GB/T 17024-1997
基本信息
标准号:
GB/T 17024-1997
中文名称:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
标准类别:国家标准(GB)
标准状态:现行
发布日期:1997-10-07
实施日期:1998-09-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
下载大小:349599
标准分类号
标准ICS号:电子学>>31.200集成电路、微电子学
中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
关联标准
采标情况:idt IEC 748-2-3:1992 QC 790130
出版信息
出版社:中国标准出版社
书号:155066.1-14567
页数:平装16开, 页数:13, 字数:18千字
标准价格:12.0 元
出版日期:2004-08-22
相关单位信息
首发日期:1997-10-07
复审日期:2004-10-14
起草单位:电子工业部东北微电子研究所
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门:国家技术监督局
主管部门:信息产业部(电子)
标准简介
详见本标准。 GB/T 17024-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 GB/T17024-1997 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
GB/T 17024---1997
本标推等同来用国际电工委员会标准1EC748-2-3:1992半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二第-HCMOS数字集成电路54/74HC.54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准引用的国家标准GB/T4937—1995半导体器件(1984)及修改单1(1993)和修改单2(1993)。本标雅由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。机利气候试验方法CidLIEC749
本标准起草单位:电子工业部东北微电子研究所、电子工业部标准化研究所本标准主要起草人:十连友、毕思庆、李燕荣。GB/T 17024
IEC前言
1)1(国际电工委员会)在技术问题土的正式决议或协议,是由对这些间题特别关切的国家委员会参加的术委员会制定,对所涉及的问题尽可能地代表了尽际上的一致意见。2)这些决议或协议,以准荐标准的形式供国际上使用,并在此意义上为各巨家委员会所认可,3)为了促进图综上的统一,IEC希望齐润家委员会在本国条件许可的情流,采用EC标准的文太作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差舜,应尽可能在国家标准中背明。本标准是出SC.47A(集成电路)和1ECTC47(半导体器件)制定的.本标准是HCMOS数字集成电路54/74HC,54/74HCT、51/741IC:U系列的空详细规范。本标准文本以下列文件为依据:个月法
47A(CO)190
表决报告
17A(CO)21
二个月程序
47A(CO)211
表决批准本标准的详细资料可在比表列出的表决报告中查阅。长决报告
47A(CO)24)
在本标密封面的QC编号是TEC电了元器件质量评定体系(IECQ)规范学本标准引用下列JFC标雄:
58-2-17(1978)环境试验第2部分:试验—--试验Q密封图形符号第12 部分:二进制逻辑单元617-12619912
747-10(1991)
半宇体器作第10部分:分立器件和类成电路总规范748-2-2(1991)
半导体器件集成电路第2部分:数字货成电路筹二篇成电路54/741IC、51/74HCT、54/74HCU系列族规范惨政单1(1994)
HCMOS数字集
748-11(1990)半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)749(1984)半导体器作机械租气候试验方法修改单1991)
QC001002(1986)[EC:电于元器件质量评定体系(IECQ)程序规测引言
中华人民共和国国家标准
半导体器件集成电路
第2部分:数字集成电路
第三篇HCMOS数字集成电路
54/74HC.54/74HCT.54/74HCU
系列空白详细规范
Semiconductor devices Integrated cireuitsPart2:Digital integrated circuitsSeclion three Blunk detail specificationfor HCMOS dlgital integrated circuitsscries 54/74HC.54/74HCT,54/74HCUGB/T 170241997
idt IEC 748-2-3:1992
QC790130
IEC电子元器件质量评定体系遵循IFC的章程.并在IEC授权下进行二工作这个体系的日的是确定质量评定程序,使得由个成员国根据相应规范要求认为合格而效行的电子元器件,在所存H他放问国内不需要再进行检验就能同样地承认其合格。本空自详细裁范是与半导体器件有关的一系列空白详细规范之·,并且与下列标油-起使用,IFC717-10/QC700000半导体券件第10部分:分立器件和集成电路总规池要求的资料
本和下页括号内的数字与下列各頭要求的资料相对应,应填学在栅应的增中。详细规范的识别
[1]授权发布详细规范的国家标准化机构名称,[27详细规范的IECQ编号
[3_总规范、分规范的编凸及版本号。[1二详细规范的国家编号、发布口期及国家标准体系要求的其他资料,器件的识别
主要功能和型号。
【6]典塑结构(材料、主要T.2)和外壳资料。如果器件具有若干种派生产品,则应指出其差别.例如用对照表列出特生。如果器件属静电敏感型,应在详细规范中注明注意事项,[7”外形图,引出端识别、标志和/或有关外形的参考文件国家技术监骨周1997-10-07批准1998-09-01实施
GB/T17024—1997
二81接总规范2.6的质量评定类别。91参考数据
「本规范下面方括内所要求的内容构成了详细规范的首贝,这些内容仅供指导详细规范的编写,而不应纳入详细规范中
【当一段文字是否供指导编写可能引起混淆时,这段文宁将被放在括号内叙述。[国家代丧机构(VAI)(利可以提供规范的团体)的名称(地址)
评定器件质量的依据
总规范:
IEC 747-10/QC 700000
分现范
IEC 748 11/QC 790100
族规范:
IEC 748-2-2/QC 790JC0
二及端号不同时的国家标翟号」GB/T 17024:-1997
[详细规范的TFCQ编号、版本号和/或甘期[2]Q0 790130-**
[详细规范的国家编号]
若国家编弓与 IECQ 编一致,本样可不填HCMOS数字策成电路54/74HC、54/74HCT、54/741ICL:系列空白评细规范“有美器件的型号」
订货资将;卫本斯范1.2
机械说明
外彪依据:
[应给出IFC 标雅(如有则带遵循]和/或国家标准!
外形图:
[可以移人本规范第8竟鼓征那望给高史详细的资料]
引出消别:
【准出川出嘴排列图·包活图形符]标东:家母和图形
「详纫规范应规定得件上标志的内容][见总规范 2. 5和/或本规范1. 1简要说明
应用:见本规范第6章
功能:引本规范第3章
卡导体材料;Si
封装:空封或非空封
「派生产品的持性对照表]
注意:静电敏感器件
质量评定类别
[按总规范2.6,]
参考数据
[能在各型导间比较的最重要性能的参考数话,
按本规范鉴定合格的器件,其有关制造厂的资料,时在现行合格产品月录中查到。标志和订货资料
1.1标志
GR/T 170241997
二除第[7]烂和/或总规范2.5给出的资料外,任何特殊资料应在本条给出。1.2订货资料
二若无兵他观定,订购器件至少需要下列资料,:准确的型号(必要时,标称电压值):一当逅用时.详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期:一总规范2.6和分规范第9章规定的质评定类别,以改如果需要时,分规范第8常规定的筛选程序;
-任何其他特嘧的资料,
2应用说明
见本规范第栏规定的内容。
3功能的详细说明
3.1详细泄图
[应给出器件的详细框图,
应给出功能的图形等号。图彪符-号可从图形符号的标准月录中得到,或按TE门标准617-12的舰定,
3.2引出端的识别及功能
[所分引出端成在崛图中注明(电源端,输入端或输出端,输入/输出端,引出端功能应在下麦中标明:
引蜡编号
3.3功能说
引出端符号
[应给出功能表」
4极限值(绝对最大额定值体系)引山端名称
若尤其他规定,这些极限值适用广整个工作溢度范围。「应给山第9章中所要求的曲线!所有电压以V为基准。
条款少
4. 1~-1. 10
见族规范
工作条件(在规定的工作温度范围内)见族规范第5章,条款号如下:
引出端功能
输人/输出识别
输出电路的类别
GR/T 17024—1997
5.2.5.3(HC).5.13,3.14(HCT).5.24.5.25(HCU)和 5.32.3(HC,HCT)。6电特性
检验要求见本规范第13章
推荐电源电压范围:
见族规范第5章。
若无其他规定,这些也特性适用十整个工作温度范围。所有电压以V为基准。
6.1静态待性
见族规范第5章,条款号如下:
5.1,5.4~58,5.12,5.15~5.19(HCT),5,23,5.25~5.286.2动态特性
见族规范第5章,5.32.1、5.32.2(HC,HCT)5.32. 3Vio
传输延退吋间
输出允许间
输出禁止间
狒这时间
促持时间
脉冲宽斑
21 40 ℃: -- 85 C.
3) --55℃--125℃
6.3时序图
见族规范5.32.41。
6.4电容
见族规范第5章、条款号如下:
54HC/74HCm
5. 9,Ca.Co2(HC),5. 20:C),Coz(HCT和 5. 29:Cu(HCU)。7编程
不适用。
8机械和环境的额定值、特性和数据见分规范12.2。
9附加资料
见族规范:
[仅就规范和器件使用所需而给出,例如:最大
GB/T 17024—1997
一极限氢中所引用的温度降额瓶缓:一测试电路或补究方法的完整说明;-—详纽的形图。
10筛选(如果要求)
分规范第8,长化条件:
应确定下列条件:
环境温度;
.电源电压:
,颠率,
电路图和条件。
11质量评定程序
11.1鉴定批准程轻厅
见总舰范第3瓷和分就范5.1。
11.2能力北准程序
在考愿中,
12结构相似性程序
见分规范第章,
13试验条件和检验要求
13.1总则
二在编写详细规范时,下列表女的数值利切的试验条件-应接释件型弓要求以及有美标燃中存关试验的费求确意
L两者选一的试验或试验方法,在缩写详纽规范时应规定一所。当同详细规范中包括儿种器件时.剂应的条件和/或数佰放依饮连续给山可能的话,避能量复相函的条件和/或数值。!
耐久性试验
应按下述要求确定进行耐久性试验的杀件功、上作温变、毛源电尺应按下列优完顺序作出选择:a)电路的每一种动能所涉的各部分功耗,其平均功轻范是细规超所充许的最大值1)环境或塞考点询温度应是在a)条规定的功耗下,详和规范允诈的最人范c)除非被a)或b)条所限缸,电源电乐应是详细规范允许的最大值13.2要求
分规范筹章,
13.3检验衰
若儿其他规定,试验E25 C 下选行,标有(1))的试验是破坏性的
外部目检
检鉴或试验
GB/T17024-1997
A 组—逐批试验
试验条斗
IEC 747-10,4. 2. ..1
25(下的功偿验证(些无其他划定)《不适州于1炎)最低和最商1.作部按本规尚第3章变下的功能验证
25℃下静态穿性
最低和最高二作湿度下的静态特性见本规范.1
T.--T(接大道)知
..最小值?,
条件同上述 A3分组
25下的动态特生(若无其规定)!见本规范6.2(不适用于1类)最低和量高工件源变下的动态等性“
Tl一Tm-聚大道)动
T..(最小位).
染件可述 41分组
本切范3.1和有美详细或为,
规范可以分组
可与A
4)如谢造厂降定期证明肾个极限湿衰下的波验结未与23(下的定验结果料关到损用25(:下的试验符果。衣1
B组——送北试验
(「类器件见总就志2.n)
检或试验
电额定值验证
可性()
温度快逸变化
)空对器
混度快违变化
●电测流(A2和A3分)
,爸封.组检得
·管封,检漏
b)空动
环氢空划荐件(I);
温度决速变化:
·外部H垫
·偿念热
·电燕武
,电附久性
GE/T +S37
TFC 747 + 1.2.9 4
附录 13
篇1筒,3. 1
第 [前,7. 8数 7. 4
IFC 68 2 17.Q或验
第1第,1. 1
IEC 747 30,4.2 [.1
元本规范:3.1
试H、3和8分组是头数检查结果
按规定
13次循款
司A2A3分组
按规定
13次滑款
严酷变1.241
可A2A5 分组
时司:1i8:按分范
12. 3和12. 2(如适月)
现本规第「
没良好
同42 A3 分理
A乱分组
院云说范 13.
路验或试验
舞态能生额定值
引出端强度(D
耐炽接热()
温凌认速变化
)空封件
温变快述变化:
,电测试(A2和A3分组)
,密封,组检诵
,密均凯检部
b)非空别
环期对空封器件(E)
流度快违变花:
。外部目输
,玲态祝热
·丰測斌
态加遵度(L)
(适用」空封件)
艳态湿热
a)空对器件(D)
h)非空卦和
环氢封管封器件(D)
随后电测试
A2A3分组
,电耐久性
高温忙存
(12标志讨久性
12输人电容
C13输出出容
(蛇适川)
GB/17024--1997
心组——周期试验
GB/T 4537
1EC 717-1c* 4.2.2 和
:谢录 3
:IEC.748-2-2,tO.2
第Ⅱ篇,第1
笋上第.2.2
第篇.1.1
第1m,7. 3 或了. 4
IFC 68 2. 17,Q: 试验
第日,1.
TEC 747-10.4. 2. 1. 1
第口篇.ER
第I第,第5章
第篇,5A
第耳荒.EB
见本范13.1
第1,第2章
第V,第2章
现本现范8
则本规范6.4
按规定
按相应封装规
:按规定
10次循环
同A2.折A3分组
按规定
按规定
500次环
严度1,24
同A2知A3分现
按规定
严酷度类和类为
56「类为21 d
严酷度1
偏:按详细划范划定
时间:1类和Ⅱ类为
1 (00 h,15m0
丙A2和13分7
滤慈值
同A2和A3分组
可42利A3分组
同A2和A3分组
间11 6100 h,件按
安见本规范13-1
分规范12-3放12.4
(如适用)
!000h.1为最大值
方送1
贝本规范6.1
见本戏范6.4
CRRT。就C3、CI,C5、C6、C7、C8,C9和C11分组提共计数检变统来:见本规范6.4
现本规范6.号
检验或试验
,电耐久性
CB/T 17024—1997
年度试验
IEC标雅
见本规范13.1
5)> D 组试验应在鉴是批准活立即逃行,其后一年进行一次。13.4延期交货
见IFC标游747-1!的3,6.7。免费标准下载网bzxz
14附加测重方法
不适用。
1类:不造用
1类:2 000h
Ⅱ类:3 c00 b
见分观范12.3及12.1
(妊适用)
故范位
见本规范13.1
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