基本信息

标准号： GB 6801-1986

中文名称：半导体器件基准测试方法

标准类别：国家标准(GB)

标准状态：已作废

实施日期：1987-07-01

出版语种：简体中文

下载格式：.rar.pdf

下载大小：KB

相关标签： 半导体器件 基准 测试方法

标准分类号

中标分类号：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

关联标准

替代情况：被GB/T 4587-1994代替

采标情况：IEC 1473-3-1970 MOD

出版信息

页数：13页

标准价格：16.0 元

相关单位信息

标准简介