YY/T 0590. 1-2005/IEC 62220-1 :2003.Medical electrical equipment-Characteristics of digital X-ray imaging devices-Part 1: Determination of the detective quantum efficiency.
YY/T 0590的本部分规定了数字x射线成像装置量子探测效辜(DQE)的测定方法。在制造商规定的医疗应用范围内的工作条件下量子探测效率(DQE)是照射量和空间频率的函数。
YY/T 0590. 1适用于那些产生用于医疗诊断的数字格式影像的数字x射线成像装置。本部分的适用范围限于用于单次暌光成像的数字x射线摄影装置,例如CR系统、基于晒材料的成像系统，平板探测器,光学耦合CCD成像系统以及数字x射线影像增强器。
YY/T 0590. 1不适用于:
乳腺摄影和牙科摄影用数字x射线成像装置;
计算机体层摄影设备:
对人体进行扫描成像的X线系统;
一动态成像设备(在该系统中-系列影像被采集到,例如透视和心脏成像)。
上述设备不包括在本部分中是因为他们的许多参数(如辐射质量几何关系、时间依赖性等)与常规.的X射线摄影有很大区别,这些参数由已经完成的用于其他主题的各自的标准来规范，如同IEC和ISO中对感光速度和对比度的单独规定。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过YY0590本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的.各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB 9706.3--2000医用电气设备 第2 部分:诊断X射线发生装置的高压发生器安全专用要求(idt IEC 60601-2-7:1998)
YY/T 0063- 2000 医用诊断 X射线管组件焦点特性(idt IEC 60336 : 1993)
YY/T 0481- -2004医 用诊断X射线设备测定特性用辐射条件(IEC 61267: 1994,IDT)
ISO 12232:1998摄影-电子静态图像相机ISO感光速度的测定
IEC 60788:1984医用放射学一 术 语
3术语和定义
下列术语和定义适用于YY/T 0590的本部分。
3.1中心轴central axis与入射平面垂直且穿过人射野中心的直线
3.2转换函数conversion function不同辐射剂量照射下，数字x射线成像装置原始图像大面积像索平均值与探测器输人表面辐射剂量Q(单位面积光子数)的对应曲线
注1:Q值的计算可以通过将测量到的照射量,不包括反向的散射，与表2中第2列的数值相乘获得。
注2:照射量通常用空气比释动能代表。
注3:许多计量实验室，如国家计量研究院等可以校准放射剂量画量仪表。

ICS 11. 040. 50
中华人民共和国医药行业标准
YY/T 0590.1—2005/IFC 62220-1.2003医用电气设备
数字X射线成像装置特性
第1部分：量子探测效率的测定
Medical electrical equipment-Characteristics of digital X-ray imaging devices-Part 1: Determination of the detective guantum efficiency(IEC 622201.2003,IDT)
2005-12-07发布
国家食品药品监督管理局
2006-12-01实施
YY/T 0590.1—2005/IEC 62220-1:2003前言
规范性引用文件
3 术语和定义
4要求
4.1操作条件
X射线装置
辐射质垦
试验器件
4. 5儿何莅置
4.6辅照条件
5未处理数据的校正
量了探测效率的测定
量子探测效率DQE(u,)的定义和计算公式6.1
6.2用于评估的参数
6. 3 从图像中测量各参数
7符合性声明的格式
8罹确度
附录A（规范性附录余辉效虚的测量附录B（规范性附录）术语一已定义术语的索引附录C（资料性录）输人噪声功率谱的计算参考文献
图1试验器件
图2测量转换函数噪声功率谱和MTF时,对数字影像装置进行螺光投照的几何设置图3ROI的排列分布
图4DQE(，α)示范曲线，不同空气比释动能图A.1感兴趣区的定义
表1测量DQE所使用的辆射质量（YY/T0481)和相关参数表2本部分指定使用的参数
表3测量结果表达格式
YY/T 0590. 1--2005/1EC: 62220-1:2003YY/丁05906医用电气设备数X射绒成像装罩特性》规定了数字X射线成像装置的特性，本部分是YY/T0590的第部分,本部分与IEC62220-1:2003医用电气设备—一数字X射线成像装宜特性一一第！那分：基子操测效率的测定\的-致性程度为等同，主要差异如下：对原文中的一些编辑错误进行了修改(附录 A第 A,9 章)：一将-些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述：—删除了国际标准的前言。
本部分的附录A、附录B为规范性谢录，附录为资料性附录，本部分由国家食品药品监督管理局提山。本部分由全国医用X线设奇及用具标准化分技术委员会归口。本部分主要起草单位：中国人民解放军总医院，辽宁省医疗器械产品质量监督检验所。本部分主要起草人：唐东生，陈剪。YY/T0590.1—2005/IEC62220-1.2003引言
数字X射线成像装量在医疗诊断中的应眉日新增加并且将会广泛取代常规的（模拟的）成像装置诸始荧屏胶片系统或模拟X射线影像增强电视系统。因此定义指述这些数字X射线成像装重规定的成像性能的参数并规范化所采用的测量程序成为必要。在科技界存在甘趋一致的看法，即量子择效率（IQE）是描述X射线成像设备成像性能的最适合的参数。DQE表示数字成像设备在把射线影像转换成数子影像时图像信赚比所保留的比率。在X线影像领域射线影像的噪声是与光刻掌密切相关的，所以IQE的值间样出表达「数字影像设备对入射剂量的利用效率。
注1，虽然DQF广泛应用于评判影像设备的性能，但这个物理参数与人眼晴的观测性能之间的关系还不完全了解[1],13]\。
注2：标准EC:61212-5规定×射线影像增强器在接近零空间频率时1)QF的测量方法：其儿针对X线影像增强器的光电器性能检测，不是针对成像特性，因此其测臣的输出只足模拟的光学亮度，而不足数字借号。此外IEC61262-5规范了辐射源组件的用，而本标雅规范广检时×射线育的使用。1EC6I262-5的适用范函仪限于X射线影像增强器，与本部分的适范压没有押实。各制造商很早就广泛使用DQE来说.明其设备的性能、一些理机构如FDA也便用DQE这个指标作为市场准人条件。但出于目前还没有标准来规范测量条件和测量程序，因此不同来源的数据往往没有可比性，
制定本部分的日的就是为了规定数字x射绕成崇装量量于探测效率(DQE)的测量程序和符合性声明的格式。
本部分所建议的DQE计算方法假定系统对不同能量的输入目标的响应是-样的[5]。本部分的制定对制造商、用户，分销商和管埋部门都是有益的。本部分可以被认为是描述数字X射线成像装置所有相关参数系列标准的第「部分。1）方括号中的数字为您考书H号。E
1范围
17T0590.1—2005/1EC62220-1:2003医用电气设备数字X射线成像装置特性第1部分：量子探测效率的测定，YY/T590的本部分规定广数字X射钱成像装置量于探测效率（1>Q1)的测足方法。在制造商规定的医疗应用范制内的.I作条件下量子探测效丰（IC>F)是照射量和空间频率的荫数。本部分适用下些产生用于医疗诊断的数字格式影像的数字X射线成像装置、本部分的适用范围限于用于单次曝光成像的数字×射线摄影装置，例如CR系统，苯于硒材料的成像系统，平板探测器，光学揭会（(）成像系统以及数宇X射线影像增强器。本部分不适用于：
乳腺摄影和牙科摄影用字X射线成像装置：一计算机体层摄彩设备：
一-对人体进行打描成像的X线系统：动态或像设备（在该系统！-系列影像被采集到，例如透视和心脏成像）。十述设备不包括在本部分中是因为他们的许多参数（如辐射质量、几何关系、时间依赖性等）与常规的X射线摄影有很大区别.这些参数已经完成的用丁H他主题的各自的标准来规范，如同IF和ISO）对感光速度和对比度的单独规定。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过YY0590本部分的引用面成为本部分的条款，凡是注H期的用文件，H随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协设的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡足不注H期的引川文作，其最新版本适用于本部分。GB9706.3---200医用电气设备第2部分：诊断X射线发生装置的商压发生器安全专用要求(id1 IEC: 60601-2-7:1998)
YY/T0063—2000医用诊断X射线管组件焦点特性(id1IE心60336：1993）YY/T04812004医用诊断X射线设备测定特性用辆射条件（IEC61267:1994IDT)）IS0）12232，1998摄彩电子静态图像机机——IS0感光速度的测定IEC60788：1984：医用放射举——术语3术语和定义
下列术语和定义适用下YY/T 0590的本部分。3.1
中心轴 ceniral axis
与入射平面垂直且穿过入射野中心的直线3. 2
转换函数conversionfunetion
不同辐射剂量照射下数字×射钱成像装量原始图像大面积像素平均值与探测器输人表面辐射剂量Q（单位面积光子数)的对应归线注：Q值的计算可以通过将测盛到的照射益·不包折区向的散时，与表3中第2列的数值相乘获得。注2：照射量通常用空气比释动能代表。注3，许多计量实验室，如国家计监研究院等可以校准改射剂量测量仪表。1
YY/T 0590.1—2005/TEC 62220-1:20033.3
量子探测效率deteclivequantumefriciencsDOE(H，v）
两个噪声功率谨（NPS)的比值函数，分了为输人到数宁X维探测器表面的射载信导暖声功率谱.该射线应经过按照系统传递函数设定度的滤片才能到达探测器，分母为探测器输出原始图像数据的噪声功率谱
注：对便下规看，经常把此二维的IQF曲面沿空间数率轴切刀变成一维DQE曲线求发衣。3. 4
探測器表面delectorsurface
最接近于带有所有保护部件的影像探收平面的区域。在适用的情况下，这些保护部件包括防敏射滤战和自动曝光控制组件。它们可以安全的被移出辐射束而不会拥作数字X射线探测器3.5
数字X射线成像装置digitalX-rayinagingdeviee包括数字X线探测器（包括安装的实际使用的各种保护层）放大器、数宁电路和提供图像原始数据的让算机等装置
影像矩阵imagemztrix
按直角坐标排列的各像素单元，3.7
余辉效应
lagtffeet
前-幅图像对当前图像的影响
线性化数据linearizeudata
对原始数据按转换承数避行逆变换注：线性摘化数据与曝光时间直接战山比。3.9
modnlation transferfunction调制传递函数
MTF(u，)
与空间频率u和相关的调制系数、足一种复杂的光学传递函数3.30
噪声noise
偏离髓机过程期望值的波动
噪声功率谱noisepowerspetrum（NPs)）W(u.v)
吸声协方差两数经傅立叶变换后的系数、噪声功率讲包含两维空间频率间隔，是两维频率的函数。证：在文献中，唯声所率谱经常链叫做\Wierlerslectrurm\（维纳波谱），以纪念数学家VerhertWiener。3.12
原始数据
original data
可以进行本标难需要的校正的未处理数据3.13
光子量
phoion flueny
单位面积上光子通量的平均俏
未处理数据rawdata
YY/T 0590. 1—2005/IEC 62220-1:2003直接从致字成像装置上读!的刚经让A工>转换的像素数值，其没有经过们何软件校正处理3.15
空间频率spatialfrequency
重复的空间间隔的倒数，其单位出用长度的倒数表达4要求免费标准下载网bzxz
4.1操作条件
数字x射线成像装置应在制造商建议的条件下保存和使用。预热时间应按照制造商建议选择，使用条件应与临床应用要求一致，并在检测过释中保稳定，设备操作的环境条件应与结果并记录在检测报告中。4.2X射线装置
对下述所有单节所述的试验，应使用恒压高压发生器（GB9706.3）。其波绞百分率应不大于4：标称焦点值(YY/ 0063)应不大于 1, 2,对每次实验暖光应使用经校准过的辆射仪检测，议表的读数不确定度（摄盖系数2)2]应小于5%。注1：“不确定度”和\覆益系数\是在1S[)导则中定义用来表示测量不确定逻的术语[2]注2：辐射仪的读数是举气比释动能，许国家的1益碳究规构部能进行校准，4. 3 辐射质量
辐射质量应从YY/「048，规定的4种辐射质量中选摔一个或多个（见表1）。如果！选择。个质量的射线：宜使用RQA5。
对于辐射质量的应用参见 YY/F 481。注！：根据YY/T481，暂射质量是由半价送厚和固定的耐加湾片确定的.这而要从表1中的起始X射我管心压值开始，确当调整管电压，史其满妮定的半价层要求。表1测量DQE所使用的辐射质量(YY/T~481)和相关参数效韬身质
近似的×射线管电压/y
半价层(HVI :nmAl
注2，附加的被片尼在×线球管固有满片之外加上的谜片时加片/mAl
注3：X线发生器低输出的能力可能不是，特别在使用RQA9战垫的射线时，建议采用帮加焦点到探测器表前距离的方法实现规定费求，
4.4试验器件
用丁测定调制传递画数和余辉效应幅度的试验器件应由1mm厚的钨板构成（纯度高于90%）：鸽板100mm长，宽不少751mm，如果钨板的纯度达不到要求，应相麻增加其厚度。钨板用做边沿试验器件，所以用于试验照射的逆沿应仔细抛光并与板面成90°。如果不使用增感屏直接把此边缘在胶片上曝光，胶片上图像边缘的起伏变化应小于5m，鸽板应固定在3mm厚的铅板上（见图1)。这种排布适合于从-个方向上量数字×射线成操器件3
YY/T 0590.1—2C05/1EC62220-1:2003的调制传逆函数：
注：试验暴件是由 1 mm厚的钨板(1)安装在3 mrrl 厚的铅板(2)上面构成. 钻板尺寸:4:200 mm，t:70 mrm,e:9mm，f:100mm钨板尺寸：100mm×75mm。测量MTF的区域为X×c.50mm×100mm（图内长虚战表示的区域）。x线照射到探测器的范用（短虚浅>至少应达到160mm×160mm。图 1 试验器件
4. 5几何位置
测量布局应符合图2所示的几何位置。图中的X射线设按正常诊断应用时的间样方法设置：X时射裁管的有效焦点到探测器表面的距离应不小 下 1. 5 m：如果由于技术原因该距离尤法达到 1. 5 nm 或更长，可以选择个较短的距离，但这个距离应在报告的结果中明确地于以标明。试验器件直接放置在操测器表面。试验器件的迟缘中心宣与 义射线未的中心轴重合。猫离 X射线点中心辅会降低测量到的MT下。可根据所谢量的最大 MTF 值来确定X线照射中心辅：建议测量时把试验器件和X线辐射野都置于探测器中心，否则，应说明X射线野中心与试验器件的置。
按照图 2 的要求,光闲 BI 和附加滤片应靠近 × 线球管的焦点。光阐 LB2 和 B3 最好也应使用,但如果可以保证不影响测量结果其也可以忽略，光酮1和2（如果在在)以及附加建过板与X线点的情对位应固定,光阐 B3(如果存在)和探避器表面与焦点也要保持总定的相对距离和位置。光阐 33(如果存在)是方形的.其距离探测器表面应为120 mm,并能保证X线辐射野面积可以达到 160 mm×16 mm。光阐的衰减特性应确保通过光谢的X线不会影响测望结果。光谢B1 的孔径应足够大以确保x战半影区位于剂量监测探测器R1的敏感区以及光阴L2(妇果使用）的孔径之外。剂量测探测器用来监测X线发生器输出精度，如果临测探测器R1的通透性很好，不会留下结构影像，其可放置在照射数了探测器的X线射野中，否则其应置下数字影像探测器的视野外。4
YY/T0590.1—2005/IEC62220-1:2003剂量监测操测器的精度（标准偏差1)应好于2%。剂量监测探测器的读数与光参数的关系应对所使用的不同x裁愈量进行校正（同样可参见1. 6. 2)。为减少反向散射对测量读数的影响,剂量监测探测配商其后方物体底有扭以上的距离注：剂量读数的校正与其距离所阿滤过板的位置和近焦点光属光野的大小有关，所以这些因贰在校正该散后就不能改变，否则应董新使止
所有相关测量包括测量数探测器转换函数、噪声功率增及MTF等都按照上述儿何位置进行，使用相同的照射面积和探测区域。辐射野及探测区域的中心或其逆缘位置应记录在测量报告中。在测量转换函数和噪声功率谱时,应把试验器件拿开。附加滤片
[能的转的5减6的
监测探测器RI
试验器伴
注；测盘转换函数和喉声功率谱时不需要试验器件数字探测器平面
图2测量转换函数、噪声功率谱和MTF时，对数字影您装置进行曙光投照的几何设置5
YY/T 0590.1—2005/1EC 62220-1:20034.6辐照条件
4.6.1通用条件
在进行任何测量以前·应对数字X线探测器进行校正，即所有操作应按照第5章迎行校止，在整个测量过程中，不能对数×线探测器进行重新校正。根据该数宁X线探测器在临床实际应用的需要，选择个适的辆照水。该辐射水半被称之为“基准\照射量，并且由设备制造商指明，同时还要个少选择另外两个辐射水值，一个是基雄照射量的3.2倍：另一个为基准照射量的1/3.2倍。在改变辆射水的时候，不能够改变系统的设罩（如改变信号增益等）。
江，高十和低」基准辅射水的照射人概对应于一幅肯规险床放剧影像中的亮区和暗文的照射剂见：有时为「覆盖临床实际应用小不间的检查需要，须选择另一个附加的基准照射堂。针对此附加的苯准辐射水平，可以改变系统的设置，但在H测最过程中应保持设置参数不变，每次课光不应有任何中断。改变辆射水平的大小可以通过改变×射线管球电流、曙光时间或者一者一同变化来实现。检测耐的辐射水平和噪光时间应与机器实际临床应用条件相接近。间时应避免余辉现象(见 4. 6. 3)。
隔光条件应与统果同时声明（见第7章）。在改变燥光电流和时间时.应保证X战质量不变。在应用最低的爆光剂量时有必要对X线质量进行检查，
4. 6. 2照射量测血
擦测器表面的照射其可使用相成的辆射仪表米测量。进行测量叫应把影像探测器开，把测量仪表放到影像探测器的位置上，并要仔细防正反向做射的影响，该影像探测器表面位置的测量仪表读数与剂量监测探测器R1的读数之问的关系成记录下来，在确定转换函数，噪声功率谱和调制传递函数MTEⅢ，应迹过剂量监测探测器R1的测量读数米计算相应影像探测器表面位置的照射剂量。建议实际测量转个点至少噪光5次，计算平均值以减少测量误差。注2：为减小反问散射的影响-可以在辐射援测器后450mrl的位置放置一块学度4m的铅屏赖，实残证防，在这种条件下，反向放射的影响可以降低到C.5%以下。如果铅屏数距离模测器的位骨减小划252mm,则反间散射的影响不起过2.5%。
如果无法把影像探测器从细射束中移开，可用距离平方反比定律来计算数字影像探测器表面的人射剂量，可以在集点到数字影像探测器之间选儿个不间位暨让行测量：为避免探别器表面的反向散射等放射线的影响，建议测量仪表距离数宁影像探测器表面距离应大了150mm。在测量过程中如果剂量监测探测器R】一直在工作，应再比监测探测器R1读数与辐射探测器距您点不同距离(e)时的读数之间的关系曲线：辐射探测器读数
监测探测器读数
这个函数基本1是案线性曲线，随集点到辐射探测器表面的距离线性变化。做出这条出线后·根据H延长线，只要知道集点到辐射探测器表面的阅，通过剂量监测深测器测单的读数就可计算出影像探测表而的人射剂量,
如果没有使用剂量收测探测器R！，就要利用辅射探测器读数平方恨与到焦点的离的反比关系来计算实际影像操测器丧面的照射剂单。注3：为避免反向散射的影响，测整测过可在影像探测器表面前放块4厚的铅板，4.6.3避免余辉效应
余辉效应可能影响转换函数利躁声功率谱的测至，因此其也能响QF的测革。余辉可产牛两种干扰效应：加法效应（增加广测量偏离）和乘法效应（改变了信号增益）。对两种下扰效应的程度应认真考虑。
YY/T0590.1—2005/1EC62220-1:2003为减少可能产生的余辉现象对测母结果的污染，应严格按照制造商规定的受求来操作设备，两次嘱光间的最短间隔必须保持。有关余辉效应的检测可参见附求A。注：下面的参败彩响余辉效应生信号读出相关的滕光时间，前一啊姨余影像的消除方法，从消除到再次哦光的时间，从影像读出到再次噪光的时间，或为了除前次哦光的残余影像而插人的虚拟读出过程等，测试余辉效成·应用附录A中给出的试验程产。4.6.4获得转换函数的辆照
数字影像设备的所有设凸应与其他测量（如MTF)相同，按照图2所示的几何关系迹行瞬光，但在线束无试验器件。应按照4.6.2的要水测量辐射水平，辐照剂量应从0到正常辑射水平的倍来确定转换函数。
转换效中的所请零剂量照射由全黑的图像来确定，×线影像的获取条件一样。最小的X线辐射水平不应超过常舰标准辐射剂量水平的1/5。要获得转换函数曲线须进行多次不同剂量的曝光。如果只检查转换函数的线性区诚，只需在测定区段内均勾地划分5次哦光点就可确定、但要获得光整的转换画数，由于辐射水平范围较大，就应按照对数源则来确定噪光点，相邻嗪光点的增量按对数计算（以19为底）不超过0.1。所有的辆照水平都应保持辐射质置是一致的，在最低的辐照水平需要对辐射质量进行检套：为保持辐射质量的一效，必要时可以适当增加焦点到探测器表面的距离。4.6.5测定噪声功率谱的辐照
测量噪声功率谱时，数字影像设备的设胃应与其他要照射试验器件的实验（如MTF)相同.按照图2所示的儿何关系设置投照距离：似在线束中无试验器件，按照4.6.2的要求测量辐射水平，X线照射光野范围是160mm×160mm，取从心125tmm×125mm的正方形面积内的数据末计算噪声功率谱和DQF。
为准确计算噪声功率谱，需要罕少1厅个独立的像素数据，可以从幅或多幅平坦视野的影像中来集这些像素数据，每幅影像在每个空间频率方向上的像素不得小于256。如果需要采集多幅影像，这些影像应以同祥的辅射质量和空气比释动能获得。用于状得不间图像的辑照的标准偏差应小于均值的10%
注：测量所需要的最小独文像载数量取决十要求的测故精度所必需的最出RC儿，如果我们期望二雄噪声功率诺的测量精度为5%，则最少需要960个RI重采集》，意味着给是的ROI可以提供1于6百个独立的像素赖据，固此二维噪声功率谱随后近要集约处理为一维噪产功率谱·间样的精度叫以把需要的像素数量减少到1百方。
应注意相邻图像间应没有行何关联（余辉效应：免4.6.3），噪光时不充许改变系统设置。需要测量三种不间瞩光剂量（见4.6.1）的噪声动率谱：标准辆射剂量，标准韬射剂量虽×3.2.标准辐射剂X(1/3.2)。
4.6.6辐射野中有试验器件的辐照辆服应按照图2所示的几何关系行·试验器件出接效在数影像探测器表面。试验器件在摄放时其测量边应一影像探测器像素划！阵的行或列的排列有-个光角α，该角在1.5和3之间。注1：预来样法确定MF有众多文章进行过阐述，淡试监器件相刘探测器像素矩阵的行或列的懒斜方法与片他标准（1329和11223同
试验器件证心射线束的中心辅垂直，并民花测试边缘应尽可能靠近中心轴。注？：端离理想设置会导致测量的M1F降低，对试验器件的辐照应进行两次，一次足剂像素矩阵的行摆放进行拍照，另一次是沿列摆放进行护照。两次辐照间其他设置一律不能改变，如果位置发生改变，需重新进行调整。应选择三个辐照水平中的一个所获得的图像进行MTF测量（见4.6.1)。5未处理数据的校正
测量转换函数、噪声功率谱和MTF前，可以对未处理数揭进行线性化或各与图像无关的校正。如：YY/T059D.1—2005/IEC62220-1:2003未处理数据中坏的或尖效的像索可以像常规临床使用中那样用适当数据代替。平而视野校正还包括：
辐射野的不均勾性校正；
个别像素的数据偏移校正，以及；。个别像素的增益校正。
它们可按常规临床使用中的方法进行。几何失真校止可按常规临床使用中的方法进行。注：有些探测器由于物现结构原因需要进行线性化校止，当这些处理是线性的并不影响图像质量时，可以允许进行：
6量子探测效率的测定
6. 1量子探利效率 DQE(u,V)的定义和计算公式依赖空间频率的F>Q(u)计算公式定义如式(1)：DQE(u,U) = GMTF(u,0)
Wi(u,)
W...(u.v)
该公式的来源见1Handbook of Mcdical IrnagingI（公式 2.153)_4在本部分中，数字射缓成像装置输出图像的噪声功率谱W。:（u)和调制伸避函数MTF(,)应用线性化后的数据行计算。原始数据的线性化是通过转换数计算的（6.3.1），并表达成单位面积上的光子数。式（1）中空闻频率为零时的增记是转换函数的-部分，不需要另外测最。因此在本部分中，计算依赖空间频率的DQE（北，)实际计算公式为：DQE(ut) - MTF\(u,W)WC)
式中+
MTF(u,u)
W.(u..t.)-
数字x射裁成像装置的预采样的调制传递函数，根据S.3.3测定；在探测器输入表面辐射野的噪事功率谐，測基方法见。2，数字X射线成像装置输出图像的噪声功率错，详纠测量方法见6.3，26.2用于评估的参数
测量I)QE时，输人的噪声功率谱W（u，)可按式（3)计算：W.(u-K.·SNR.
测量到的空气比释动能，单位为微戈（J)：SNR.*
单位空气比释动能信唤比的平方，单位为米方微戈分之一[1/m\μGy)，具体数值见表2 4的第 2列。
表2中 SNR的值应用于本部分。
本部分指定使用的参数
摘射质证
计算SNR.2相关的背景信息见附录C.8
SNR.*1R rnm'u(y)
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