详细规范应规定正常使用时和振动、碰撞或冲击试验时所采用的安装方法。晶体件应按正常方式安装。晶体件的设计可以按其用途要求专用安装夹具。在这种情况下，详细规范应绘制安装夹具图，并应在振动、碰撞或冲击试验应用中采用这种安装夹具。 GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E GB/T15020-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
电子设备用石英晶体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元件评定水平E
Quartz crystal units for use in electronic equipmentBlank detail specification
Resistance welded quartz crystal unitsAssessment level E
GB/T 15020 -94
本空白详细规范是对总规范的-种补充文件，并包含了详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范，不认为是符合有关认证体系的规范，也不应该按这些格式来编排。在首页括号内数字标注位置上应填写下列相应内容。详细规范的识别
（1）授权起草详细规范的组织：IE或国家标准机构。（2）IEC和（或）国家标准的详细规范编号.出版日期和国家体制需要的更多内容。(3）IEC和（或)国家标准的总规范的编号和版本号(4）IEC 和(或)国家标准的空白详细规范编号。（5）晶体元件类型的简略说明，（6）典型结构的简略说明（当适用时）。（7）标有对互换性有重要响的主要尺小的外形图和（或）引用国家或国际的外形图方面的文件，另-种方法是这种图形也可在详细规范的附录中给出。(8）用途或用途组别和(或)评定水平。（9）最重要特性的参考数据，以供不同类型品体元件之间能进行比较。国豪技术监督局1994-04-04批准..com1994-12-01实施
按GB12273评定质量的电子元件
外形图（见表1)
GB/T 1 5020—94
(在此给定的尺寸范围内允许给出其他图形）GB/T15020—94
电阻焊石英晶体元件
频率范围：
kHz(MHz）
评定水平;E
性能等级：
按本详细规范鉴定的元件的有效数据在合格产品·览表中给出(2)
1 一般数据
GB/T 1 5020--94
1.1推养的安装方法
详细规范应规定正常使用时和振动、碰撞或冲击试验时所采用的安装方法。晶体元件应按正带方式安装。晶体元件的设计可以按其用途要求专用安装爽具。在这种情况下，详细规范应绘制安装夹具图，并应在振动、碰撞或冲击试验应用中采用这种安装夹具。1.2尺　
尺寸应符合1EC122--3频率控制和选择用石英晶体元件第3部分定的或详细规范中规定的尺寸，详见表1。表1
外形尺小标记
1.3额定值和持性
标称频率，基频或泛音、负载电容、谐振电阻和激励电平见表2：表2
标称顺章
kHz MHz
基颗或泛育
调整频差(25±2℃)
温度频差：
负载电容
工作温度范围和可工作温度范围；并电容！
寄生响应（适用时）：
频率可调性(适用时)：
绝缘电阻；
气候类别。
1.4引用标准
TEC 68
基本环境试验规祸
IEC 68- -2 -17 试验 Q:密封
试骏T：锡焊
IEC 68—2—20
1EC682-32试验Et自由跌落
1EC 122—1
IEC 122—3
激励电平
标准外形及插脚连接现
谐振电阻或负载谐摄电阻
频率控制和选用石英晶体元件第1部分标推值和试验条件频率控制和选择石英晶体元件第3部分标准外形及插脚连接TFC:410计数检查抽样方案和程序GB191包装储运图示标志
GB12273石英晶体元件总规范
1.5标志
GB/T 15020-94
1.5.1除非另有规定，每个石英晶体元件上的标志应从下列项月中选取，每项的相对重要性由它在项日中的位置来表示：
A型号，
标称频率：
制造厂名称或商标：
制造日期：
特殊特性。
注：1.5.1条d款和e款中的内容可以按制造厂或国家的型号或形式命名以代码形式给出。1.5.2晶体元件应清晰地标有1.5.1条：款内容，并且应尽可能地标上认为必需的其余项目。1.5. 3装有元件的包装应清晰地标有列在 1. 5. 1 条中的全部内容。1.5.4使用任何附标志应以不引起混清为原则。1.6订货资料
本规范所包含晶体元件的订单应用明文或代码形式至少给出下述内容：.
标称频率，
调整频差：
温度颊差：
激励电平，
负载电容：
谐振电阻或负载谐报电阻：
并电容，
工作温度范围(可工作温度范围)（有要求时）：尺寸：
放行批证明记录(有要求时)+
其他。
1.7放行批证明记录
当详细规范中有规定且当订货方有要求时，应按GB12273的3.5.1条所要求的内容进行。在耐久性（或恒定混热）试验以后，要求变化的参数是：谐振顾率或负载谐搬频率，谐振电阻和绝缘电阻。1.8附加内容（不作检验用）
1.9对总规范的规定而言.增加或提高的严酷度和要求。注:仅当必要时.才增加或提高要求。1.10特殊特性
2质量评定程序
2.1初始制造阶段
按GB 12273 初始制造阶段确定为腐蚀或抛光工序。2.2鉴定批准
鉴定批准试验的程序按GB12273第3.4条规定。以逐批检验和周期检验为基础的鉴定批准试验一览表程序在本规范2.3条中规定。采用固定样本人小·-览表的程序在下述2.2.1(见表3)和2.2.2条中规定。GB/T 1 5020—94
2.2-1以固定样本大小为基础的鉴定批准程序在GB12273第3.4.2条b款规定了固定样本大小鉴定批准程序，样本应足以代表申请批准的晶体元件的范围。样本应在同一详细规范所包含的产品中选取。样本应有基频的最低、最高和中间频率及各次泛音的最低和最高频率的样品组成，并且具有最宽的工作温度范围，最严的调整频差和温度频差。每种值（见GB12273的3.3.1条）的样本大小为32只。表3规定了鉴定批雅试验的每组所需的样品数及允许不合格品数。2- 2-2试验
本规范包含的石英品体元件鉴定批准时必须通过表3所规定的一系列试验，每组的各项试验应按规定顺序进行。
全部样品均应通过0组试验，然后再分成3组，其第「组样品分成两部分，分别进行1～2和3~5项试验后,全组进行6～10项试验。在0组试验中发现的不合格品不得用于其他各组。当-个晶休元件不能满足某·一组的全部或部分要求时，计为一个不合格品。当不合格品数不超过每组规定的允许不合格品数，且不超过规定的允许不合格品总数时，给于鉴定批准。
2.3质量一致性检验
2.3.1检验批的构成
2. 3. 1. 1 A 组和 B组检验
这些试验应在逐批试验基础上进行，逐批试验样本大小按表4规定。制造厂可以按下列条款将现行生产的产品集合成个检验批。检验批应由结构类似的晶体元件组成（见GB12273的3.3条）。8.
对A组的试验样品应由检验批中所包含的每种尺寸和每种值（见GB12273的3.3.1条）组b.
样本大小
任何·-种值至少5只。
对B1分组的样品应包括该批中每种温度颇差的晶体元件的代表者。2. 3. 12C组捡验
这些试验应在周期试验基础上进行。周期试验应按表4的规定进行。样品应从逐批试验合格的产品中抽取，在进行C组检验前，样品应进行A组检验，若发现不合格品可以用合格的产品替换，此时该不合格品不作为判定C组检验合格与否的依据，但应记入试验记录。样本应能代表规定周期内现行生产的产品。2.4延期交货
当按GB12273第3.5.2条的程序进行复验时，应按A组和B组检验进行复验，符合要求后方能放行，否则应对该批产品的非破坏性试验项目进行百分之百检验，将其中不合格品别除后方能交货。3检验要求
3.1程序
3.1.1鉴定批准序应按本规范第2、2条。3.1.2质量·致性检验的试验览表（表4)包括抽样，周期，严酷度和性能、要求等。..com维别
试验项目
标志和量量
外观质量
密封试验 A
GB/T15020-94
表3鉴定批准试验一览表
调整赖差和谐振电阻
绝缘电阻
并电容
密封试验B
寄生响应(适用时)
频率可调性（适用时）
备份样品
自由联落
可焊性
引出蝴强度
耐焊接热
王热（高温）
循坏(交变)湿热
（第一循环）
试验茶款
样品数和允许
不合格品数
性能要求
按外形图和表1
标志清晰牢固，并按
本规范 1. 5 条,最大
重量按详细规范
涂覆层完整，无凹
陷，凸起，腐蚀及污
垢，引出端平行且
与基座垂直
绝缘电阻≥500M1
按详细规范
按详细规范
按详细规范
率按详细规范
按详细规范
按详细规范
调整题垫和谐据
电阻按详细规范
引线没润良好，面
积为被试总面积的
95号以上，
无可见损伤和引线
调整频差和堵摄电
阻按详细规范
调整频差和谐据屯
阻按详细规范
试验项日
A组检验(逐批）
A1分组
标志和重虽
外观质蛋
密封试验A
调整独养
和谐振电阻
绝缘电阻
寄生响应(适用时）
频率可调性(适用时)
A2分组
并电容
B组检验（逐批）
B1分组
：温度频差
B2 分组
可焊性
试验项目
寒冷(低温）
(其余循环)
循环(交变)湿热
(其余媚环）
温度差
稳态（恒定）混垫
GB/T 1 5020--94
续表3
D或ND
试验条款
择品数正和允许
不合格品数
表4质量一致性检验的试验“览表D或ND
试验条款
性能婴求
调整差和谐振
电阻按详组规范，且
绝缘电阻2500M
调整频差和谐振电
阻按详细规范：且绝
绿电阻2500M0
按详细规范
调整颗差和谐摄电
阻按详细规范,且绝
缘电阻2500Mg
按详细规范
性能要求
按外形图和表1
标志清晰牢固,并按本规范 1.5 茶,最大重最接详细规范
涂覆层完整,无凹陷,凸起,腐蚀及污垢,引出端平行且与基座垂直
绝缘电阻=500M2(LC100V+15V)
按详细规范
接详细规范
接详细规范
按细规范
按详细规范
按详细规范
引线没润良好,面积为被试总面积 95%以工试验项目
（检验(开期)
C1分组
密封试验 B
自出跌落
非出端强魔
耐焊接热
千热（高溫）
循环（交变）混热
第一循环）
察冷(低温）
循环（交变）湿热
(其余循环）
C2分组
稳态(恒定）
C3分组
D或 ND
GB/T 1 5020—94
续表4
试验条款
注：①检查水平(IL)和合格质水平(AQL)从IEC410中选取。在本表中：
周期（月）：
样品数
合格判定数（允许不合格品数）；破坏性的
非磁坏性的。
试验和测量程序
4. 1尺寸,标志和重量
性能要求
漏率按详细规范
调整癫差和谐摄电阻按详细规范调整癫差和谐振电阻按详细规范光可见,拇伤和引线断裂
调整差和谐摄电阻接详细规范
调整频落和谐振电阻按详细规范调整频垫和谐振电阻按详细规范调整频差和谐振电阻按详细规范且绝缘电阻≥500MO
调整照差和谐抵电阻按详细规范且绝缘电阻2500M0
按详细规范
晶体元件尺寸应用能保证产品图纸精度要求的任何具测量。标点先用目检检查内容是否完整、正确、清晰，然后用醛无水乙醇棉球擦拭二次后仍清晰。重量应用精度为0.1g的衡具称量。4-2外观质量
用日检法，应符合本规范的要求。4.3密封试验
4.3.1密封试验 A
按IEC 68—2—17试验QL和下列规定进行试验：GB/T 1 5020—94
压力：400kPa，加压时间：10min；漫溃用液体：酒精；恢复时间，室温下吹干5min。4.3.2第过试验B
按1WC122—1第13.9条和下列规定进行试：压力：
kPa，充氨气,降低容器内乐强到大气条件下吹风
kPa,浸遗时间
nin。样品取出，在试验用标雅
min左右，测量应在从加压容器内取出后30min内完战。注,应法明样品内腔体积。
调整频差和谐振电阻
接 IEC 122—1第 12.1条和下列规定进行试验：除非另有规定，整频差和谐振电阻按表5的条件测量。表5
称称频案
4.5绝缘电阻
激励电平
按 IEC 122—1 第 12. 10 条规定进行试验。4.6寄生响应（适用时）下载标准就来标准下载网
阻抗计
设定电函
按EC 122--1第12.12.1条规定，在标称频率±20%（基颖)或士200kHz(泛音)频率范围内测量。4.7率可调性(适用时)
按IEC122—1第12.1条分别测量两个规定负载电容的负载谐振频率。4.B并电容
按 IEC 122—1第 12. 6条进行测量。4.9自由跌落
按 IEC 68-2-32 试验 Ed 和下列规定进行试验：从
cm高处跌落到 30mm厚硬木板上,跌落次数4.10振动
按IEC 122—1第13.3条和下列规定进行试验：频率：
Hz,振幅
mm 或加速度
欢样品开始酰落状态：引比端朝上m/s2,扫频循环次数：
饮。沿 3个相互垂直的
方向,试验程序按试验Fc附录D中B4进行。试验步骤应按试验Fc第8.2.1条规定进行。4.11可焊性
按[EC122—1第13.10条和下列规定进行试验：试验Ta，方法1。焊槽温度235十5℃，浸流时间：2±0.5s。4.12引出端强度
按 IEC 122一1 第 13. 5 条、13. 6 条和下列规定进行试验：拉力:试验 Ual,
弯曲:试验 Ub 方法 1 ，
N弯曲 90°,2次。
4.13耐焊接热
GB/T 1 5020—94
按 IEC 6B2--20条和试验 Tb 方法 1b 和下列规定进行试验：焊槽温度；350±10℃，浸渍时间：3.5±0.5s。4.14高温
按 IEC122—1第13.12条和下列规定进行试验：温度：+100℃±2℃；持续时间:16h;恢复时间:在正常试验大气条件下恢复2h。4.15交变湿热，第一循环
按IEC122—1第13.13条和下列规定进行试验：上限温度;55 C,类型 2。 本试验后应立即进行低温试验。4.16低温
按 IEC 122—1第 13.14条和下列规定进行试验：温度：一65±3℃;持续时间:2h;恢复时间:在正常试验大气条件下恢复 2h。4.17交变湿热,其余循环
接IEC122一1第13.15条和下例规定进行试验：应进行其余的五个循环。
4.18温度频差
除非另有规定,按 IEC 122一1 第 12. 1 条规定进行测量,测量条件接 4. 4 条。温度间隔;5 C ,极限温℃,高温端为℃。
度误差：低温端为
4.19恒定湿热
按IEC122-1第13.16条和下列规定进行试验：持续时间：56d；恢复时间：用棉球操拭.在i正常试验大气条件下恢复2h。4.20老化
按IFC122—1第13.17条和下列规定进行试验：试验温度,85土2 C;持续时间,30d;测量间隔一周测量 2 次,2次测量的间隔不小于 2d,不大于4d。最初 24h 结束时,进行第一次测量,试验结束时,进行最后一次测量。频率变化和谐振电阻变化分别按公式(1)和公式(2)计算。Af/f,-- (fmrfm)/f。
式中: Af/f,
式中 AR.—
ARrmin
题率变化
30d 内测得的最高频率;
3d内测得的最低赖率；
标称频率。
谐振电阻变化：
30d 内测得的最人谱振电阻：
30d内测得的最小谐振电阻。
4.21包装检验
应按 5. 1 条规定检查一个包装箱及其中二个包装。5包装，贮存和运赖
5.1包装
除非另有规定，包装应按下列要求：5. 1.1包装分为内包装和外包装：包装盒、箱所用材料应无酸、碱及其他对产品有腐蚀性的材料。(1)
GB/T 1 5020-: 94
内包装可用塑料袋、纸盒或其他形式的包装，除非另有规定，内包装盒标签上应标明：制造厂名称和商标；
石英晶体元件型号；
标称频率，
石英晶体元件数量：
详细规范编号和生产许可证号，包装尽期及包装人代号，
5.1.3外包装可用塑料、纸箱包装。箱内壁衬有防潮纸或塑料膜。除非另有规定，箱内放有装箱单，其上应标明：
产品名称，
标称频率！
合同，
产品数量；
制造厂名称，
装箱日期：
检验员代号：
质量检验部门印章。
装有石英晶体元件的包装箱重量不超过20kg，每个包装箱的表面应按GB191的规定标明\防潮”，“轻放”等字样或图形。
5.2贮存
石英晶体元件应存在环境温度为一10℃～40℃，相对湿度不大于80%，周围坏境无酸性、碱性及其他有害气体的库房中。
5.3运输
装有石英晶体元件的包装箱可用任何方式运輪，但应避免雨雪的直接淋袭，强烈的冲撞和机械损伤。
附加说明：
本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由机械电子工业部电子标准化研究所归口。本标准由机械电子工业部电子标推化研究所负责起草。本标准主要起草人邓鹤松、宋佩钰、章怡、边一林。
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。