YB/T 4290-2012
基本信息
标准号： YB/T 4290-2012
中文名称：金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度）测定方法
标准类别：冶金行业标准(YB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准简介
YB/T 4290-2012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度）测定方法
YB/T4290-2012
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标准内容
ICS 77. 040. 99
中华人民共和国黑色冶金行业标准YB/T4290--2012
金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度）测定方法
Test methods for estimating the largest grainobserved in a metallographic section (ALA grain size)2012-11-07发布
中华人民共和国工业和信息化部2013-03-01实施
YB/T4290—2012
本标准使用翻译法等同来用ASTME930—99(2007)《金相检测面上最大晶粒尺寸级别（AT.A晶粒度）测定方法》。
为了使于使用及符合我国习惯，本标准对ASTME930-—99(2007)作了下列修改：a）删除了ASTME930—99（2007)的前言，增加了本标准前言：b）删除了ASTME930—99(2007)中1.3关于安全的陈述：c）对ASIME930—99（2007)的规范性引用文件”按我国规定进行了改写，用相关国家标准代替了部分原ASTM标准（见第2章），d）在 6.1中增加了标题“总则\e）删除了ASTME930—99（2007)的\关键词部分；将附录按 GB/T 1. 1 规定改编为附录 A 和附录 B,f)
本标准对ASTME930—99(2007)有误或缺漏之处进行了更正或增补，主要如下：a）更正了表1第4行面积数值，将源“0.703\改为\0.730”；在6.4.5中增加了\（如根据6.4.1规定测定多个截而面积，则应选用其最大面积）”的说明；h)
c）更正了ASTME930--99(2007)附录A.2中放大倍率为500X时所对应的晶粒度级别，即A、BC、D及E系列图相应的级别数值降低半级.分别修改为5.5、6.0、6.5、7.0与7.5级。本标摊由中国钢铁工业协会提出。本标准由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183)归门。本标准起草单位：宝山钢铁股份有限公司冶金工业信息标准研究院、东北特殊钢集团有限责任公司。
本标准主要起草人：刘卫斌、栾燕、曾文涛、苏建红、俞信體。本标为首次发布。
YB/T 42902012
材料标准有时会在品粒度检验项目中要求识别试样中观测到的最人晶粒，通常表示为ALA晶粒度。本标推适用于大晶粒数国太少而无法用（GB/T6394一2002标准测量的情形。应注意可能会在试样其他局部位置存在未观测到的更人晶粒。1范围
YB/T42902012
金粮检测面上最大晶粒尺寸级别ALA晶粒度|测定方法本标准规定了在金相检测面上测定所观察到的最人晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)的试验方法。本标准仪适用于包含异常粗大晶粒的显微纠织，这种粗大晶粒因分布太稀疏而无法用GB/T6394一2002标准测量其晶粒度。
2规范性引用文件
下列文件对于木文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T6394—2002金属乎均晶粒度测定方法（ASTME112—1996，MOD）GB/T13298金属显微组织检验方法GB/T24177双重晶粒度表征与测定方法（GB/T24177—2009.ASTME1181--2002.IDT）GB/T30067金相学术语
3术语
GB/T30067中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。a.1
ALA晶粒ALA(as largeas)grain
在随机分散分布的孤立粗大晶粒中观测到的最大晶粒。这些粗大晶粒所占向积分数不大于试样检测面尚积的5%。试样检测面上这些粗大晶粒与基体晶粒的晶粒度级差不小于3级。3.2
异常晶粒outliergrain
尺寸与占优势晶粒的品粒度明显不同的晶粒，如ALA晶粒4意义与用途
4.1大晶粒的存在关系到材料的异常力学行为，如裂纹的萌生、扩展及疲劳。因而技术上有必要报告ALA晶粒度。
4.2本标准适用条件为：组织中存在异常粗大晶粒，其晶粒度级别与基体的品粒度级差不小于3级，且所占面积不大于试样检测面面积的5%。附录A中图A。1给出了典型照片实例。4.3本标准不能用于测定平均晶粒度，平均晶粒度测定应按GB/T6394--2002进行。附录A中图A.2、图A.3和图A.4给出了不适用于AI.A方式处理的显微组织实例。4.4本标准中的方法可按GB/T24177标准的规定用于表征双重晶粒度。5取样
5.1取样方法按（B/T6394—2002标准规定进行。5.2预检测面一般应是通过产品厚度中心的平面，并能显示晶粒晨大长宽比。5.3在特定产品或使用中，可来用其他更有效或更有预见性的检测面。5.4检测报告中应明确说明检测面的位置和取样方向。1
YB/T4290—2012
5.5试样制备按GB/T13298标准进行。6法步骤
6.1总则
本标准6.2的比较法测量最大晶粒的准确度接近土1个晶粒度级别。6.3的测量法的准确度较比较法要更高一些。6.4的人工定量测量方法，可推荐为仲裁方法（当ALA晶粒截面与附录B中给出的图形明显不同时，建议优先采用测量法，而非比较法）。6.2比较法
6.2.1以适宜的放大倍率观察试样整个检测面以便找出较粗大晶粒的位置。6.2.2将观察到的最大晶粒置于显微镜视屏或H镜视场中央，或显示在照片上。6.2.3用将ALA晶粒和附录B图B.1进行比较来测量晶粒度。图B.1是比较法测景ALA晶粒度的示意图，是以表1中品粒度与面积关系为依据，图B.1中的图形尺寸见表B1。对应图B.1的实际图谱仅可川于图中所规定的放太倍率下。注：此处不能使用GB/T6394-2002中的图谱，因为很少有晶粒截断能相应下晶粒度级别的平均面积。表1ALA晶粒面积与ALA显微品粒度级别关系面积/mm2
注：根据GB/T63912002中表5改写而得。2
00000或—4. 0
0000或—3. 0
000 或—2. 0
00或 1.0
6.3测量法（准确度高于比较法）YB/T 42902012
6.3.1按6.2.1和6.2.2方法在试样金相捡测面上找出最大晶粒所在位置，并将之置于显微镜图像或显徽照片中。
6.3.2使用适当的测微口镜，内部标片或外部标尺测量品粒的最大卡尺直径，以及垂直于最大卡尺直径方向晶粒的卡尺直径。
6.3.3用0.785乘以两个测量值之积，得到所用放人倍率下的圆面积。此时，椭圆的长轴等于晶粒最大卡尺直径，短轴等于垂直于最大卡尺直径方向晶的卡尺直径。6.3.4将上述面积除以放大倍率的平方得到在1×下该晶粒的实际面积。6,3.5将此实际面积与表1中的面积进行比较，按表1中最接近的前积确定ALA晶粒度级别，除非机关方已商定一致取邻近的较小面积或较大面积确定级别注：本方法可使用任何可测单晶粒截面面积闲自动或毕自动装置。6.4仲裁法
6,4.1在图像区域内，用可显示个品粒的最大放大倍率，对最大晶粒拍照（如存在多个大晶粒，难以确定哪个尺寸最大，则对其全部进行拍照，并对所有照片按下列步骤进行操作），6,4.2在照片上覆盖一个含有正方网格的透明板，使得最大晶粒能完全被网格所覆盖。推荐便用网格线问距为5mm。诈算落人待测量的最大晶粒内的网点数，落在晶粒边界上的点计为0,5个。6.4.3以不同的角度在照片上放置透明板进行至少4次测定，每次都按照6.4.2方法计算网点个数。6.4.4晶粒的截面积接公式(1)计算：式中：
网格不同角度放置时所落人大品粒内网点数的平均值；d——间距为的网格中每个小方格的面积M—一照片的放人倍率，
A——晶粒截面的测量面积。
....(1)
6.4.5将所测得的面积（如根据6.4.1规定测定多个截面面积，则应选用其最大向积)与表1中的数据进行比较，按表1中最接近的面积确定AI.A晶粒度级别，除非相关各方已商定-致取邻近的较小面积或较人面积确定级别。
6.4.6保存照片+并记录下列内容：网格每次放置时所计得的网点数P(8)、总网点数P:(9)平均网点数P(の)、网格中相邻网点间距d、所用放大倍率M、ALA晶粒的测量面积A利AIA品粒度级别。6.5精度和偏差
本标准所用方法的精度与偏差尚待确定。3
YB/T 42902012
附录A
（规范性附录）
显微组织实例”
图 A,1125 ×,ALA 状态,本标准适用图A,250×，宽级差状态，本标准不适用图片均取自GB/T24177的附案。
100×，双峰状态，本标准不适用图A3
图A,4100×，项链状态，本标准不适用YB/T 4290—2012
YB/T 4290—2012
附录B
【规范性附录
比较法测量AIA晶粒度的示意图及图形尺寸B.1比较法测最ALA晶粒度的示意图见图B1。放大倍率一品粒度
50×时
100X时
25×时
50×时
100×时
25×时
50×时
100X时
25×时
50X时
100×时
25x时
50×时
100×时
注：上述缩小图例为示意图，仅供参考，不宜直接使用。3.0级
—2,5级
—0.5级
-1,5级
—1. 0级
图B.1比较法测量ALA晶粒度的示意图图R1中图形尺寸见表B.1。
表B.1图B,1中图形尺寸
图形直径/mtm
112圆
200X时3.0级
40×时5.0级
500×时5.5级
200X时3.5级
400X时5.5级
500×时6.0级
200×时4.0级
400×时6.0级
500×时6.5级
200×时4.5级
400X时6.5级
500X时7.0级
200×时 5,0级
400X时7.0级
500×时
1：4橘圆
注：图形直径修约到0.1naml
表B.1(续）
图形直径/mm
1：2椭圆
YB/T4290—2012
114椭圆此内容来自标准下载网
中华人民共和国熙色治金
行业标准
金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度）测定方法YB/T 4290-2012
治金工业出版社出版发行
北京北河沿大街嵩税院北巷39号邮政编码：100009
三河市双峰印刷装订有限公司印刷各地新华书店经销
1/16印张1字数22千字
开本880×1230
2014年3月第－-版
2014年3月第一次印刷
统—书号：155024·445
定价：30.00元
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中华人民共和国黑色冶金行业标准YB/T4290--2012
金相检测面上最大晶粒尺寸级别（ALA晶粒度）测定方法
Test methods for estimating the largest grainobserved in a metallographic section (ALA grain size)2012-11-07发布
中华人民共和国工业和信息化部2013-03-01实施
YB/T4290—2012
本标准使用翻译法等同来用ASTME930—99(2007)《金相检测面上最大晶粒尺寸级别（AT.A晶粒度）测定方法》。
为了使于使用及符合我国习惯，本标准对ASTME930-—99(2007)作了下列修改：a）删除了ASTME930—99（2007)的前言，增加了本标准前言：b）删除了ASTME930—99(2007)中1.3关于安全的陈述：c）对ASIME930—99（2007)的规范性引用文件”按我国规定进行了改写，用相关国家标准代替了部分原ASTM标准（见第2章），d）在 6.1中增加了标题“总则\e）删除了ASTME930—99（2007)的\关键词部分；将附录按 GB/T 1. 1 规定改编为附录 A 和附录 B,f)
本标准对ASTME930—99(2007)有误或缺漏之处进行了更正或增补，主要如下：a）更正了表1第4行面积数值，将源“0.703\改为\0.730”；在6.4.5中增加了\（如根据6.4.1规定测定多个截而面积，则应选用其最大面积）”的说明；h)
c）更正了ASTME930--99(2007)附录A.2中放大倍率为500X时所对应的晶粒度级别，即A、BC、D及E系列图相应的级别数值降低半级.分别修改为5.5、6.0、6.5、7.0与7.5级。本标摊由中国钢铁工业协会提出。本标准由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183)归门。本标准起草单位：宝山钢铁股份有限公司冶金工业信息标准研究院、东北特殊钢集团有限责任公司。
本标准主要起草人：刘卫斌、栾燕、曾文涛、苏建红、俞信體。本标为首次发布。
YB/T 42902012
材料标准有时会在品粒度检验项目中要求识别试样中观测到的最人晶粒，通常表示为ALA晶粒度。本标推适用于大晶粒数国太少而无法用（GB/T6394一2002标准测量的情形。应注意可能会在试样其他局部位置存在未观测到的更人晶粒。1范围
YB/T42902012
金粮检测面上最大晶粒尺寸级别ALA晶粒度|测定方法本标准规定了在金相检测面上测定所观察到的最人晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)的试验方法。本标准仪适用于包含异常粗大晶粒的显微纠织，这种粗大晶粒因分布太稀疏而无法用GB/T6394一2002标准测量其晶粒度。
2规范性引用文件
下列文件对于木文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T6394—2002金属乎均晶粒度测定方法（ASTME112—1996，MOD）GB/T13298金属显微组织检验方法GB/T24177双重晶粒度表征与测定方法（GB/T24177—2009.ASTME1181--2002.IDT）GB/T30067金相学术语
3术语
GB/T30067中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。a.1
ALA晶粒ALA(as largeas)grain
在随机分散分布的孤立粗大晶粒中观测到的最大晶粒。这些粗大晶粒所占向积分数不大于试样检测面尚积的5%。试样检测面上这些粗大晶粒与基体晶粒的晶粒度级差不小于3级。3.2
异常晶粒outliergrain
尺寸与占优势晶粒的品粒度明显不同的晶粒，如ALA晶粒4意义与用途
4.1大晶粒的存在关系到材料的异常力学行为，如裂纹的萌生、扩展及疲劳。因而技术上有必要报告ALA晶粒度。
4.2本标准适用条件为：组织中存在异常粗大晶粒，其晶粒度级别与基体的品粒度级差不小于3级，且所占面积不大于试样检测面面积的5%。附录A中图A。1给出了典型照片实例。4.3本标准不能用于测定平均晶粒度，平均晶粒度测定应按GB/T6394--2002进行。附录A中图A.2、图A.3和图A.4给出了不适用于AI.A方式处理的显微组织实例。4.4本标准中的方法可按GB/T24177标准的规定用于表征双重晶粒度。5取样
5.1取样方法按（B/T6394—2002标准规定进行。5.2预检测面一般应是通过产品厚度中心的平面，并能显示晶粒晨大长宽比。5.3在特定产品或使用中，可来用其他更有效或更有预见性的检测面。5.4检测报告中应明确说明检测面的位置和取样方向。1
YB/T4290—2012
5.5试样制备按GB/T13298标准进行。6法步骤
6.1总则
本标准6.2的比较法测量最大晶粒的准确度接近土1个晶粒度级别。6.3的测量法的准确度较比较法要更高一些。6.4的人工定量测量方法，可推荐为仲裁方法（当ALA晶粒截面与附录B中给出的图形明显不同时，建议优先采用测量法，而非比较法）。6.2比较法
6.2.1以适宜的放大倍率观察试样整个检测面以便找出较粗大晶粒的位置。6.2.2将观察到的最大晶粒置于显微镜视屏或H镜视场中央，或显示在照片上。6.2.3用将ALA晶粒和附录B图B.1进行比较来测量晶粒度。图B.1是比较法测景ALA晶粒度的示意图，是以表1中品粒度与面积关系为依据，图B.1中的图形尺寸见表B1。对应图B.1的实际图谱仅可川于图中所规定的放太倍率下。注：此处不能使用GB/T6394-2002中的图谱，因为很少有晶粒截断能相应下晶粒度级别的平均面积。表1ALA晶粒面积与ALA显微品粒度级别关系面积/mm2
注：根据GB/T63912002中表5改写而得。2
00000或—4. 0
0000或—3. 0
000 或—2. 0
00或 1.0
6.3测量法（准确度高于比较法）YB/T 42902012
6.3.1按6.2.1和6.2.2方法在试样金相捡测面上找出最大晶粒所在位置，并将之置于显微镜图像或显徽照片中。
6.3.2使用适当的测微口镜，内部标片或外部标尺测量品粒的最大卡尺直径，以及垂直于最大卡尺直径方向晶粒的卡尺直径。
6.3.3用0.785乘以两个测量值之积，得到所用放人倍率下的圆面积。此时，椭圆的长轴等于晶粒最大卡尺直径，短轴等于垂直于最大卡尺直径方向晶的卡尺直径。6.3.4将上述面积除以放大倍率的平方得到在1×下该晶粒的实际面积。6,3.5将此实际面积与表1中的面积进行比较，按表1中最接近的前积确定ALA晶粒度级别，除非机关方已商定一致取邻近的较小面积或较大面积确定级别注：本方法可使用任何可测单晶粒截面面积闲自动或毕自动装置。6.4仲裁法
6,4.1在图像区域内，用可显示个品粒的最大放大倍率，对最大晶粒拍照（如存在多个大晶粒，难以确定哪个尺寸最大，则对其全部进行拍照，并对所有照片按下列步骤进行操作），6,4.2在照片上覆盖一个含有正方网格的透明板，使得最大晶粒能完全被网格所覆盖。推荐便用网格线问距为5mm。诈算落人待测量的最大晶粒内的网点数，落在晶粒边界上的点计为0,5个。6.4.3以不同的角度在照片上放置透明板进行至少4次测定，每次都按照6.4.2方法计算网点个数。6.4.4晶粒的截面积接公式(1)计算：式中：
网格不同角度放置时所落人大品粒内网点数的平均值；d——间距为的网格中每个小方格的面积M—一照片的放人倍率，
A——晶粒截面的测量面积。
....(1)
6.4.5将所测得的面积（如根据6.4.1规定测定多个截面面积，则应选用其最大向积)与表1中的数据进行比较，按表1中最接近的面积确定AI.A晶粒度级别，除非相关各方已商定-致取邻近的较小面积或较人面积确定级别。
6.4.6保存照片+并记录下列内容：网格每次放置时所计得的网点数P(8)、总网点数P:(9)平均网点数P(の)、网格中相邻网点间距d、所用放大倍率M、ALA晶粒的测量面积A利AIA品粒度级别。6.5精度和偏差
本标准所用方法的精度与偏差尚待确定。3
YB/T 42902012
附录A
（规范性附录）
显微组织实例”
图 A,1125 ×,ALA 状态,本标准适用图A,250×，宽级差状态，本标准不适用图片均取自GB/T24177的附案。
100×，双峰状态，本标准不适用图A3
图A,4100×，项链状态，本标准不适用YB/T 4290—2012
YB/T 4290—2012
附录B
【规范性附录
比较法测量AIA晶粒度的示意图及图形尺寸B.1比较法测最ALA晶粒度的示意图见图B1。放大倍率一品粒度
50×时
100X时
25×时
50×时
100×时
25×时
50×时
100X时
25×时
50X时
100×时
25x时
50×时
100×时
注：上述缩小图例为示意图，仅供参考，不宜直接使用。3.0级
—2,5级
—0.5级
-1,5级
—1. 0级
图B.1比较法测量ALA晶粒度的示意图图R1中图形尺寸见表B.1。
表B.1图B,1中图形尺寸
图形直径/mtm
112圆
200X时3.0级
40×时5.0级
500×时5.5级
200X时3.5级
400X时5.5级
500×时6.0级
200×时4.0级
400×时6.0级
500×时6.5级
200×时4.5级
400X时6.5级
500X时7.0级
200×时 5,0级
400X时7.0级
500×时
1：4橘圆
注：图形直径修约到0.1naml
表B.1(续）
图形直径/mm
1：2椭圆
YB/T4290—2012
114椭圆此内容来自标准下载网
中华人民共和国熙色治金
行业标准
金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度）测定方法YB/T 4290-2012
治金工业出版社出版发行
北京北河沿大街嵩税院北巷39号邮政编码：100009
三河市双峰印刷装订有限公司印刷各地新华书店经销
1/16印张1字数22千字
开本880×1230
2014年3月第－-版
2014年3月第一次印刷
统—书号：155024·445
定价：30.00元
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。