-
- GB/T 43034.3-2023集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
- GB/T43034.3-2023
-
- GB/T 20870.10-2023半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序
- GB/T20870.10-2023
-
- GB/T 43455-2023模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测
- GB/T43455-2023
-
- GB/T 42848-2023半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
- GB/T42848-2023
-
- GB/T 42744-2023微波电路 电调衰减器测试方法
- GB/T42744-2023
-
- GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范
- GB/T35009-2018
-
- GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范
- GB/T35008-2018
-
- GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- GB/T35007-2018
-
- GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
- GB/T35006-2018
-
- GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
- GB/T35003-2018
