-
- GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
- GB/T 4587-1994
-
- GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- GB/T 4377-1996
-
- GB/T 4376-1994 半导体集成电路电压调整器系列和品种
- GB/T 4376-1994
-
- SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法
- SJ 20788-2000
-
- SJ 20787-2000 半导体桥式整流器热阻测试方法
- SJ 20787-2000
-
- SJ 20786-2000 半导体光电组件总规范
- SJ 20786-2000
-
- SJ 20758-1999 半导体集成电路CMOS门阵列器件规范
- SJ 20758-1999
-
- SJ 20756-1999 半导体分立器件结构相似性应用指南
- SJ 20756-1999
-
- SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
- SJ 20744-1999
-
- SJ 20642-1997 半导体光电模块总规范
- SJ 20642-1997