DL/T 303-2014
基本信息
标准号： DL/T 303-2014
中文名称：电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测
标准类别：电力行业标准(DL)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
DL/T 303-2014.Ultrasonic inspection for the trut porcelain insulator and borcelain bushing used in the grid system.
1范围
DL/T 303规定了电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测方法和检测结果的评定。
DL/T 303适用于发电厂、变电站(所)、换流站、串补站户内和户外外径不小于?80mm高压支柱瓷绝缘子及外径不小于?150mm的断路器、电流互感器、电压互感器(含电容式电压互感器)、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。
DL/T 303也适用于发供电行业设备安装和检修时的检测。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2900.8电工术语绝缘子
GB/T 12604.1无损检测 术语超声检测
GB/T 19799.1无损检测超声检测1 号校准试块
DL/T675电力行业无损检测人 员资格考核规则
JB/T9214无损检测 A 型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法
JB/T 10061 A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件
JB/T 10062超声 探伤用探头性能测试方法
3一般要求
3.1 无损检测人员
按本标准从事无损检测的人员，应按DL/T 675的规定进行培训考核，并取得相应资格证书，从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并承担相应的技术责任。
3.2安全及工作环境
从事检测的人员应遵守GB 26860- 2011《电力安全工作规程发电厂 和变电站电气部分》有关规定，当检测条件符合安全作业条件和本标准的工艺要求时，方可进行检测。
1范围
DL/T 303规定了电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测方法和检测结果的评定。
DL/T 303适用于发电厂、变电站(所)、换流站、串补站户内和户外外径不小于?80mm高压支柱瓷绝缘子及外径不小于?150mm的断路器、电流互感器、电压互感器(含电容式电压互感器)、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。
DL/T 303也适用于发供电行业设备安装和检修时的检测。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2900.8电工术语绝缘子
GB/T 12604.1无损检测 术语超声检测
GB/T 19799.1无损检测超声检测1 号校准试块
DL/T675电力行业无损检测人 员资格考核规则
JB/T9214无损检测 A 型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法
JB/T 10061 A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件
JB/T 10062超声 探伤用探头性能测试方法
3一般要求
3.1 无损检测人员
按本标准从事无损检测的人员，应按DL/T 675的规定进行培训考核，并取得相应资格证书，从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并承担相应的技术责任。
3.2安全及工作环境
从事检测的人员应遵守GB 26860- 2011《电力安全工作规程发电厂 和变电站电气部分》有关规定，当检测条件符合安全作业条件和本标准的工艺要求时，方可进行检测。
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标准内容
ICS77.040.20
中华人民共和国电力行业标准
DL/T303-2014
电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套
超声波检测
Ultrasonic inspection for the trut porcelain insulator andborcelain bushing used in the grid system2014-10-15发布
国家能源局
2015-03-01实施
规范性引用文件
一般要求
检测方法
检测工艺规程
6评定
8报告
附录A（规范性附录）
附录B（规范性附录）
附录C（规范性附录）
附录D（规范性附录）
附录E（资料性附录）
附录F（资料性附录）
附录G（资料性附录）
附录H（资料性附录）
支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测校准试块支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测参考试块缺陷指示长度的修正
反射回波分析…
支柱瓷绝缘子超声波检测记录
瓷套超声波检测记录··
支柱瓷绝缘子超声波检测报告
瓷套超声波检测报告
DL/T303—2014
DL/T303-2014
本标准的编写格式和规则符合GB/T1.1《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》的要求。
本标准由中国电力企业联合会提出。本标准由电力行业电站金属材料标准化技术委员会归口。本标准起草单位：华东电力试验研究院有限公司。本标准参加起草单位：徐州电力试验中心、国网河南电力试验研究院、国网江苏省电力公司、济宁瑞祥模具有限责任公司、西安热工研究院有限公司、苏州热工研究院有限公司、华北电力科学研究院有限责任公司、天津电力建设公司、黑龙江省电力科学研究院、四川电力试验研究院、上海明华电力技术工程有限公司、安徽省电力科学研究院、爱德森（厦门）电子有限公司。本标准主要起草人：蒋云、王维东、蔡红生、高山、汪毅、蔡晖、胡先龙、邓黎明、严正、池永滨、韩玉峰、刘勇、高凯、魏忠瑞、林俊明、严晓东、陈立。本标准在执行过程中的意见或建议反馈至中国电力企业联合会标准化管理中心（北京市白广路二条一号，100761)。
DL/T3032014
本标准是根据国家发展和改革委员会办公厅下发的发办工业（2008）1424号文《关于印发2008年行业标准计划的通知》安排制定。支柱瓷绝缘子及瓷套是电网和发电厂电气设备的重要部件。由于安装、维护检修及运行中受恶劣环境或其他因素的影响，容易造成失效断裂，危及电网的安全运行。因此，加强对电网在役支柱瓷绝缘子和瓷套的有效检测和质量评价，对确保电网的安全可靠经济运行至关重要。本标准针对电网在役支柱瓷绝缘子和瓷套内部细微缺陷和损伤经长期运行扩展产生的裂纹，以及铸铁法兰内瓷体表面和近表面由于胶装工艺不当导致水泥膨胀应力过大产生的裂纹，提供了有效的检测方法。
本标准制定时，参考了欧洲Areva集团公司企业标准《瓷支柱绝缘子与瓷套超声波探伤规定》。对支柱瓷绝缘子和瓷套超声波探伤工艺方法进行了大量的试验研究和应用实践，吸收了国内电力行业有关单位的经验，在广泛征求有关专家意见的基础上，制定了本标准。本标准规定了采用A型脉冲反射式数字超声探伤仪运用爬波探伤法、小角度纵波探伤法和双晶横波探伤法综合检测工艺，实现对电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套的有效检测。1范围
电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套
超声波检测
本标准规定了电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测方法和检测结果的评定。DL/T303—2014
本标准适用于发电厂、变电站（所）、换流站、串补站户内和户外外径不小于Φ80mm高压支柱瓷绝缘子及外径不小于Φ150mm的断路器、电流互感器、电压互感器（含电容式电压互感器）、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。
本标准也适用于发供电行业设备安装和检修时的检测。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2900.8电工术语绝缘子
GB/T12604.1无损检测术语超声检测GB/T19799.1无损检测超声检测1号校准试块DL/T675电力行业无损检测人员资格考核规则JB/T9214无损检测A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法JB/T10061A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件JB/T10062超声探伤用探头性能测试方法3一般要求
3.1无损检测人员
按本标准从事无损检测的人员，应按DL/T675的规定进行培训考核，并取得相应资格证书，从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并承担相应的技术责任。3.2安全及工作环境
从事检测的人员应遵守GB26860一2011《电力安全工作规程发电厂和变电站电气部分》有关规定，当检测条件符合安全作业条件和本标准的工艺要求时，方可进行检测。3.3检测设备
3.3.1超声波探伤仪
3.3.1.1采用A型脉冲反射式数字超声波探伤仪。超声波探伤仪的工作频率范围至少为1MHz～10MHz，应具有80dB以上的连续可调衰减器。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%，实时采样频率不小于100MHz，其余性能指标应符合JB/T10061的规定。3.3.1.2超声波探伤仪扫查记录采用A扫描或B扫描的形式显示。1
DL/T303—2014
3.3.1.3超声波探伤仪应有足够的存储能力并带有通信接口，可存储预先设定的仪器参数和曲线，可通过界面程序与计算机进行数据和波形交换3.3.1.4超声波探伤仪应具有产品合格证或合格的证明文件。3.3.2超声波探头
3.3.2.1超声波探头性能应按JB/T10062进行测定。3.3.2.2探头声速轴线水平偏离角应不大于2°，探头主波束在垂直方向不应有明显的双峰或多峰。3.3.2.3探头的中心频率允许偏差应为士0.5MHz。3.3.3探伤仪和探头组合的系统性能3.3.3.1探伤仪和探头的组合系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。3.3.3.2在达到被探工件最大检测声程处，其有效探伤灵敏度余量应不小于10dB。3.3.3.3探伤仪和探头的组合分辨率：小角度纵波斜探头的远场分辨率不小于30dB；爬波探头的分辨率不小于6dB。
3.3.3.4探伤仪和探头的组合频率与公称频率误差应在土10%之间。3.4试块
3.4.1校准试块
3.4.1.1校准试块是指本标准规定的用于探伤仪系统性能校准和检测校准的试块，用与瓷声速相近的铝合金材料加工制成，试块的形状和尺寸见附录A。3.4.1.2校准试块尺寸精度应符合本标准的要求，并有出厂计量合格证书，3.4.1.3校准试块的其他制造要求应符合GB/T19799.1的规定。3.4.2参考试块
参考试块是指本标准规定的用于检测时比对试验的试块，用与被检支柱瓷绝缘子外形尺寸相近，材质相同及声速接近的材料制成，试块的形状和尺寸见附录B。3.5检测一般方法
3.5.1检测准备
3.5.1.1检测前应了解设备的名称、支柱瓷绝缘子及瓷套的外形结构型式、尺寸、材质等：查阅制造厂出厂和安装时有关质量资料：查看被检支柱瓷绝缘子及瓷套上的产品标识，如无，则做好不易去除的唯一性编号标识等。
3.5.1.2耦合剂应具有良好的透声性能和润湿能力，且对工件无害，对工艺无影响，易清除。可选择甘油、机油或水质浆糊等作为耦合剂。3.5.1.3确定检测区域。支柱瓷绝缘子及瓷套检测区域是上、下瓷件端头与法兰胶装整个区域，重点是法兰口内外3mm与瓷体相交区域，见图1。3.5.2声速测定
检测前应对不同规格、不同批次的支柱瓷绝缘子及瓷套进行声速抽查测定，根据声速确定扫查灵敏度。方法如下：
胶装线
a）爬波探头检测支柱瓷
绝缘子表面缺陷
胶装线
c）爬波探头检测瓷套
表面缺陷
b）纵波斜入射探头检测支柱瓷
绝缘子内部及对称侧外表面缺陷伞裙
d）双晶横波斜探头检测
瓷套内部及内壁缺陷
图1支柱瓷绝缘子及瓷套检测示意图采用卡尺测量支柱瓷绝缘子直径：a
采用千分尺测量支柱瓷绝缘子或瓷套伞裙厚度：b）
DL/T303—2014
采用5MHz8mm直探头，测定被测点实际厚度，将厚度值输入仪器，将无缺陷处第一次和c）
第二次反射波调节到80%屏高，并将回波限制在闸门内，仪器将自动进行测试并显示出声速值：
d）也可采用其他有效方法进行声速测定。3.5.3扫查方式此内容来自标准下载网
3.5.3.1将探头置于支柱瓷绝缘子或瓷套的伞裙与法兰间，探头前沿对准法兰侧，并保证探头与检测面的良好耦合。扫查速度不应超过150mm/s（当采用自动报警装置扫查时不受此限制），扫查覆盖率应大于探头直径的10%。
3.5.3.2采用爬波法检测时，探头应尽可能向法兰侧前移，保持稳定接触，进行周向360°扫查。3
DL/T303-2014
3.5.3.3采用纵波斜探头或双晶横波探头检测时，在可移动范围内，探头作前后移动，进行周向3609扫查。
3.6探伤仪、探头及系统校准和复核3.6.1一般要求
校准和复核应在校准试块上进行，使探头主声束对准反射体的反射面。任何影响仪器线性的控制器（如抑制器或滤波开关等）都应放在“关”的位置或最低的水平上。3.6.2探伤仪校准和复核
在仪器开始启用时，应对仪器的水平线性、垂直线性进行测定。在使用过程中，每隔3个月至少进行一次复核。方法按JB/T10061的有关规定进行。3.6.3探头测定和复核
新购探头在使用前，应进行前沿距离、折射角、主声束偏离、灵敏度余量和分辨率等主要参数的测定，测定方法按JB/T10062的有关规定进行。使用过程中，每个工作日应作前沿距离、折射角、主声束偏离的复核。3.6.4探伤仪和探头系统的校准和复核3.6.4.1每次检测前均应在校准试块或其他等效试块上对扫描时基线比例和灵敏度进行校准，校准使用的试块与被检试件的温差应不大于15℃。遇有下列情况之一时应及时进行复核：a）校准后的探头、耦合剂和仪器参数发生变化时：b）开路电压波动或探伤人员怀疑灵敏度有变化时：c）连续工作4h以上时；
d）检测工作结束时。
3.6.4.2每次检测结束前，应对扫描时基线比例进行复核，如发现任意一点在扫描时基线上的偏移超过时基线刻度读数的10%，扫描比例应重新调整，前次校准后已经检测的试件应重新检测。3.6.4.3每次检测结束前，应对灵敏度进行复核。一般对距离一波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB或20%，则应对上一次以来所有的检测结果进行复检：如曲线上任何一点幅度上升2dB或20%，则应对所有的记录信号进行重新校对。4检测方法
4.1检测方法的选择
支柱瓷绝缘子及瓷套的超声波检测采用下述三种方法，用一种方法探伤时如发现缺陷，可选用另一种方法验证，也可用参考试块作比对试验，以提高检测结果的准确性。检测方法选择如下：a）支柱瓷绝缘子及瓷套法兰胶装区表面和近表面缺陷的检测采用爬波探伤法：b）支柱瓷绝缘子内部和对称侧表面或近表面缺陷的检测采用小角度纵波探伤法：c）瓷套内部和内壁缺陷的检测采用双晶横波探伤法。4
4.2爬波法
4.2.1探头的选择
4.2.1.1探头的型式
DL/T303—2014
使用并联式结构爬波探头。探头频率为2.5MHz，晶片尺寸选用10mm×12mm双晶片，移动范围较小时采用8mm×10mm或6mm×10mm双晶片探头。在探头移动范围许可的情况下，宜选择较大晶片探头。
4.2.1.2探头的弧面
探头移动时要求保持与检测面的良好吻合，应选用与试件曲面相匹配的探头。一般可在支柱瓷绝缘子及瓷套直径变化20mm范围内选用一种规格弧度的探头，但仅允许曲率半径大的探头探测曲面半径小一挡的试件（一挡为20mm）。探头的弧面直径分为@100mm、@120mm、Φ140mm、@160mm$180mm、Φ200mm、Φ220mm以及平面八种规格。4.2.1.3探头信噪比控制
探头信噪比的控制水平见表1。
表1探头信噪比的控制水平
探测距离：
杂波高度b
a指爬波探头前沿距校准试块上模拟裂纹的距离。b指校准试块上深度5mm的模拟裂纹80%波高时的杂波高度。4.2.2扫描时基线比例的调整
扫描时基线比例按声程定位法调整，将时间轴（最大量程）调整为60mm即可。4.2.3距离一波幅曲线（DAC曲线）的绘制50
将探头置于校准试块上，探头前沿距离深度5mm模拟裂纹10mm，测出最强反射波，调至80%屏高，然后依次测出距离分别为20mm、30mm、40mm、50mm处模拟裂纹波高，在示波屏上绘制出一条距离一波幅曲线，见图2。
4.2.4扫查灵敏度调整
采用校准试块调整扫查灵敏度。将探头置于试块上，找出距探头前沿10mm、深度为5mm模拟裂纹的最强反射波，调整到80%屏高，作为基准灵敏度。再根据实测的声速确定扫查灵敏度，具体如下：在基准灵敏度下，当声速为6700m/s时，增益为0，此时，基准灵敏度就是扫查灵敏度，而每当声速下降100m/s时，应在基准灵敏度基础上提高增益2dB作为扫查灵敏度。上述扫查灵敏度即为支柱瓷绝缘子或瓷套外壁1mm深度模拟裂纹的等效灵敏度。5
DL/T303—2014
4.2.5缺陷的检测
距离（mm)）
图2距离一波幅曲线
4.2.5.1按3.5.3进行扫查，对缺陷进行定量（最大反射波幅值及指示长度）和位置的测定。4.2.5.2缺陷的定量测定
凡超过距离一波幅曲线高度的反射波均判定为缺陷波。缺陷最大反射波幅与距离一波幅曲线高度的差值，记为“DAC土（）dB”。低于距离一波幅曲线高度的反射波采用半波高度法（6dB法）测定其指示长度。
方法如下：移动探头，找到缺陷最强反射波，将波高调到80%屏高，向左（或向右）移动探头，当波高降到40%屏高时，在探头中心线所对应的瓷体上做好标记，然后向右（或向左）移动探头，同样使波高降到40%屏高并做好标记，两标记间的距离即为缺陷的指示长度。4.2.5.3缺陷的位置测定
根据探头在探测面上的位置和最高反射波在示波屏上的水平位置来确定缺陷的周向和轴向位置，并做好记录。
4.3小角度纵波探伤法
4.3.1探头的选择
探头的型式
小角度纵波单晶斜探头的选择方法为：在移动范围许可的情况下，宜选择较大角度折射角探头，探头的选择见表2。
推荐使用的探头
支柱瓷绝缘子规格
探头晶片尺寸
mm×mm
探头频率
探头纵波折射角
$80~$120
18°~15°
￥120~160
18°～12°
1600200
15°~10°
12°~8°
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中华人民共和国电力行业标准
DL/T303-2014
电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套
超声波检测
Ultrasonic inspection for the trut porcelain insulator andborcelain bushing used in the grid system2014-10-15发布
国家能源局
2015-03-01实施
规范性引用文件
一般要求
检测方法
检测工艺规程
6评定
8报告
附录A（规范性附录）
附录B（规范性附录）
附录C（规范性附录）
附录D（规范性附录）
附录E（资料性附录）
附录F（资料性附录）
附录G（资料性附录）
附录H（资料性附录）
支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测校准试块支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测参考试块缺陷指示长度的修正
反射回波分析…
支柱瓷绝缘子超声波检测记录
瓷套超声波检测记录··
支柱瓷绝缘子超声波检测报告
瓷套超声波检测报告
DL/T303—2014
DL/T303-2014
本标准的编写格式和规则符合GB/T1.1《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》的要求。
本标准由中国电力企业联合会提出。本标准由电力行业电站金属材料标准化技术委员会归口。本标准起草单位：华东电力试验研究院有限公司。本标准参加起草单位：徐州电力试验中心、国网河南电力试验研究院、国网江苏省电力公司、济宁瑞祥模具有限责任公司、西安热工研究院有限公司、苏州热工研究院有限公司、华北电力科学研究院有限责任公司、天津电力建设公司、黑龙江省电力科学研究院、四川电力试验研究院、上海明华电力技术工程有限公司、安徽省电力科学研究院、爱德森（厦门）电子有限公司。本标准主要起草人：蒋云、王维东、蔡红生、高山、汪毅、蔡晖、胡先龙、邓黎明、严正、池永滨、韩玉峰、刘勇、高凯、魏忠瑞、林俊明、严晓东、陈立。本标准在执行过程中的意见或建议反馈至中国电力企业联合会标准化管理中心（北京市白广路二条一号，100761)。
DL/T3032014
本标准是根据国家发展和改革委员会办公厅下发的发办工业（2008）1424号文《关于印发2008年行业标准计划的通知》安排制定。支柱瓷绝缘子及瓷套是电网和发电厂电气设备的重要部件。由于安装、维护检修及运行中受恶劣环境或其他因素的影响，容易造成失效断裂，危及电网的安全运行。因此，加强对电网在役支柱瓷绝缘子和瓷套的有效检测和质量评价，对确保电网的安全可靠经济运行至关重要。本标准针对电网在役支柱瓷绝缘子和瓷套内部细微缺陷和损伤经长期运行扩展产生的裂纹，以及铸铁法兰内瓷体表面和近表面由于胶装工艺不当导致水泥膨胀应力过大产生的裂纹，提供了有效的检测方法。
本标准制定时，参考了欧洲Areva集团公司企业标准《瓷支柱绝缘子与瓷套超声波探伤规定》。对支柱瓷绝缘子和瓷套超声波探伤工艺方法进行了大量的试验研究和应用实践，吸收了国内电力行业有关单位的经验，在广泛征求有关专家意见的基础上，制定了本标准。本标准规定了采用A型脉冲反射式数字超声探伤仪运用爬波探伤法、小角度纵波探伤法和双晶横波探伤法综合检测工艺，实现对电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套的有效检测。1范围
电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套
超声波检测
本标准规定了电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测方法和检测结果的评定。DL/T303—2014
本标准适用于发电厂、变电站（所）、换流站、串补站户内和户外外径不小于Φ80mm高压支柱瓷绝缘子及外径不小于Φ150mm的断路器、电流互感器、电压互感器（含电容式电压互感器）、避雷器等设备瓷质外套的超声波检测。
本标准也适用于发供电行业设备安装和检修时的检测。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2900.8电工术语绝缘子
GB/T12604.1无损检测术语超声检测GB/T19799.1无损检测超声检测1号校准试块DL/T675电力行业无损检测人员资格考核规则JB/T9214无损检测A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法JB/T10061A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件JB/T10062超声探伤用探头性能测试方法3一般要求
3.1无损检测人员
按本标准从事无损检测的人员，应按DL/T675的规定进行培训考核，并取得相应资格证书，从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作，并承担相应的技术责任。3.2安全及工作环境
从事检测的人员应遵守GB26860一2011《电力安全工作规程发电厂和变电站电气部分》有关规定，当检测条件符合安全作业条件和本标准的工艺要求时，方可进行检测。3.3检测设备
3.3.1超声波探伤仪
3.3.1.1采用A型脉冲反射式数字超声波探伤仪。超声波探伤仪的工作频率范围至少为1MHz～10MHz，应具有80dB以上的连续可调衰减器。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%，实时采样频率不小于100MHz，其余性能指标应符合JB/T10061的规定。3.3.1.2超声波探伤仪扫查记录采用A扫描或B扫描的形式显示。1
DL/T303—2014
3.3.1.3超声波探伤仪应有足够的存储能力并带有通信接口，可存储预先设定的仪器参数和曲线，可通过界面程序与计算机进行数据和波形交换3.3.1.4超声波探伤仪应具有产品合格证或合格的证明文件。3.3.2超声波探头
3.3.2.1超声波探头性能应按JB/T10062进行测定。3.3.2.2探头声速轴线水平偏离角应不大于2°，探头主波束在垂直方向不应有明显的双峰或多峰。3.3.2.3探头的中心频率允许偏差应为士0.5MHz。3.3.3探伤仪和探头组合的系统性能3.3.3.1探伤仪和探头的组合系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。3.3.3.2在达到被探工件最大检测声程处，其有效探伤灵敏度余量应不小于10dB。3.3.3.3探伤仪和探头的组合分辨率：小角度纵波斜探头的远场分辨率不小于30dB；爬波探头的分辨率不小于6dB。
3.3.3.4探伤仪和探头的组合频率与公称频率误差应在土10%之间。3.4试块
3.4.1校准试块
3.4.1.1校准试块是指本标准规定的用于探伤仪系统性能校准和检测校准的试块，用与瓷声速相近的铝合金材料加工制成，试块的形状和尺寸见附录A。3.4.1.2校准试块尺寸精度应符合本标准的要求，并有出厂计量合格证书，3.4.1.3校准试块的其他制造要求应符合GB/T19799.1的规定。3.4.2参考试块
参考试块是指本标准规定的用于检测时比对试验的试块，用与被检支柱瓷绝缘子外形尺寸相近，材质相同及声速接近的材料制成，试块的形状和尺寸见附录B。3.5检测一般方法
3.5.1检测准备
3.5.1.1检测前应了解设备的名称、支柱瓷绝缘子及瓷套的外形结构型式、尺寸、材质等：查阅制造厂出厂和安装时有关质量资料：查看被检支柱瓷绝缘子及瓷套上的产品标识，如无，则做好不易去除的唯一性编号标识等。
3.5.1.2耦合剂应具有良好的透声性能和润湿能力，且对工件无害，对工艺无影响，易清除。可选择甘油、机油或水质浆糊等作为耦合剂。3.5.1.3确定检测区域。支柱瓷绝缘子及瓷套检测区域是上、下瓷件端头与法兰胶装整个区域，重点是法兰口内外3mm与瓷体相交区域，见图1。3.5.2声速测定
检测前应对不同规格、不同批次的支柱瓷绝缘子及瓷套进行声速抽查测定，根据声速确定扫查灵敏度。方法如下：
胶装线
a）爬波探头检测支柱瓷
绝缘子表面缺陷
胶装线
c）爬波探头检测瓷套
表面缺陷
b）纵波斜入射探头检测支柱瓷
绝缘子内部及对称侧外表面缺陷伞裙
d）双晶横波斜探头检测
瓷套内部及内壁缺陷
图1支柱瓷绝缘子及瓷套检测示意图采用卡尺测量支柱瓷绝缘子直径：a
采用千分尺测量支柱瓷绝缘子或瓷套伞裙厚度：b）
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采用5MHz8mm直探头，测定被测点实际厚度，将厚度值输入仪器，将无缺陷处第一次和c）
第二次反射波调节到80%屏高，并将回波限制在闸门内，仪器将自动进行测试并显示出声速值：
d）也可采用其他有效方法进行声速测定。3.5.3扫查方式此内容来自标准下载网
3.5.3.1将探头置于支柱瓷绝缘子或瓷套的伞裙与法兰间，探头前沿对准法兰侧，并保证探头与检测面的良好耦合。扫查速度不应超过150mm/s（当采用自动报警装置扫查时不受此限制），扫查覆盖率应大于探头直径的10%。
3.5.3.2采用爬波法检测时，探头应尽可能向法兰侧前移，保持稳定接触，进行周向360°扫查。3
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3.5.3.3采用纵波斜探头或双晶横波探头检测时，在可移动范围内，探头作前后移动，进行周向3609扫查。
3.6探伤仪、探头及系统校准和复核3.6.1一般要求
校准和复核应在校准试块上进行，使探头主声束对准反射体的反射面。任何影响仪器线性的控制器（如抑制器或滤波开关等）都应放在“关”的位置或最低的水平上。3.6.2探伤仪校准和复核
在仪器开始启用时，应对仪器的水平线性、垂直线性进行测定。在使用过程中，每隔3个月至少进行一次复核。方法按JB/T10061的有关规定进行。3.6.3探头测定和复核
新购探头在使用前，应进行前沿距离、折射角、主声束偏离、灵敏度余量和分辨率等主要参数的测定，测定方法按JB/T10062的有关规定进行。使用过程中，每个工作日应作前沿距离、折射角、主声束偏离的复核。3.6.4探伤仪和探头系统的校准和复核3.6.4.1每次检测前均应在校准试块或其他等效试块上对扫描时基线比例和灵敏度进行校准，校准使用的试块与被检试件的温差应不大于15℃。遇有下列情况之一时应及时进行复核：a）校准后的探头、耦合剂和仪器参数发生变化时：b）开路电压波动或探伤人员怀疑灵敏度有变化时：c）连续工作4h以上时；
d）检测工作结束时。
3.6.4.2每次检测结束前，应对扫描时基线比例进行复核，如发现任意一点在扫描时基线上的偏移超过时基线刻度读数的10%，扫描比例应重新调整，前次校准后已经检测的试件应重新检测。3.6.4.3每次检测结束前，应对灵敏度进行复核。一般对距离一波幅曲线的校核不应少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB或20%，则应对上一次以来所有的检测结果进行复检：如曲线上任何一点幅度上升2dB或20%，则应对所有的记录信号进行重新校对。4检测方法
4.1检测方法的选择
支柱瓷绝缘子及瓷套的超声波检测采用下述三种方法，用一种方法探伤时如发现缺陷，可选用另一种方法验证，也可用参考试块作比对试验，以提高检测结果的准确性。检测方法选择如下：a）支柱瓷绝缘子及瓷套法兰胶装区表面和近表面缺陷的检测采用爬波探伤法：b）支柱瓷绝缘子内部和对称侧表面或近表面缺陷的检测采用小角度纵波探伤法：c）瓷套内部和内壁缺陷的检测采用双晶横波探伤法。4
4.2爬波法
4.2.1探头的选择
4.2.1.1探头的型式
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使用并联式结构爬波探头。探头频率为2.5MHz，晶片尺寸选用10mm×12mm双晶片，移动范围较小时采用8mm×10mm或6mm×10mm双晶片探头。在探头移动范围许可的情况下，宜选择较大晶片探头。
4.2.1.2探头的弧面
探头移动时要求保持与检测面的良好吻合，应选用与试件曲面相匹配的探头。一般可在支柱瓷绝缘子及瓷套直径变化20mm范围内选用一种规格弧度的探头，但仅允许曲率半径大的探头探测曲面半径小一挡的试件（一挡为20mm）。探头的弧面直径分为@100mm、@120mm、Φ140mm、@160mm$180mm、Φ200mm、Φ220mm以及平面八种规格。4.2.1.3探头信噪比控制
探头信噪比的控制水平见表1。
表1探头信噪比的控制水平
探测距离：
杂波高度b
a指爬波探头前沿距校准试块上模拟裂纹的距离。b指校准试块上深度5mm的模拟裂纹80%波高时的杂波高度。4.2.2扫描时基线比例的调整
扫描时基线比例按声程定位法调整，将时间轴（最大量程）调整为60mm即可。4.2.3距离一波幅曲线（DAC曲线）的绘制50
将探头置于校准试块上，探头前沿距离深度5mm模拟裂纹10mm，测出最强反射波，调至80%屏高，然后依次测出距离分别为20mm、30mm、40mm、50mm处模拟裂纹波高，在示波屏上绘制出一条距离一波幅曲线，见图2。
4.2.4扫查灵敏度调整
采用校准试块调整扫查灵敏度。将探头置于试块上，找出距探头前沿10mm、深度为5mm模拟裂纹的最强反射波，调整到80%屏高，作为基准灵敏度。再根据实测的声速确定扫查灵敏度，具体如下：在基准灵敏度下，当声速为6700m/s时，增益为0，此时，基准灵敏度就是扫查灵敏度，而每当声速下降100m/s时，应在基准灵敏度基础上提高增益2dB作为扫查灵敏度。上述扫查灵敏度即为支柱瓷绝缘子或瓷套外壁1mm深度模拟裂纹的等效灵敏度。5
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4.2.5缺陷的检测
距离（mm)）
图2距离一波幅曲线
4.2.5.1按3.5.3进行扫查，对缺陷进行定量（最大反射波幅值及指示长度）和位置的测定。4.2.5.2缺陷的定量测定
凡超过距离一波幅曲线高度的反射波均判定为缺陷波。缺陷最大反射波幅与距离一波幅曲线高度的差值，记为“DAC土（）dB”。低于距离一波幅曲线高度的反射波采用半波高度法（6dB法）测定其指示长度。
方法如下：移动探头，找到缺陷最强反射波，将波高调到80%屏高，向左（或向右）移动探头，当波高降到40%屏高时，在探头中心线所对应的瓷体上做好标记，然后向右（或向左）移动探头，同样使波高降到40%屏高并做好标记，两标记间的距离即为缺陷的指示长度。4.2.5.3缺陷的位置测定
根据探头在探测面上的位置和最高反射波在示波屏上的水平位置来确定缺陷的周向和轴向位置，并做好记录。
4.3小角度纵波探伤法
4.3.1探头的选择
探头的型式
小角度纵波单晶斜探头的选择方法为：在移动范围许可的情况下，宜选择较大角度折射角探头，探头的选择见表2。
推荐使用的探头
支柱瓷绝缘子规格
探头晶片尺寸
mm×mm
探头频率
探头纵波折射角
$80~$120
18°~15°
￥120~160
18°～12°
1600200
15°~10°
12°~8°
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