
GBT16649.1—2006
本部分像改采用国际标准/E781e-1：：33*识别F带题点的货成中路卡第：部分：物理持性其需文版。
本帮分号15>/1F:78161：9和比：存在如下量术件差异：）年部分增加/4.2.7电磁场，在50/TF：7816-1193小升无这，条，存新版期试力法标准中引月到了1/1：7816-1：1925中这条，因北加该条；料4..41十和触点的>机械强压改为芯片面积小」，\m利大于等于4mm两冲恰记下问：
新测式马法：
：e）将.2.\（缺点的电脏的测试方法放为H117554.3中现定的测试力达和效收标陷车部分代替GB/T166491—3763议别F睡点为架或自路卡第1部分物理特作3。本部分与/1649.11935相比+要要化如下；）敏点的面家所有的制点与附近下表面平面之间的高虚差应小十C.10mm双为\可上不随过.5mm，同下不超让0.1mm；）机械度的测试为法从“点压力”一种分为两“点十力“和“轮测试！）触点电阻的测试方法变为见G/174.3：d>IC的抗静电条件从500上到了
G0/T164S是描述识别专的数和交接中识别卡用的系例国家松消之.下面划出了这当国家标筛的预计结构及其对应的国际标准以及所代替的国家标剂：）GB/T149166识别的理特性3(IS(/IEC7N.2.2003.代替GB/T14916—1994)bCB/T1612别卡求x术，分为：
第部印150/781-1983
第：部分：微条（150门：731121985）：第3部分：J1型工凸印的位青（150/C78:1-3，19R4部分，H读莅进的第1商道知第2越道的快胃（1SU/IEC7811-4：：8带第分：读联道的第3送值的位置（1S0/EC7。5，1085）.『
SB/116649.12096
）GB/T1549识别卡发若标改芬为：第1部分：编号体系（SO/T78127，1553)：第2分；申讲和注册规(JS)/TEC:7S12-720)H)，d）GB/17552%别金融交卡。
eGB/T识别方分为：
第1部分载试50/E0573-1338.抢/17554—15%)一第部分：带磁系的1：（YO/TF：10373-2：1998）第3部分：带融点的荣账电路卡其样关接二证备（IS()/IEC10173-32Gc）第5部分：光忆卡$0335：15：
*-英6郭分，我近式卡：IS门/EC10373-6：2C01：第7部分：郭近式1（SO/：0373-7：2G1），GBT1751识别卡记忆卡一般特性。心B15认别卡光忆卡线性记录法3.分一第1部分：物理待生（180/1EC:11694--，1994）；：一第2整可收间区城尺寸和金量（11-2：1！）：第5：光满性和特（10/593：15：一第小部分，辑据购（1S/IEC」.53-.本部分止中华人民大和国销息产业部出。去部分由中国心了技术标准化研究所口。本部分起幸单位：宁升电子恢,术标准化研究所去部分主要起人金消、冯收，兼怀忠，联力，i
1范围
识别卡带触点的集成电路卡
第1部分：物理特性
T/T16649.1—2006
GB16649的本部分规定丁带独点的集成电路·卜的物理转性。它适用一可谢包含已印和/变磁条(如[S0F711中所规定的[-1型识别卡：本部分适用于化有触点的物单接口的卡，但居没有制定下上第成电路的性压，数月可位置。方：其英型1下作式或甚口的示不发展资会要求对人部分进疗补允，或专导致制另外的国家素准。2规范性引用文件
下列文片的杀款过木部分的引用而度为本部分的杀款，凡层注日期药州用文，其随后所有的修改单（.不包括期误的内学）或懂汀版与不适用丁本分，然而，歧励相抛本部分达成协议的各扩研究无否可他用这能文件的最新本，从品不计日期的引用文件，其最新版本适用下本部分G7149142((e识别卡守（IS0//187810.2003.1D）G13/.7554.1—2GG认则：测成方法第1部分：-般特性测试（1SO/1HC：3731：1393，MOD
H/T17554.3-2995品卡测试方法第3部分：带钟点的集收比路卡放其相戈接口设备(1SU)/IEC: IC?3-3:20n1.M))
ISU/EL7811即别卡记录技术
B:7—金易卡5/E)
3术语和定义
下列术话和定义适用于GB/T16S案本部分，3.1
集成电路integrated ciremit(s！为执行处抑和/或存储动能而改计的心了器件，3.2
集成电路卡（Kcnrd）integraletlcincuils，eard内部划接一个或患个集或路的1T-1型FGV/714916：2006中所定义）。3.3
超点contact
保持案必见路和斗部接口设备间电筑连续性的导电心件：4物理特
下别物通特性猫述了谈人了带融点约集成电路的IL-1型卡（等合Y：149162CC6的要求双卡座满1EC781（13/17552—108要求，测方层在（/7554.3—2006猫速，
2.1通用特性
tiK/T149S200e山规定内各类识的物理持性适用于TC下。六1：G1/：149.6—200:中规定险卡事域儿十带社点利集底电路的无印F.GB/T16649.1-—-2006
注21文于化学性（见C3/1491620067,4），爱卡底件样的事实，待染会致长弃谢条站年减照口的信总无效，
4.2附加待性
4.2.1紫外战
赶出周围紫外线水平的防护应是卡制造商的贵在4.2.7X射线bzxZ.net
卡的何一面光0.1Gy剂效，半于70kV-~140keV内等能基×对裁（每年的累租剂量），应不引起卡的失效
注：这相当工人每年正带持收的0.05心刻是的网。4.2.3触点的衰面轮席
所的触点与其附近的卡表而平雨之间的声境差，向上不愿过3.0mm，尚下不超过10!注，对一既人芯片再打以除卡，当单点高于卡周因表面时有可能产生间题，4.2.4（卡和触点的)机概强度
卡避能抵抗对其表及其任制成筛件的损告，并在正带过用，保存和处理过程朵持完女当芯片面积小三1mm时，机械强度测试来用以下方法：再个触点表面和触点区域（整个导电.表而在相当干过白换1mu的钢述施通1.5N的工作压力下不应或坏，当芯片面期不小小1mm时，机样强虑谢试来用二轮方达将心触点在一个射制离轮回择复移动：在I上如个的力以通定ICC的机被可靠性。4.2.5（触点的）电阻
卡连丧器组件的部点高阻可通过划试卡来规定和副量（例如，测式卡内的射点之间短时）。具件测试方法和接收标难川,GH/T17554.3.4.2.6（磁案和成电路之间的；电磁干扰如果卡带有磁条，偿条在读、写成探除后，C）！不应被损坏、失效或改安，反之，案成电路的读、写也小应起感条大效变其适、写和处理机制的失效4.2.7电磁场
F函在795）A/m的越场中不应造成集成电路的失效测试应在指定偿的静隧场中进行，誉告；酸场将会操去醛条上的内容（如果用磁条）、4.2.8静电
在常静电药人的止常仗币下，桌放电路不应成损坏，在生意触点和之间由一个F的电容经过：m的电阻放电产生的2(的电，下暴随其中时其能不皮降低。
4.2.9工作盖度
1应会~0的环境温患粒患内L作。4.2.10曲性质
进行B：T17554.12006中持述的1000弯制循环试，卡应保待其动能斤定不山现F裂4.2.11祖曲性质
迷行心B/T17554.1—30U6中措述的1U0U款扭曲洒环测试后：卡应保持具动能并忘不出现开裂
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