JB/T 5453-2011
基本信息
标准号:
JB/T 5453-2011
中文名称:无损检测仪器 工业X射线图像增强器成像系统
标准类别:其他行业标准
英文名称:Non-destructive testing instruments —Industrial X-ray image intensifier imaging system
标准状态:现行
发布日期:2011-12-20
实施日期:2012-04-01
出版语种:简体中文
下载格式:.pdf .zip
下载大小:1811065
相关标签:
无损
检测
仪器
工业
射线
成像
系统
标准分类号
标准ICS号:试验>>19.100无损检测
中标分类号:仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
出版信息
出版社:机械工业出版社
标准价格:15.0
出版日期:2012-04-01
相关单位信息
起草单位:辽宁仪表研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司、国核电站运行服务技术公司
归口单位:全国试验机标委会
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
标准简介
本标准规定了工业X射线图像增强器成像系统的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存等内容。
本标准适用于工业X射线图像增强器成像系统。
标准内容
ICS 19.100
备案号:34826—2012
中华人民共和国机械行业标准
JB/T5453—2011
代替JB/T5453—2004
无损检测仪器
工业X射线图像增强器成像系统
Non-destructive testing instruments-Industrial X-ray image intensifier imaging system2011-12-20发布
2012-04-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言,
2规范性引用文件
3术语和定义.
4 要求.
4.1正常工作的条件
4.2技术性能
4.3安全、环境保护
5主要部件
5.1监视器.
5.2图像增强器
5.3X射线机
5.4 光学镜头
6试验方法
6.1试验用器具
试验条件
试验程序
7检验规则
出厂检验
型式检验
抽样和判定规则,
8标志、
包装、运输和贮存
运输,
8.4贮存
附录A(规范性附录)系统像质计灵敏度试验用试块图1灵敏度试验连接布置示意图
图像分辨力试验连接布置示意图表1像质计和试块
JB/T 5453—2011
JB/T5453—2011
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准代替JB/T5453—2004《工业X射线图像增强器电视系统》,与JB/T5453—2004相比主要技术变化如下:
重新定义了X射线图像增强器成像系统;修改了题目,由“工业X射线图像增强器电视系统技术条件”修改为“无损检测仪器工业X射线图像增强器成像系统”;
修改了正常工作的环境温度,由15℃30℃修改为10℃~30℃(本版的4.1,2004版的4.1)增加了电磁辐射的内容(本版的4.1);修改了相对湿度数值,由80%修改为75%(本版的4.1,2004版的4.1)修改了接地电阻数值,由0.52修改为4Q(本版的4.3.1,2004版的4.3.1)。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。本标准主要起草单位:辽宁仪表研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司、国核电站运行服务技术公司。
本标准主要起草人:于志军、郭冰、朱伟清。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:JB/T5453—1991,JB/T5453—2004。1范围
JB/T5453—2011
无损检测仪器工业X射线图像增强器成像系统本标准规定了工业X射线图像增强器成像系统的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等内容。
本标准适用于工业X射线图像增强器成像系统(以下简称系统)。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志
GB/T133842008机电产品包装通用技术条件GB/T23903射线图像分辨力测试计JB/T7902一—2006无损检测射线照相检测用线型像质计JB/T9329仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
X射线图像增强器成像系统X-rayimageintensifierimagingSystem主要由X射线机、X射线图像增强器、光学系统、成像系统、数据处理系统、监视器以及X射线防护设施组成的成套装置。
像质计灵敏度IQIsensitivity
系统要求或达到像质测定值。
图像分辨力imageresolution
监视器屏幕中心区域可识别的图像之间的最小距离,用每厘米线对数来表示。3.4
防护剂量protectdose
X射线机按系统规定的最大工作管电压(单位为kV)、管电流(单位为mA)工作时,距防护设施外侧50mm处漏散射线空气比释动能率。4要求
4.1正常工作的条件
正常的工作条件应符合
a)温度:10℃~35℃;
b)相对湿度:不大于75%;
c)大气压力:86kPa~106kPa;
JB/T 5453—2011
d)电源电压:220VX(1±10%);
e)电源频率:(50土1)Hz;
f)供电线路中不应有影响系统正常工作的电磁干扰;g)监视器最低使用照度:不应大于0.5Ix。4.2技术性能
4.2.1用像质计测试成像系统灵敏度应优于2.5%。4.2.2图像系统分辨力应大于14LP/cm(线对/厘米)。4.3安全、环境保护
4.3.1系统中各部件应有专用导线连接接地,接地电阻应小于4Q。4.3.2防护剂量:散漏射线空气比释动能率不应大于17.4μGyh(2mRh)。4.3.3系统工作时应有警示装置。4.3.4系统应有门机联锁装置
5主要部件
5.1监视器
5.1.1监视器图像几何失真不应大于3%。5.1.2监视器扫描非线性失真:在水平方向不应大于10%;在垂直方向不应大于8%。5.1.3监视器图像分辨力在水平方向不应少于600线;垂直方向不应少于400线。5.1.4监视器亮度鉴别等级不应少于8级。5.1.5监视器信噪比不应小于42dB。5.2图像增强器
5.2.1图像增强器输出、输入屏直径应根据检测范围选择相应的增强器。5.2.2图像增强器转换系数应大于100。5.2.3图像增强器中心分辨力应大于46LP/cm。5.2.4图像增强器对比度应大于12:1。5.3X射线机
5.3.1应选用能连续工作的恒定直流高压X射线机。5.3.2X射线管焦点标称值不应大于1.8mmx1.8mm。3X射线机管电压稳定度不应大于2%。5.3.3
5.3.4X射线机管电流稳定度不应大于2%。5.4光学镜头
5.4.1主物镜焦距应根据图像增强器输出屏直径和摄像管像面高尺寸进行选择。5.4.2主物镜相对孔径不应小于1:1.2。5.4.3物镜分辨力:中心处为500LP/cm时,调制传递函数((MTF)应大于50%。5.4.4主物镜透过率应大于85%。5.4.5目镜相对孔径宜为1:2(光圈可调)。5.4.6目镜分辨力:中心处为600LP/cm时,MTF应大于50%;在边缘处为500LP/cm时,MTF应大于40%。目镜透过率应大于85%。6试验方法
6.1试验用器具
试验所用器具如下:
a)像质计:像质计灵敏度试验采用JB/T7902一2006中R10系列像质计。2
b)试块:试块要求按附录A规定。c)测试卡:图像分辨力测试卡按GB/T23903规定。d)X射线剂量仪:最大允许误差为士10%。6.2试验条件
6.2.1除非特别指明进行试验的环境条件外,均同正常工作条件。6.2.2
试验时监视器屏幕上应避免直射光照射。试验应在接通电源10min后进行。JB/T5453—2011
X射线管焦点(标称值不大于1.8mmx1.8mm)与图像增强器输入屏之间距离为600mm。X射线管窗口前方应有铅光栏,孔径大小应能将X射线束控制在有用的范围内。6.3试验程序
像质计灵敏度
按图1进行布置连接。
说明:
1——x射线管;
铅光栏;
像质计;
4——试块;
5—图像增强器;
光学镜头;
摄像机;
监视器。
图1灵敏度试验连接布置示意图
2按表1选择像质计和试块。
表1像质计和试块
系统最大工作电压kv
像质计
钢质试块类型
铝制试块类型
注:物距为X射线管焦点至试块的距离。6.3.1.3
150~300
Fe6/12
300~400
Fe 1/7
像质计应贴于试块朝向X射线管的一面,且成像在图像增强器输入屏的中心位置上,像质计图像应与行扫描线垂直,试块厚度的中心平面应位于图2规定的物距上,并与X射线束垂直。6.3.1.4调整X射线机管电压(单位为千伏)、管电流(单位为毫安)和监视器的亮度、对比度旋钮,调整CCD光圈和阳极高压。目视读出监视器屏上可识别的像质计最细钢丝线径长度不小于2/3。6.3.1.5
按公式(1)计算像质计灵敏度K。3
JB/T5453—2011
式中:
像质计灵敏度;
K=d/T×100%.
可识别的像质计最细钢丝线径,单位为毫米(mm);T试块厚度,单位为毫米(mm)。
6.3.2图像分辨力
6.3.2.1按图2进行布置连接。
说明:
1——X射线管;
2—铅光栏;
3——图像分辨力测试卡;
4——图像增强器;
5——光学镜头;
摄像机;
7——监视器。
图2图像分辨力试验连接布置示意图.(1)
6.3.2.2将图像分辨力测试卡贴在图像增强器输入屏的中心位置,并使监视器屏幕上栅状图像与行扫描线垂直。
6.3.2.3调整X射线机管电压(单位为千伏)、管电流(单位为毫安)和监视器亮度、对比度旋钮,调整CCD光圈和阳极高压使监视器屏幕上图像分辨力最高,目视读出图像分辨力测试卡的最大线对数。6.3.3防护剂量
6.3.3.1将X射线机调到系统规定的最大工作管电压(单位为千伏)、管电流(单位为毫安)。6.3.3.2用防护级辐射剂量仪在距防护设施外侧50mm空间的任何位置上测量漏散射线空气比释动能率,并取最大值。
检验规则
7.1出厂检验
7.1.1系统须经制造厂质量管理部门按出厂检验项目检查,签发产品合格证明文件后方能出厂。7.1.2出厂检验项目按4.2.1、4.2.2、4.3.1~4.3.3进行检验。7.2型式检验
7.2.1凡属下列情况之一者,应进行型式检验:a)试制的新产品或老产品转厂;b)正常生产时,每两年进行一次;c)当结构、工艺材料有较大改变,可能影响产品性能时;d)产品长期停产后再恢复生产时;e)出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时;f)国家质量监督检验机构提出进行型式检验要求时;g)用户协议书或合同有规定要求时。7.2.2型式检验项目:
a)7.1.2中各项;
b)第5章中各项;
c)标志包装检查;
d)运输、运输贮存基本环境条件检验。7.3抽样和判定规则
JB/T5453—-2011
7.3.1型式检验的样品应从入库的产品中随机抽取样机一台,型式检验出现不合格项目时,应从入库的产品中再随机抽取样机一台对不合格项目试验,合格后再做余下的项目。7.3.2如在试验中仍发现该项目不合格时,则判定该批产品型式检验不合格。8标志、包装、运输和贮存
8.1标志免费标准bzxz.net
在明显位置应固定铭牌,其内容如下:a)产品名称;
b)制造者名称;
c)产品型号、编号;
d)制造日期;
e)执行标准号。
8.2包装
8.2.1包装箱上应有如下包装储运图示标志:a)易碎物品;
b)向上;
c)怕湿;
d)包装箱外形尺寸、毛重。
应符合GB/T191的规定。
8.2.2包装箱应牢固,符合GB/T133842008中3.1、5.2.1.1、7.3的规定。8.2.3包装箱内应附有产品合格证明文件、装箱单、产品说明书及随机附件清单等随行文件。8.3·运输
包装后的出厂产品运输应符合JB/T9329中规定。8.4贮存
包装后的产品应存放在温度-10℃~40℃,相对湿度低于80%的库房中,库房内应无腐蚀性气体。可采用任何不损害包装箱和内装仪器的堆放形式。系统的运输、贮存环境条件应符合JB/T9329中规定的要求,其中高温试验选用55℃、低温试验选用-40℃。JB/T5453—2011
附录A
(规范性附录)
系统像质计灵敏度试验用试块
系统像质计灵敏度试验用Q235钢质试块应符合表A.1的规定。表A.1
试块类型
厚度mm
规格mm
表面粗糙度Ra
Q235钢
150×150
系统像质计灵敏度试验用铝质试块应符合表A.2的规定。表
试块类型
厚度mm
规格mm
表面粗糙度Ra
150×150
Q235钢
150×150
150×150
5453-2011
打印日期:2012年9月13日F007
人民共和国
机械行业标准
无损检测仪器
工业X射线图像增强器成像系统
JB/T5453—2011
机械工业出版社出版发行
北京市百万庄大街22号
邮政编码:100037
210mmx297mm-0.75印张·17千字2012年8月第1版第1次印刷
书号:15111·10446
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