JB/T 5848-1991
基本信息
标准号： JB/T 5848-1991
中文名称：热循环负载试验方法导则
标准类别：机械行业标准(JB)
英文名称： Guidelines for thermal cycle load test methods
标准状态：现行
发布日期：1991-10-24
实施日期：1992-10-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：KB
标准分类号
中标分类号：电工>>输变电设备>>K46电力半导体期间、部件
关联标准
出版信息
页数：5 页
标准价格：8.0 元
相关单位信息
归口单位：西安电力电子技术研究所
发布部门：西安电力电子技术研究所
标准简介
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件的热循环负载试验方法。 本标准适用于产品周期检验、鉴定试验。 本标准不适用于产品可靠性定级(或验证)试验。 JB/T 5848-1991 热循环负载试验方法导则 JB/T5848-1991 标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国机械行业标准
热循环负载试验方法导则
1主题内容与适用范围
JB/T5848--91
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件（以下称产品）的热循环负载试验方法。本标准适用于产品周期检验、鉴定试验。本标准不适用于产品可靠性定级（或验证）试验。2引用标准
GB4939
GB4940
GB3187
GB2900.32
GB2828
3术语
普通整流管
普通晶闸管
可靠性基本名调术语及定义
电工名调术语电力半导体器件
半导体分立器件总规范
逐批检查计数抽样程序及抽样表3.1热循环负载试验
按规定的循环次数，对产品施加断续通电，使其结温按规定变化的试验。3.2耐久性
产品在规定的使用和继修条件下，达到某和技术或经济指标极限时，完成规定功能的能力。3.3失效
产品丧失规定的功能。
3.4失效模式
失效的表现形式。
3.5耐久性试验
为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.6耗损失效
产品由于老化、磨损、损耗、疲劳等原因引起的失效。3.7正向平均电流
正向电流在一个周期内的平均值。3.8散热器（电力半导体器件用）由散热器、导电端子、紧固件及绝件（若有）等组成的，对电力半导体器件有散热功能的一套机械结构。
4试验目的
当对产品施加断续额定正向平均电流，使其结温按规定的要求周期性变化时，考核产品电气和机械耐热疲劳的性能。
机械电子工业部1991—10—24批准1992—10—01实施
5电路原理
热循环负载试验电路原理图见图1。R
JB/T5848--91
图1热循环负载试验电路
—提供加热电流的低压大电流变压器；R-一加热电流周期接通和断开的开关，A-D,
6抽样数量
6.1·耐久性试验
一门极自触发回路二极管，Rc
电压降
一调节加热电流的电阻器；
一直流电流表；
一门极电阻；DUT-
受试产品。
按GB4939第3.3条鉴定试验（D组试验）D2和GB4940第3.3条鉴定试验（D组试验）D2分组规定的抽样方案进行。
6.2工艺性检验或用户要求试验
可按生产方或交货合同规定的要求进行。7试验条件
7.1试验电流
试验加热电流波形为工频正弦半（导通角为150°~180°），其值为额定正向平均电流90%～100%。7.2结温变化范围
加热期间产品结温允许的上限值为额定结温T.，下限值为T1--2C℃。如产品串联试验，下限值可为T--20℃：冷却期间的最低结温应不大干40℃。如试验大容量风冷器件比，可不大于50℃。注；如试验环境温度大于40C，被试器件串联试验时，加热期闻产品结温允许的上限值为Tis，下限值为Tj=—20℃，冷却期间的最低结温应不大于50℃。7.3.加热和冷却时间
通常规定试品加热时间不超过6min，冷却时间不超过8min，（见图2）。
7.4循环次数
循环次数采用1，2或5×10\的序列，其中n是包括0在内正整数。184
JB/T5848—91
硅整流二极管和品闸管的焊接器件一般为1000次，压接型器件为5000次。亦可按生产方或交货合同的规定进行。注：由于各种原因使试验中断，应尽可能在24内恢复试验，试验环次数可接续计算。T,
8试验设备、仪器、仪衰
加热时间
一次得环
都医司
测试电路的加熟电流波形和结温变化波形的关系8.1测量热参数的仪表精度应为0.5级，其余试验仪器、仪表的精度应不低于1.5级。8.2试验保护措施
试验时，通电加热时间失控应有保护措施，以限制最高温度。试验时，冷却条件失控亦应有保护措施，以避免下一个循环时，试品结温超过规定值。9失效判据
9.1试验后，判定器件失效的失效判据见表1。表1
器件类别
普通整流管：)
普通晶闸管
派生器件2）
注，1)
USL规范的上限值，
判定失效电参数
Rea (le)
可参照表1中普通整流管和普通品闻管制订相应的失效数据。失效判据\）
>2×USL>1×USL
>1.5×USL
>2×SUL>1×USL
>2×USL或>1×USL
JB/T5848--91
9.2试验结束后，试品在常温下放置2h后再进行测试，全部测试均应在96h内完成，同时应注意按表1列出的顺序进行电参数测试，以避免由于使测试器件特性发生变化。10试验记录和试验报告
10.1试验记录
在试验过程中，应做好准确、完整的试验记录，对每一试品均要按循环次数或失效发生后进行有关漏电流、峰值电压降监测记录。当通电加热时间比试验彻整定值明显减小时，应测试热阻值。当因误试(如试验设备故障或测量仪器故障或操作人员失误）而使器件失效时，应将失效记入试验记录，并说明原因。
10.2试验报告
试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文件，其内容按附录A要求。186
制造单位
试验日期bzxZ.net
试验条件
试验口的
累积试验时间《3）
失效产品编号
产品型号和规格
失效发生时间
累积次效效
试验结论和建议采取的措施
填类人，
试验负责人：
JB/T5848-91
附录A
热错环负能试验报告表
（补充件）
热籍环负载试验报告表
批益数益
生产口期
试验标准、方案等文件名称、代号特
试验前
VruRataouTau
试整设备、收器故降发生时间
试验单位：
附加说明：
本标准由机热电子工业部西安电力电子技术研究所提出并归口。本标准由机械电子工业部西安电力电子技术研究所负责起革。本标准主婴起军人王梦龙、率学敏。u
投试数量
失效判据
现情况
累就您时局
维修人
中华人民共和国
机械行业标准
电力半导体器件
和半导体电力变流器
机械电子工业部机械标准化研究所机械电子工业部第一装备司标准化研究室编辑出版发行
（湖南湘潭下摄司街302号）
湘潭大学印刷厂印刷
开本880×1230
字数346000
1993年7月第一版
1993年7月第一次印刷
印数1—700
印刷号
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热循环负载试验方法导则
1主题内容与适用范围
JB/T5848--91
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件（以下称产品）的热循环负载试验方法。本标准适用于产品周期检验、鉴定试验。本标准不适用于产品可靠性定级（或验证）试验。2引用标准
GB4939
GB4940
GB3187
GB2900.32
GB2828
3术语
普通整流管
普通晶闸管
可靠性基本名调术语及定义
电工名调术语电力半导体器件
半导体分立器件总规范
逐批检查计数抽样程序及抽样表3.1热循环负载试验
按规定的循环次数，对产品施加断续通电，使其结温按规定变化的试验。3.2耐久性
产品在规定的使用和继修条件下，达到某和技术或经济指标极限时，完成规定功能的能力。3.3失效
产品丧失规定的功能。
3.4失效模式
失效的表现形式。
3.5耐久性试验
为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.6耗损失效
产品由于老化、磨损、损耗、疲劳等原因引起的失效。3.7正向平均电流
正向电流在一个周期内的平均值。3.8散热器（电力半导体器件用）由散热器、导电端子、紧固件及绝件（若有）等组成的，对电力半导体器件有散热功能的一套机械结构。
4试验目的
当对产品施加断续额定正向平均电流，使其结温按规定的要求周期性变化时，考核产品电气和机械耐热疲劳的性能。
机械电子工业部1991—10—24批准1992—10—01实施
5电路原理
热循环负载试验电路原理图见图1。R
JB/T5848--91
图1热循环负载试验电路
—提供加热电流的低压大电流变压器；R-一加热电流周期接通和断开的开关，A-D,
6抽样数量
6.1·耐久性试验
一门极自触发回路二极管，Rc
电压降
一调节加热电流的电阻器；
一直流电流表；
一门极电阻；DUT-
受试产品。
按GB4939第3.3条鉴定试验（D组试验）D2和GB4940第3.3条鉴定试验（D组试验）D2分组规定的抽样方案进行。
6.2工艺性检验或用户要求试验
可按生产方或交货合同规定的要求进行。7试验条件
7.1试验电流
试验加热电流波形为工频正弦半（导通角为150°~180°），其值为额定正向平均电流90%～100%。7.2结温变化范围
加热期间产品结温允许的上限值为额定结温T.，下限值为T1--2C℃。如产品串联试验，下限值可为T--20℃：冷却期间的最低结温应不大干40℃。如试验大容量风冷器件比，可不大于50℃。注；如试验环境温度大于40C，被试器件串联试验时，加热期闻产品结温允许的上限值为Tis，下限值为Tj=—20℃，冷却期间的最低结温应不大于50℃。7.3.加热和冷却时间
通常规定试品加热时间不超过6min，冷却时间不超过8min，（见图2）。
7.4循环次数
循环次数采用1，2或5×10\的序列，其中n是包括0在内正整数。184
JB/T5848—91
硅整流二极管和品闸管的焊接器件一般为1000次，压接型器件为5000次。亦可按生产方或交货合同的规定进行。注：由于各种原因使试验中断，应尽可能在24内恢复试验，试验环次数可接续计算。T,
8试验设备、仪器、仪衰
加热时间
一次得环
都医司
测试电路的加熟电流波形和结温变化波形的关系8.1测量热参数的仪表精度应为0.5级，其余试验仪器、仪表的精度应不低于1.5级。8.2试验保护措施
试验时，通电加热时间失控应有保护措施，以限制最高温度。试验时，冷却条件失控亦应有保护措施，以避免下一个循环时，试品结温超过规定值。9失效判据
9.1试验后，判定器件失效的失效判据见表1。表1
器件类别
普通整流管：)
普通晶闸管
派生器件2）
注，1)
USL规范的上限值，
判定失效电参数
Rea (le)
可参照表1中普通整流管和普通品闻管制订相应的失效数据。失效判据\）
>2×USL>1×USL
>1.5×USL
>2×SUL>1×USL
>2×USL或>1×USL
JB/T5848--91
9.2试验结束后，试品在常温下放置2h后再进行测试，全部测试均应在96h内完成，同时应注意按表1列出的顺序进行电参数测试，以避免由于使测试器件特性发生变化。10试验记录和试验报告
10.1试验记录
在试验过程中，应做好准确、完整的试验记录，对每一试品均要按循环次数或失效发生后进行有关漏电流、峰值电压降监测记录。当通电加热时间比试验彻整定值明显减小时，应测试热阻值。当因误试(如试验设备故障或测量仪器故障或操作人员失误）而使器件失效时，应将失效记入试验记录，并说明原因。
10.2试验报告
试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文件，其内容按附录A要求。186
制造单位
试验日期bzxZ.net
试验条件
试验口的
累积试验时间《3）
失效产品编号
产品型号和规格
失效发生时间
累积次效效
试验结论和建议采取的措施
填类人，
试验负责人：
JB/T5848-91
附录A
热错环负能试验报告表
（补充件）
热籍环负载试验报告表
批益数益
生产口期
试验标准、方案等文件名称、代号特
试验前
VruRataouTau
试整设备、收器故降发生时间
试验单位：
附加说明：
本标准由机热电子工业部西安电力电子技术研究所提出并归口。本标准由机械电子工业部西安电力电子技术研究所负责起革。本标准主婴起军人王梦龙、率学敏。u
投试数量
失效判据
现情况
累就您时局
维修人
中华人民共和国
机械行业标准
电力半导体器件
和半导体电力变流器
机械电子工业部机械标准化研究所机械电子工业部第一装备司标准化研究室编辑出版发行
（湖南湘潭下摄司街302号）
湘潭大学印刷厂印刷
开本880×1230
字数346000
1993年7月第一版
1993年7月第一次印刷
印数1—700
印刷号
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