本规范构成国际电工委员会电子器件质量评定体系的一部分。本规范是半导体器件(分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路)的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序。 GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T4589.1-2006 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS 31. 0B0. 01
中华人民共和国国家标准
GB/T 4589.1--2006/1EC 60747-10:19910T06000
代替（GR/T4589.1-1980
半导体器件第10部分：
分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices-Part 10 : Generic specification fordiscrcte devices and integrated circuits(IEC 60747-10:1991,IDT)
2006-10-10 发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2007-02-01实施
GB/T 4589.1—2006/TEC 60747-10:1991前言
1范围
2总则
优先顺序
有文文件
单位、符号和术语
电压、目流和温度的优先值·
质量评定类别
注意事项
质量评定程序
鉴定批准的资焙
有业保密信息
检验批的构成
结构相似器件
鉴定批推的轻子
质量一致性检验
统计拍样程序
规定 LTPD 时的耐久性试验
规定火效率时的游久性试验
加速试验程序
能力批准
4试验和测试程序
4.1电试和光测试的标准大气条件.4. 2破坏性试验定义
4.3物理检查
4.4电测试和光测试
4.5环境试验
附录A（规范唑附录）
附录B(规范性附录)
批充许不合格品率(t.TPD)抽样方案需检查的寸*
附泉C（规范性附录）
机城试验加力的方向
附录D（资料性附录）按PPIa(百万分之一)评价质量水平附录NVA（资料性附录）本标准对IEC6U747-13：199上所做的缩辑性修改和原因TIKAONrKAca
GB/T 4589. 1—2006/IEC 60747-10 : 1991本部分是半导体器件系列国家标准之一，下面列出本系列已出版的国家标准：-GB/T12550—1999半导体器件分立器件分规范GB/T 17573 ---1998
GB/T 4023—1997
半要体器件
分立器件和集成电路第1部分：总则分立器件和集成电路第2部分：整流一极管半导体器件
半导体器件分立件第3部分：信号(包括开关)和调整二极管GE/T 5571--1995
-(B/T 20516-2006
半导体器件
-GB/T 15291-1994
半导体器件
wwGB/T 4587—1994
分立器件第4部分：微被器件
第6部分：晶闸管
分文器件和集成电路第7部分：双极型品体营平导体器件
半导休器件：分立器件第8部分，场效应晶体管-GB/T 4586—1994
GB/T 16464 19S5
GE/T 175741958
-GB/T17940—20C0
GB/T 127E3-19G1
-GB/T 8976-—1996
半导体件，
半号体器件
集成电路　第1部分.总则
集成电路第2部分：数字成电路
半导体器州集成电路第3部分：模拟桌成地路半导体集成电璐分规范（不包括混合电路）膜集成电踏和混合膜集成电踏总规范-GB/T 11498-19831
膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采月鉴定批准程序）-GB/I 16465-—19S5
膜集成电路和混台膜集成电路分规范（采月能力批准祥序）本部分等同采用LEC607.17-10:1991（QC730C00)%半导体器件第10部分：分立器件部集成申路总规范》(英文版)，间时将下列三个修收单的有关内穿纳人其中：-Amendenert l(l995-02);
Amendement 2(1996-02):bzxz.net
Amendement 3(1996 08).
本部分代替GB/T4589.1—1989&半导体器件分立群件和集成电路总规范”。本部分与-H/T4589.11989相比，主要变化如#：-2.1条优先顺宇中\空白洋细规范\排在了“族规范”之前;-2. 2 条 有关文件中删除了与 IEC 147,IEC 128 有关的标准,增加了 IEC 60747-5:1984、IEC6C747-11:1985,IEC 60748-1:1984,IEC 66748-2:1985,IEC 50748-3;1386,1EC 60748-11:1990等有关标准，同对ISO2C15：1975被ISO8601:1988替代，ISO1000的年代号更新为1981，ISO2859的年代号更新为1989；
-增珈了2.8“注意事项\的内容-增加了3.10如速试验程序”,3. 11“能力批准”和4.2\被还性试验的定义”等相关内容：-增加了附录资料性阳录)\按PPm(百万分之一)评价质量水平\：-对第 3. 9. 5 1 的内容进行了变更;一对第1章*电测试\内容进行了调整，本章内容也适用于光测试,因此该章所有“电测试\改为“电测试和光测试”，
对第4章中正文参考约标准：如IEC60747-2，EC60747-5，本部分删除该标推号及其相关内容；
附录B\需检查的尺寸”中对集成电路部分进行了调整，本部分2. 2有关义件中与IEC 标准相对应等间采用的国家标准是：1
GB/T 4589. 1—2006/IEC 60747-10:1991IEC.标准编号
C 50C68-1:1988
E0 60c68-2-1:1990
TEC 60C68-2-2:1974
IEC 60C617-12:1991
IFC 6066:7. 13:1503
国家标准编号
GB/T 242-—1S99
GB/T 2423. J-200
GB/1 2123.2-—2001
GB/T 4728. 12--1996
GB/T 4728. 13-1996
1EC标准综号
IEC 50747-1:1983
IEC 60747-11:1985
IEC 60718-1:1984
IFC 60748-2:1785
FC 60748-3:1386
本部分对IEC 6C747-1C;1S92的编辑性修效意见见附录NA。国家标准编号
GB/T 17573—1998
GB/T 12560—_999
GB/T 16464--1996
GB/T 175741998
GB/T 17940—2000
本部分的陆录A.附录B和附录C是范性附录，附录D、荫录NA是资料性附录、本部分山中华人民共和国信息产业部出。本部分自全国平导体器件标准化技术委员会归口。本部分起草单位：中国电子术标准化研究所(CESI)。本部分主婴起草人：罗发明，陈裕邑、金毓链。1
IKAONIKAca
1范围
GB/T 4589.1--2006/IEC 60747-10 :1991半导体器件第10部分：
分立器件和集成电路总规范
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(1ECQ)的一部分。本规范屋半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集电路，但不包混合电路)的总规范，本规范规定广在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总虑则：-电特性测试方法；
气候和机械试验；
谢久性试验。
注：坐存在已批准的、适于特定的一种酸几种器件类型的分规英,族规范利齐白详细规范肘必须用这些规范来补充本规范。
2总则
2. 1优先顺序
当出现矛盾的要求时，各种文件应要以下校限融序排列：）详细规范！
2）空白详纽规范：
族规范(若孝在时)；
分规范：
总规范：
基硼规范；
7）IECQ程序规则;
需要参考的其他国际文件,如IEC 义件;；国家文件。
间样的优先顺序也适压于等效的国家文件。2有关文件
详继规范应措出适月的文件：
IEC 标准：
IEC 60027
1FC60050
TEL:60068
电工术中使用的文字符号
国际电工技术词汇(TFV)
基本环境试验规程
IEC60068-1:1988第1部分：总则和导则IEC600G8-2第2部分：试验
IEC600191半导体器件的机械标准化IEC 600191 1:1966$
第1部分：半导体器件的制图
及其补充
IEC60191-2:1966第2部分：寸
及其补充
IEC60191-3：1974第3部分：集成电路外形图绘制的一般规购3
GB/T 4589.1-—2006/IEC 60747-10;1991及箕补充
IEC 60410:1S73计数检查独样方案租程,序IEC60617示图中的图形符号
IEC60747半寻体器件分立器件和集成电路IEC60747-1:1983第1部分：总则IEC60747-5:198第5部分：光电子器件IEC60747-11:1985第11部分：分立器件分规IC60747-12/QC720100：1991半导体器件第12部分：光电子器件分规范IEC60748半导体器件英成电路
IEC 60748 1:198z第 1部分:总则IEC 60748-2:1985
1EC 60748-3:1986
第2部分：数了集成电路
第3部分：模拟集成电路
1EC60748-11:1990第11部分：平导体集成电路（不包招混合电路）分规范半导体器件机械和气候试验方法IEC 60749
IECQ程序规则
IEC QC C01002:1986
ISO 标准：
IS0 1c00:1981
150 8601:1983
国际单位(SI)和推荐使用的国际单位的组合及共他单位嫩君元和交换格式一
信总交换
计数检查抽样程序
150 2859.1989
2.3单位、符号和术谱
日期和时问表示游
单位、图形符号、文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取：iSO lcuo
1EC 6C927
IEC6005c
IEC 6C617
执行本总规范的某种半导体器性所特有的其他单位,符号和术语,应取息有关的 TEC: 或 ISO)标准（见2.2）或根据上述标准的源如导出：2. 4电压,电流和温度的优先值
用于电特性测试、试验和工作条件的电压、流和温度的优先值，见 IEC 6C747-1 科 IEC G0748-1。2. 5 标志
a）器件上的标志
当面积许可时，应在器件标出以下标志：可引出端识标志（见 2. 5. 1);1
型号(见 2. 5. 2)、质量评定类别(见 2.6)和适用时的筛选序列(死. 2. 7) 制造商名称、起首字母或商标和适月时的1.厂识别代码（死2.5.3)13
检验批识别代码（见2.5.4)：
5）如不采用合格认证标志，就成有合格标志，5
适崖时，标出特殊注意事项，
当面积不充许全部标出睡，详细规范放按上述优先序给出最低要求。h）始包装上的标志
以下标志应出现在作为交贷时的最初保护或包装物初始包装物工：除引出端标志之外的2.5 a)所列的全部标志！1)
详继规范号！
TKANKAca-
3）：特棘注意事项，例如著告标记等，2.5.1引出端识别（参照1EC60747-1第章8)CB/T 4589.1--2006/TFC.60747-10:1991在详细规范中应参照规定的外形或废座图规定引出端的识别。2.5.2型号名称
当在器件上标志型号时，最好以字母和数字表示，或当详纽规范有摄定时用色标去示。色标可以在分规范中给出。
2.5.3制造商名称或商标
如果制造商名称商标不能追溯到制造厂，则应采用制造厂识别代码。2.5.4检验批识别代码
检验批识别代码用1S08601规定的周的编号之前加上升份的最后两位数字来表示（例如：0445表示2004年的第45周），当器件上可标志的面积有履，E.详细规范有规定时，则年份的第一位数字可以省略(例如?-45衰示2004的第45周）。这个代码是批提交检验时的日期。当在同一周内某种型号提交检验的批多于-个批时，则可采用检验批识别后缀（例如用一个字母）求区别各个连续批。2.6质量评定类别
本规范规定！个质量评定类别，有检验批识别代码的同一检验批内的器件，按规竟的质量类别进行检验。与同样的检验分组对应的AQL或LIPL可依类别而异，并应符合详细规范的规定，对各类别的最低妥求妇下：
I类该类器件符合Ⅱ类或前类鉴定批准要亦。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每二个月对一批迹行可焊性检验，应符合要求。每年进行一批B和C组检验，应符合要求。Ⅱ类-该类的批符合 A 组和 B组逐批检验要求以及 C 组周期检验要求类一m-该类转批蒂进行 10C%籍选+作符合 A 组和 B组逐批检验要求以及 C组周期检验要求。分规范应规定各类的最低要求。详细规范可以包含在总规范、分规范或空自详细规中没有的，包括筛选在内的补充要求。
2.7筛选
筛选是对一批中所有器件进行的检验或试验，当详细规范有要求时，应安分规范的有关表中所给出的序列之一，对提交批宁的全部器件进行简选，并剔除全部有缺陷的器件。只有当上还序列与公认的失效机理无关或有予盾时，才来用示规定的其他序列。当分规范的有关表中规定的筛选程序的一部分，按规定的序构成了制造工序的部分时，则不必重复这些程序，就本规范而言，老炼定义为在规定时间内对批中所有器件施加热应力和电应力，以检出并别除踏在的早期失效器件。2.8注意事项
见 IEC 60747 1,第 IX 查。
对有害产品（如 BcO)应给出充分的警告。3质量评定程序
质量评定包括3,5中规定的状得鉴定批准的程序及之后按详细靓范规定的逐批(如要求时也包剂筛选》以及周期的质量一致性检验，质量评定试验分为逐批或用期进行的（按2.6现定)A组，B组和C组试验。在某些情况下，也可以规定门组试验，例如为了进行鉴定批准。3.1鉴定批准的资格
当IECQCC0_002的第1章的条件得以满足时，某个型号的器件即有资格进行鉴定批准，3. 1.1初始制造阶段
初始制造阶段在分规范中规定。GB/T 4589.1—2006/IEC 60747-10,19913. 2商业保密信息
如果制造过程的一部分是商业上保密的，则感期以适当的标注，而总检查员应当证明已经遵循了IECQC.0C10C2的10.2.2的要求，使国家监督检查机构(NSI)满意3.3检验批的构成
光1EQ001002的12.2。
3. 4结构相似器件
R, IEC QC 001002 的 8. 5. 3,有关分组的细节在有关的分规范中给出。3. 5鉴定批准的授予
见 IEC QC 001002 的 11. 3. 1.制遗商可以接分规范中给出的检验要求，选用IECQC 001092 中 11.3.1的方法a)或方选b）。样品叫山殖当的绪构相似器件组成，在某整情况下，鉴定批准要求D组验，详纸规范中作为试验结束后要求的所有变化量测试，应记录变化数据，鉴是报告应包括一份行组和齐分组所进行的全部试验给果的摘要，包括被试器件数和失效器件数。根据型化量和【或计数数据得血这份摘要制造商应保留所有的数据，以供NSI要决时使用，3. 6质量一致性检验
质重·致性检验应出 A组,B组,C.组和当有规定时的 D组检查和试验组成。对于 B组检验和 C 组检验,其样品可出结构相似器件组成。调期检验的样品应从批或儿批中油取，这些批也应通过A组和B组检验。各个器行应通过按详细规范要求的 A 组测试。
3,6. 1组和分组的划分
制定详细规范时婴遵循以下雅则3. 6. 1. 1 A 组捡验(逐批)
本组规定了遂批让行的评定性主要特性的检和电谢试。除另有规定外，不充许结构相似分组A组检验分为以下各分组：
A1 分组:本分组山 4. 3. 二. 1 条规定的外部月检组成。A2分红：本分组由对器件主要特烂的测试红成A3和A4分红：可不要求这些分红，它们由对器件次要特性的测试红成。对每个器件类别的拾当要求,在有关的分规范中给出。测试项目列人 A3 还是 A4 分组本质上取决丁需要在哪一个质量水平上进行这测试，
3. 6. 1. 2B组检验L逐批，I类除外(见 2. 6)1本组规定「用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括正常備说下在-周内能够完成的机械,气恢和电耐久性试验。
3. 6. 1. 3C组检验(周期)
本组规定了商期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括适合一每间箱三个月（Ⅱ类利Ⅲ类)或间隔一年（「类）或按有关规范规定生行验的电测试、机械、气候和耐久性试验，3.6.1.4B组和C组分组的划分
为了能够比较和在必要时(见 3. 6. 3)便一从B组到 C 组及相反的转化,B组和 C组十相应的试验列入其有相同编号的分组。
划分如下：
B/C1 分组;包括控制器件立换性尺寸的测量I32aC2a分组：包括评宠器件设计特征的电和北件能的测点，4
KANKAca
GB/T 4589. 1-2906/IEC 60747-10:199tB2b/C2b分组：创括在不同电压,电流，温度或光条件下对器件在A组中已测试过的某些电和光特性进一步评定的测试，
Bc/C2分组：适用时，包括器件额定值的验证。B3/C3分组：包川以评定器件引出端机械强度的试验。例如，螺栓转矩，引线弯曲等试验，B4/C4分组：包括用以评定器件接性能的试验B5/5分组：包活用以评定器件经受气候应力能力的试验。例如，温度变化，密封等试验。B5/CG分组：包括用以评定器件经受机械成力能力的试验，例如，恒定加速度试验。B7/C7分组:包括用以评定器件经受长时间潮热能力的试验，B8,C&分组：包拆用以评定器件在耐久注试验条件下失效特征的或验。B9/C分组：包括用以评定器竹在极限温度贮存条件下电和光性能的试验。B10/C10分组：包括用以评定器件在气压变化时的性能的氧验B11C11分组，包括标志耐久性试验，CRRL分组:选择并列出1:述各分组中已做过的部分试验和(或)测试,将其结果在放和批证明记录(CRRL)中给H:
这些分组可以不全部要求。
3. 6. 1. 5D 组检验
本组规定每隔十二个月或仅供鉴定批推时所要按行的程予，3.6.2检验要束
应来用3.7敏述的统计抽样程序，3.6.2.1批拒收判据
不符合A组或B组质量一致性检验的批，不减接收。如果在质量一繁生检验过程中,器件未能通过某个分红中的一项试验，将会导致该批被拒收，质显一致性检验即可签止，并将该批识作A纽或B组的收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交，则应被认为是拒收批。3.6.2.2重新提交的批
当技术上可能时，经过返二重新提交质量致烂检验的头效批，应点包含原来批计的那些器件，且等个检验组（A组和B组)只能重新提交一次，重新提交的那些批应与新的各批分开，并应清楚地标明为重新提交批。重新提交的批应采用加产检验的办法随机地重新抽取样品，并对全部失效分经进检验，B红失效的重新提交应包括A红检验，3.6.2.3试验设备教障或操作人员失误情况下的程序如更确信器件失致是山于试验设备故障或操作人员失误引起的，应把失效记人试验记录中但经NSI同意后可不记人CRRL中），连向为什么确认不计作失效的一份完整说明提交给NSI。总检查员决定是否可将同个检验批中的替代器件补充到样品中。替代器件应经受报度器件在失效之前己经受过的间样的试验，还应经受报废器件按规定进行而在失效之前尚未进行过的试验。3. 6. 2. 4周期性检验失效时的程序当B组失效时，则相应的C组检验(见3.6.1.4)即无效，如果周期捡验父效不是由于设备故障或操作人员关误引起的，则：执行ECQC901002的12.6，并作如下修改——12. G.三a)：“插停该结树相似组今内的所有器件在杰体系内放行”。—12. 6. 4 a)：“存改正了制造错误之后,对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序”。一—12.6.8如果鉴定批准是按[FCQC:001002的12.6.7撤销的，则可按NSI的意见采月一种筒化程序（生要针对引起失效的那些特性的试验）恢复鉴定批准”。5
GB/T 4589. 1---2006/IEC: 60747-10:19913.6.3放宽检验的附加程序
3. 6. 3. 1 B组
可采用种特殊的放宽检验程序，允许制造商在最长三个月间随对间内对B组检验的所有分红每隔三批检验一批案代替逐批地进行B组正常检验。当某一分组符合要求条件时，这神特殊程序即适用于该分组，这种变化的系件是连继十批酒过B组检验，按放宽检验程序，当基组样品不符合某分组检验时,应恢复为B组止常检验。
3. 6. 3.2 C组
当周期试验的间隔时间观定为三个月时，如果接三个月问隔时间连续三欲通过了周期试验，则试验胃期可延长为六个月。按延长间隔时问程序，当某组样品不符合某分组检验时·应复为正常的三个乃间隔时间（见 3. 6.2.4)。
3.6.4小批查抽样要求
批量小于或等于200时.应采用符个附录A相应要求的下列程序（当规定采用AQL方案时，应百先从附录 A 的表 A. 3 选择等效的 LTPD 值)a）非被坏性试验
1）二C0%的器件或由路成进行指明为非被坏性的试验，2）或者，录A的表A.2中适用的LT2D一次抽样方案；3）或者，适用的LTPD二改抽样方案。h）敲坏性试验
1)根据附录 A 的表 A. 2 中适用的[:TH)一次抽样方案;2）或者,用的 L1PD 一饮抽栏方案。3.6.5放行批证明记录（CRRL)
见IE℃℃01002的第14章，
3.6.6经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货认为是破坏性的试验应在空白详细规范中标明（I)。经受过被环性试验的器件，不应包招在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件.只要它们按A组要求重新检验且符会要求则可交货，3.6.7延期交货
贮存超过两年的批在交货之前，整批或要交贷的部分应经受规定的A纠检验和B组可焊性试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后,则以后两个不寻婴求重新试验，3.6. 8变货的附加程序
制造商可提供比指定的评定水平更加严格的器件代替评定水平较不严格的器件。3.7统计抽样程序
对于A组检验，可采用AQL拍样程序<按IEC:6041G和ISO2859），或者ITPI)抽样程序（按附录A)。详细规范应规定采用赚·种程序；在分规范中给出AQL值（和检验水平）及LTPD值对其他组检验，应采用[TP>查序：在任何一个分组或次分组中的所有试验，应按一个单一的AQL（和检食水平）或一个LTFD选行总评定。
3. 7. 1AQL(可接受质量水平)抽样方案有三种类型的抽样方案：一次、二次和多次。当儿种类型的抽样方案都适用于某个给定的AQL和代码字母时，则可采用任何一种（见IEC 60410的3.5)。3. 7. 2批允许不合格品率I.TPD)抽样方案死断录A。
3. 7. 3AQL 抽样方案和 LTPD 抽样方案间的相互关系为保证AQL和LTPD抽样方案间的对应关系，A纠检验的最大合格判庭数应不大于4(见附录A6
TKANKAca
的表 A. 3）
3. 8规定LTFD 时的耐久强试验
CB/T 4589. 1-2006/LEC 60747-1G : 1991当规定了LTPD时，接收程序应按附录A的A.2的规定。简若小合格，可采用附录A的A.3的程序。
尚若最后该批仍不台格-则应采用3. 6.2.1 的程序。3.9规定失效率时的谢久性试验
本规范所采用的失效率定义为以每1OCUh的百分数表示的LTPD，注，耐久栏试验的最大允许失效率，不证该用于正常工作条件下的可性的预测。在正带下作条件下，加在件的应力适常比耐久性试验时（只有如速效应）要低得多，同时在寿命的初期（洲如在上作的第一个。(\0)h)器牛的失效率往征以后要高得多，
3.9.1概述
耐久性试验应按所述的释序进行，器件在最大额定值或最大额定值范围内完成的耐久性试验，应认为是非被坏烂的
3.9.2样器的抽职
耐久性试验的样品应从该检验就中随机抽取(见附求 A)。1 00 h试验的样品量应白制造商从表A. 1或表 A. 2(见附录 A)的规定失效率栏(表 A. 1)实际批量栏(表 A. 2)中选择。合格判定数应与斯选择的特是痒品量相对应3.9.3失效
一个器件在任何规定的读取时间，末能符合前久性试验想定的一个或多个的终点极限值，则应认为失效，而且在之后的仟有读取时间也认为是失效的。如果一组样品失效，制造商可自行停止试验，3.9. 4耐久性试验时间和样品鼠每当规定了关效密,初次时久性试验讨间应是 1 000 h。一且通过了 1 000 h 的试验,对自1000h耐久性试验之后不超过120天所提交的新的样品，即可开始至少340h的耐久性试验。详细规范可以允许最民 2 000 4的试验时问，试验时问不是： 900 h 的耐久性试验样品量,应按试验间与样品量之间的反比义系来选择，使累计的总的器作小对（样品量×试验小时）等于1000H射久性试验别选择的器件小时数，合格判定也应以1000h试验时对应的样品量来确定，如果在试验周期结京时失效数不超过合格判定效，则该项试验合格。3.9.5发现的失效数超过合格判定数时采用的程序尚若在耐久性试验户发现的失效数超过合格判定数，制造商成征选下列方案中的一种：1）撤消整个批饮：
2）按 3. 9. 5.1 逍加样品
3）如果最初选择的试验时间短于1c00h，则按3.9.5.2将试验时间延长到1000h。执行以上程序之后,则执行 3. 6. 2. 4 的差序。3.9.5.1追加样品
对于每次提交，这种方案只能采用一次。当选样这种方案时，新的总栏品量（最初的加上追加的）应由制造商以表A1或表A.2(附录A)的规定的失效率（表A.1)或实际批量（表A.2)栏中选取：成从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量，新的合格判定数应与所选择的新的总择品量相对应、追加的样品应经受与最初的样品相同的磁久性试验条件和时问。如果发现的总的不合格品数（最初的加上追如的）不超过总样品对应的台格判定数，则该批接收；如果发现的不合格品数超过了新的合格判定数，认为该批应拒收。3.9.5.2耐久性试验时间的延长
如果采用的耐久性试验时间短于1C00h，而且在最初的样品中发现不会格品数超过了合格到定数，制造商可不迫加样品，而决定将整个最初样品的试验时间延长到1000h，并根据表A.1或囊A，2GB/T 4589. 1—2006/[EC 60747-10: 1991（附要A)确定一个新的合格判定数，新的合格判定数应与小于或等于试验样品量靓定栏内的最入抽样量相对应，在最初读取时间失效的器件，在1000h读取时间应仍以为是关效的如果发现药不会格品数超过这个个格划定数，划认为该批应拒收。3.10加速试验程序
适月时，加速试验程序能在短于非加速试验耍求的时间内得到试验结果，并给出等效的质量评定，详细规范应说明该加遵试验是否是破坏性的。造月于：
a）鉴定批推和质量一致性
如果3.10.1的要求能完全满是，作为总规范（及当时分规范)的强制性要求部分，尚期试验(C组和组试验可以亲用本茶中【惑分规范相应条款给出钓试验程序。h）戚品筛选
分规范辅总规范充评采用加速试验释序。3. 10.1 适用于周期试验的条件如果满足下列条件，制造商可根据3.10 )采用加速试验程序。一应通知NSI哪些试验已采用加速试验程序及其相应变化：一每一CRRL指明何处采用了加速试验程序；制造商需向用广(包据从被认唯的销普商案购产品的用户提供所有加速试验程序的详细说明。
3.10.2热加速电耐久性试验程序加速是以魔方莱实现购，只有在非顾速试验及圳速品验听获得的有效温范蛋内器件时失数率可用恒定的激活能摧述时才适爪。在适压处，加速试验程序将整查出一顾期的失效桃理是古达到异常严兰的程度一是香显著存在新的媚短寿命的失效机理。二）瑪论摸
假设失效机理可通过提高有效结温来加速。如果与器件预期失效机理有关的激活能值是已知的；且在整个有教温范内恒定不变,那么该失效机理的时问和温度之间的关系可月下式(A.rrhenius 定律)表示：
F=号=exp·
式中：
热明建因子
F,微活能值,用 eV表示：
，非加速试验和加速试验的持续时间，用时可单位表示；、T：一一非加速试验和加速试验的有效结温，K表小：——玻尔兹曼常数(—8.62×10-cV/K)。2）试验条件
湿度：
制造商应指定一个有效结温(12)的值，指定值发生改变时应符会3。10.1的要求。仪对集成电路,指定值应小于或等一某一有效结温，高士这一有效结温时电源电流与有效结温的关系曲线将偏离线性。
在指楚的有效结温工，下，与非速试验紊件相比，器件工作应无显著变化，持续时间：
TKANKAca-
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