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DL/T 542-2014

基本信息

标准号: DL/T 542-2014

中文名称:钢熔化焊T形接头超声波检测方法和质量评定

标准类别:电力行业标准(DL)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 熔化 接头 超声波 检测 方法 质量 评定

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标准简介

DL/T 542-2014 钢熔化焊T形接头超声波检测方法和质量评定 DL/T542-2014 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ICS 25.160.40
备案号:44773-2014
中华人民共和国电力行业标准
DL/T 542 — 2014
代替 DT,/T 542 — 1994
钢熔化焊T形接头超声波
检测方法和质量评定
Methods of ultrasonic testing and assessment of measuring resultsfor T-Joints fillet fusion welded in steel2014-03-18发布
国家能源局
2014-08-01实施
规范性引用文件
检测人员…
检测系统…
检测等级和扫查部位
检测准备
8检测·
缺陷评定
10检测记录与报告
附录A(规范性附录)
附录B(规范性附录)
双晶片直探头的性能要求及性能测试方法双晶片直探头的结构形式,
DL./ T 542 — 2014
DL/T 542 2014
本标准代替DL/5421994《钢熔化焊T形接头超声波检测方法利质量分级》。本次修订参考了GB/T29702004《厚钢板超声波检验方法》利GB/T11345-1989《钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级》。木标准与DE/T542一1994相比主要变化如下:标准名称变更为《钢熔化辉T形接头超声波检测方法和质量评定》;修改了标准适用的范围:
-明确了探头选择的规定;
明硝了检测系统复核的时机,明确规定了在何种情况下应对系统进行复核的内穿;·修改了对比试块的形式:
呢确了检测灵敏度的规定,对单晶自探头、双晶直探头及斜探头的灵敏度做了相关要求;修改了检测结果的质量分级,按照GB/T11345执行:删除了原附录A、B、C,增加了附录A双晶片直探头的性能要求及性能测试方法和附录·B双晶片直探头的结构形式。
本标准按照GB/T1.1一2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》给出的规定编写。本标准出中国电力企业联合会提出。本标准由电力行业电站焊接标准化技术委员会归口。本标准起草单位:华电郑州机械设计研究院有限公司、中间电力科学研究院。本标准参加起草单位:黑龙江省电力科学研究院、云南电力试验研究院(集团)有限公司、山西电力科学研究院、中国长江三峡集团公司。本标准主要起草人:刘雪芳、包乐庆、泡永斌、吴章勤、董剪军、冷跃春、李涛。本标准首次发布时间为1994年,本次为第一次修订。本标准实施之日起代替DL/T542—1994。本标准在执行过程中的意见或建议反债至中润电力企业联合会标准化管理中心(北京市白广路二条一号,100761)。
1范围
DL/T542—2014
钢熔化焊T形接头超声波检测方法和质量评定本标准规定了电力行业金属结构及设备焊接结构件使门A型脉冲反射法于工超+波检测钢熔化焊工形接头的检测方法和质量评定,本标准适于罩板厚度不小于6mm、腹板厂度不小于8mm的手奥氏体钢熔化焊T形接头超市波检测,也造用于管板、十字接头和直径人于500mm管材I形拨头焊缝的超声波检测。2规范性引用文件
下列文件对于本
的用是必不可少的。凡是注H期的引用文作,仅注口期的版本逅用丁木义件。文
凡是不注H期的引!
GB/T2970-
GB/T11345
DL/T675
JB/T9214
JB/T10061
JB/T10062
3检测人员
其最新版本(包括所有的修改单)厚钢板超市波检验方法
逢于工超声波探伤方法和探伤结果分级业无损检测人员资格考核抛通
适用于本义性。
员检测A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件声深份用探头性能测试方
检的人员,按DL/T
从事焊缝超声
格证书。
4检测系统
675的规定进行
厅考核合格,并应取得与其工作相适应的技术资4.1仪器
使用A型脉冲反办波探伤仪,其工作频率范围至少应为0.5MH10MHz。探伤仪应配各精度应为任意相邻12dB误差的上1dB。步级每挡应不大于1dB,总请节量应增益控剂器或衰减器,
大于100dB,水平线性误差应不大于1%,垂自线性误差应不人5%设备其余指标应符合JB/T10061
的规定:
4.2探头
4.2.1直深头检测时,直探头形式及参数见表表1直探头形式及参数
翼板厚度
258260
探头形式
晶片尺寸
15mmX5mmX2
15mmX5mm×2
@-10mm~25mm
聚焦深度与累板厚度相当
DL / T 542 — 2014
4.2.2斜探头检测时,应采用单品片斜探头或双品片斜探头,双晶片斜深头的聚焦区应在焊缝检区域内,焦点直径应不人于@5mm:斜探头的频率应为2.0MIIz~5.0MHz,折射角度及前沿尺小应根据检测面母材厚度、T形接头坡二形式,波口角度及预期检测的丰要缺陷位晋和种类进行选择。4.2.3单晶片探头性能应按B/T10062的规定测试,双示片占探头的性能及测试方法应符合附录A的要求。双品片直探头的结构形式见附录B4.3系统性能
4.3.1在达到被检工件的最人检测声程时,系统有效灵缴度余量不应小于10dB。4.3.2仪器禾1单品片直探头组合的始脉宽度在基准灵敏度时应不超过10mm(相\于钢中声程)。百探头的远场分辨力应不小于30dB,斜探头的远场分辨力应不小于6cdB。4.3.3
4.3.4仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试,4.4检测前仪器和探头系统测定
4.4.1使用仪器一斜探头系统,检测前应测定前沿即离、K值利主声束离,调节扫描量程。使川仪器一单晶片直探头系统,检测前应测定起始脉冲宽度、灵敏受余量和分辨力,调节扫描量程4.4.21
使用仪器一双晶片直探头系统,砼测前应制作距离一波帽曲、测定表而汕漏回波高度、灵敏度4.4.3
及有效波束宽度。
4.5系统校验和复核
4.5.1仪器的水平线性利报直线性的校验周期应为3个月。4.5.2遇有下列情况之一应对系统送行复核:校准后的探头、探头线、耦合剂和仪器谢节发牛改变时:a)
检测人员怀疑扫描量程或检测灵敏度有变化时b)
连续工作41以上时:
d)工作结束时。
5试块
5.1标准试块
应采用GB门11345规定的标准试块,用于仪器,探头系统性能校准5.2对比试块
5.2.1对比试块应采用与被检测材料相同或产学性能相近的钢材削成,材质应均匀,采川占探头检测时不应有人了或等丁@1mm平底孔当量的缺陷。5.2.2直探头对比试快的形状和尺寸应符合图1和表2的规定,用丁在翼板处检测末烂透时调整利校验检测灵做度。条件允许付可根据囊板的厚度制作专讲的对比试块,Ats
说明:
检测面到档的距离:
试块厚度
单位:mmu
图1WHT直深头检测用对比试块的形状和外形尺寸试块编号
WIIT-3
WFIT-4
表2WTIT直探头检测用对比试块尺寸板愉源焊缝黑板厚度8
>8--16
16--24
>34--44
>56~-68
检测面到槽的离S
DL/T542
尊位:mm
试焕厚度下
斜探头应采用GB/T11345规定的对比试块,用于检测时绘制距离---波幅曲线,调整利校验检测5.2.3
灵敏度。
5.3参考试块
现场检测时,为校验灵敏没和时些,也可采用其形式的参考试典。6检测等级和扫查部位
6.1检测等级
6.1.1A级检测适用-」承受静载尚焊接钢结构件。6.1.2B级检测适用」承受重复载荷和对焊縫强度要求较高的烂接钢结构件,6.1.3C级检测适用丁承受交变载荷、工况条件恶劣、因破以能引起重大灾害事故的焊接结构件6.2扫查部位
6.2.1A级检测应从冀板外侧用直深头和斜探头扫查焊缝及其热影区,扫查部位见图2a)。垂自予焊缝走向的探头移动区应符合式(1)、武(2)的要求:P≥2K, 1 -50
P2atanp+2K,+&+50
式中:
直探头移动区,mm;
斜探头移动区:mm;
-散板厚度,n:
翼板原度,mm;
斜探头折射角:
翼版上的烂,mm
a)在被外侧面工检测
图2扫弯部位示意图
b)在腹板两调首上检测
DL/ T 542 — 2014
6.2.2B级检测应符合不标准6.2.1的规定,但对接T艺不稳定、缺陷难以判定或考缝区易产生延迟裂纹的性况,还应从腹板两侧用斜探头进行辅助扫查,扫查部位见图2b)。腹板衣面垂直丁焊缝走向的探头移动区应符合式(3)的要求:P ≥29 ianB+K,+50
武中:
P,-腹板上斜探头移动区,nmt
S——腹板厚度,mm;
β-一斜探义折射角;
K-腹板上的焊脚,mm:
6.2.3C级检测应从翼板外侧用直探头利斜探头扫查焊缝及其热影响区,同还应刀斜探头从胺板两侧扫查焊缝,扫查部位见图2。
6.2.4需要从腹板两侧用斜探头进行扫查时,如果受条限制,腹板上的检测只能从…侧表面上进行或者只能月斜探头的·次波扫查时,应在检测记录和报告中注明7检测准备
7.1枪测面
探头移动区域内,应消除焊接飞溅、铁屑、油垢等妨碍市耦个的外部杂质。检测面应平整北滑,其表面粗糙度Ra值应不大于6.3utm,必要时应进行修磨。7.2缺陷定位坐标的设定
7.2.1翼板外侧面上定位坐标的设定检测前应在翼板检测面上画出相应腹板原度的中心线,作为两侧焊縫缺陷定位川的X坐标轴线,在Y坐标辑上设置一个易于查找的永久性标志,作为坐标原点。通过坐标原点作与X轴相直的直线,即Y坐标轴。
7.2.2腹板面上的定位坐标的设定缺陷在腹板面1定位时,可利用翼板外侧面「的定位坐标,出可另行设定。7.3灵敏度调节
7.3.1单品片白探头俭测未焊透时,用检测面到平底槽的距离和翼板厚度相等或近的WHT对比试块,根据产品技术要求选择平底槽的宽度,将此平底档的反射波调到80%为检测灵敏度。也可在翼板母材上将第一次底波调整到满刻度的80%为基准波高B,再根据产品技术要求按照表3设定检测灵敏度。表3单晶直探头检测灵敏度设定
允许米焊透深发
检测灵敏度
Bi+20dB
Bi-14dH
B,+1dB
B,+8dB
7.3.2双晶片直探头检测未焊透时,用检测面到平底槛的距离和翼板厚度相等或柜近的WIIT对比试块,根据产品技术耍求选择平底槽的宽度,将此平底槽反射波调到80%为检测灵嫩度。也可在翼板母材上将第次底波凋整到满刻度的80%为基准波高B,再根据产品技术要求按照表4设定检测灵敏度。表4双晶直探头检测灵敏度设定
允许术焊透深度
检测灵敏度
B,+26dB
Bi-18dR
B,-15dB
Bi+12dB
7.3.3斜深头检测时,按照GB/T11345标准规定绘制距离一波幅曲线,扫查灵敏度应不低汀~评定线灵度7.3.4如果焊經母材与校验灵敏度所用试块之间存有2dB以1:的市能衰减与耦合差,则应对声能衰4
减与传输损失给子补偿。
7.4耦合剂
DL/T542—2014
耦合剂应润湿检测表面并确保声波传播,如水、机油、甘油和浆糊等,为了改普超声耦合效果和保护被检工件,亢添加环保润湿剂和防腐剂等淤加剂。在校准和检测中应使用同种耦合剂。8检测
8.1母材检测
8.1.1焊缝检测前应在规定的扫查范围内月白深头对母材进行扫查,对母材中非危害性缺陷进行定位定量,确定这些缺陷是否影响焊缝中缺陷的检出,如果有影响应在检测记录和报中注明。8.1.2测定材质对超声波的衰减情况,确定表面状态对市能传输的影响。8.2焊缝检测
熔透型焊缝缺陷的检测方法和快陷评定按照GB/T11345执行。产品发术条件规定T形接头根部熔合尺寸的检测根搭检测进择检测面,检测面可选在翼板或腹板上8.2.1直探头在翼板侧检测去
8.2.1.1双面坡口T开形接头
将探头放在翼对于腹板坡口钝边心的位置上,根据反射波的位肯和高度判断木焊透指示宽度。焊透反射波隔比基准波低8dB以上单品探头检测时
定:双品直探头检测,
当未焊透反射波幅比基准波低12dB即未炽透指示克度小于4mm,用当量法评时,即未焊透指示宽度小于4mm,用当串法评定:当未焊透指尔宽度大于等于4mm时,用测长法评定。测长法为找出未焊透的最高波,将波幅调至满屏的80%,然后将探头分别向两侧移动,波幅降至60%的范围为未焊透指示宽度,见图3a)。8.2.1.2单面坡形接头
对于单面坡形接头,根部不均底时,探头向腹板根部移动无边界,只能确定坡口侧木焊透位置的边界。找出卡的最高波,将波幅调至满屏的80%,然后将探头向坡口侧移动,波幅降至60%的范围为木焊透指示图见图3b)。
8.2.1.3I形坡口T形接头
将探头放在翼机精丁腹板坡口钝边中心的位置上,用测长法评定未焊透宽度。测长法为找出未焊透的最高波,将波幅调至满屏的80%,然后将探头分别向两侧移动,波幅降至60%做出标记,测量两标记点问距离II。I形坂一焊缝,腹板端部允许未熔区域占宽H小丁等丁腹板厚市8,仅当H人丁S,时,二者之光为根部未烦这,
探头移动方向
a)双H坡口
8.2.2斜探头在翼板侧检测法
探义移动方向
b)羊面坡口
图3翼板侧直探头检测法
操头荡动方向
e)形坡口
双面焊组合炽缝的坡口包括对称和不对称的双面坡口、单面坡口及1形坡口,斜探头在粪板上检测5
DL / T 542 2014
应符下列方法:
a)用划针在累板上画-一条对应于覆板厚度中心线的直线作为基准线b)将探头放在翼板上,在标记线两侧探头指向标记线并沿垂自标记线方向移动。c)我山仪器读数深度为厚时的最大反射波,衙出际记。d)内店移探头,应区别下列两种情:1)后移深头,若该反射波下降,示上述探头标记处的反射波为翼板二末焊透端点反射被见图4a),记下该反射波的仪器水平读数L,和L分别测量探头入射点与基准线之间的距离X和X2,则(X-L)-(-L)之值即为未焊透指示宽度。庐移头,若该反射波增高或先下降后高,且深度谈数大于强板原度值,表示腹板坡口2
面上也存在未透,也图4b),则找到其最高波并凋至满屏的80%:再后移探头,波幅降至60%做出标记,记下该反射波的仪器水平读数L,和L2,量探头入射点与基准线之间的距离和X2:(X-L)+(X2-L2)即为术焊透指示宽度a)翼板:存在末炸透
b)·腹板皱口亚上存在米焊
图4双面焊缝(双面坡口、单面坡口、I形坡口)翼板面上斜探头检测法8.2.3斜探头在腹板检测法
双而炽缝(双面坡厂、单面玻口,I形坡口)斜探头在腹板上检测应符合下列方法:8.2.3.1
使用直射波检测未焊透下部区域,用一次反射波检测木焊透上部这域,见图5。当检测山上的焊脚过人影响检测时,应从腹板见,-侧检测。如果只能从腹板一检测,应选择短前沿人K探头。发现疑似未焊透反射波店,通过测量探头入射点至腹板钝边的距离,如该邱离与仪器水平读数b)
基本相可,则确认该反射波为未焊透的反射波。前后移动探头,找到最高波并调至满屏的80%。e
d)后移探头,使该波降低至60%,记下比时仪器深度读数H。当使而百射波、一次反射波探伤时,其对应的仪器深度读数分别为H及H,则H+H-28为未焊透指示宽度.
盲时波化置。一次反射波位,
图5双面焊腹板侧斜探头检测法此内容来自标准下载网
8.2.3.2单山焊纠合焊缝斜探头在腹板J检测应符合下列方法:DL/T542—2014
a)~次波法。通过水平距离确认端角反波,向前移动探头,使紧靠端角反射波达到最高,见图6a),记下仪器深度读数H,则未透指示充度为H-8-Hb)一次波法。通过水距离确认端角反射波,司后移动头,使紧靠端育反射波达到最高,见图6 b),记下仪器深度读数 H,则不烷透指系宽度为H=Hs-S,Am
次波法
h)二次波浮
图6单面焊腹板侧斜探头检测法
8.3扫查
8.3.1扫查速!度应不大150mm/s8.3.2探头沿整个检测而进行前后扫查、左右扫查及W形扫查等,探头打查覆盖率应大于探头尺寸15%:母材或烂道中发现的各和缺陷应进行定量、定位:8.4使川双品片自探头测定未焊透宽度时,应使探头移动方闻与焊缝轴线垂直。测定缺陷长度或缺必司距寸,应使探义移动方间与缺陷长度方向三行。9缺陷评定
9.1对二要求全焊透的T,诊接头,缺陷评定及检测结果的等级分类执行GB门11345发现有术炼透存在吋,应在报告中注悲卡焊透指六宽度,9.2对于规起熔合尺寸的T形接头,熔合宽度按照品技术文件婴求识定,H他快陷按照GB/T11345评定:
10检测记录与报告
10.1检测记录主要内容
检测记录尘要内容包括工栏名称、工件缩号、焊缝编号、坡二形式、焊接方法、母材材质、规格、表面质量、探伤方法、检测标准、验收级别、检测比例、使用的仪器塑号、探头规格、耦含剂、试块、检测灵敏度、所发现的超标缺陷及让定记录、检测人员及其资格等级和检测上期等,10.2检测报告主要内容
检测报告主要内容包括工程名称、工件名称、工件编号、焊缝编号、检测部位示总图、检测比例、检测标准、验收等级、映陷情况、探伤结论、检测人员的资等级、检测人员和中核人员签字等DL/T542—2014
A.1距离一波幅特性曲线
附录A
(规范性附录)
双晶片直探头的性能要求及性能测试方法采用GB/T2970一2004+图1所示试炎,探头依次置丁各个厚度上,分别将其叫波高度调至仪器满刻度的80%,记下回波高度,然后以横坐标表示试块淳度、纵坐标表示可波高度,做出如图A.1所示的特性两线。在原度T与处的回波高度(\~为该探头的检测使用围),与最大回波高度差应不大T 6dB.
A.2表面泄漏回波高度
板厚()
图A.1双晶直探头距离一波幅特性曲线用直接接触法测定表面泄漏回波高度:选出GB/T2970—2004图21[1S估与双晶探头聚焦深度相近的试块,使@5mm半底孔反射匹波高度达到满刻度的80%,况下回波高度值。准此状态,,提高仪器灵敏度,使表面叫波反射高度也达到满刻度的80%,再记下比时回波高度值(即为表面泄漏回波高度),此数值应比最大[n波高度低40kB以上。A.3灵敏度
将探头置十GB/T2970一2004中图2所示的试块.1,测定更5mm平底孔的反射回波高度:当@5mm平底孔反射回波高度达到溺刻度的80%时,记下回波高度值。此回高度与最人可波高度的差应在(10土2)dB范围内。
A.4有效波束宽度
将揉头置于GB/T2970一2004中图2所示的2号试块上,对准5mm平底孔,使探头平行j声场分刮而移动,测定最大回波高度两侧下降6dB的范用,即为有效波束宽度,该宽度应人丁15mm。附录B
(规范性附录)
双晶片直探头的结构形式
双晶片直探头的结构形式见图B.1,晶片尺寸为5mm×15mm。荒体
骏声材料
探头芯
府声层一
探伤区
图B.1双晶片直探头的结构形式
DL/T5422014
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