JB/T 8371-2012
基本信息
标准号： JB/T 8371-2012
中文名称：容栅线位移测量系统 数显组件
标准类别：其他行业标准
英文名称：Capacitance linear displacement measuring system — Display module
标准状态：现行
发布日期：2012-05-24
实施日期：2012-11-01
出版语种：简体中文
下载格式：.pdf .zip
下载大小：3385864
标准分类号
标准ICS号：计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表
中标分类号：机械>>工艺装备>>J42量具与量仪
关联标准
替代情况：替代JB/T 8371-1996
出版信息
出版社：机械工业出版社
标准价格：15.0
出版日期：2012-11-01
相关单位信息
起草单位：北京航天峰光电子技术有限责任公司、桂林广陆数字测控股份有限公司、桂林迪吉特电子有限公司等
归口单位：全国量具量仪标委会
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
标准简介
本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm，显示范围为-999999～+999999的容栅线位移测量系统数显组件。
标准图片预览
标准内容
ICS 17.040.30
备案号：36483—2012
中华人民共和国机械行业标准
JB/T8371—2012
代替JB/T8371-1996
容栅线位移测量系统
数显组件
Capacitance linear displacement measuring system-Display module2012-05-24发布
2012-11-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布中华人民共和
机械行业标准
容栅线位移测量系统
数显组件
JB/T8371—2012
机械工业出版社出版发行
北京市百万庄大街22号
邮政编码：100037
210mm×297mm·0.75印张23千字2012年12月第1版第1次印刷
书号：15111·10580
网址：http：//www.cmpbook.com(010）88379778
编辑部电话：
：（010）88379693
直销中心电话：
封面无防伪标均为盗版
版权专有
侵权必究
规范性引用文件
3术语和定义
4结构型式与基本参数
结构型式.
基本参数，
要求．
外观和相互作用
栅距及误差
平面度
显示屏.
分辨力及显示范围
零位设置.
工作电压
低电压报警
工作电流.
响应速度，
数字漂移，
通讯接口，
细分误差，
环境温度，
环境湿度.
抗静电干扰能力
抗电磁干扰能力..
防护等级（IP）
机械振动（正弦）
6检验方法．
检验条件，
检验项目及检验方法
7检验规则，
出厂检验.
型式检验
判定规则.…
8标志与包装
8.1标志..
附录A（规范性附录）检验项目及重要度图1数显组件的结构型式.
JB/T8371—2012
JB/T8371—2012
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替JB/T8371—1996《容栅线位移测量系统数显单元0.01mm》，与JB/T8371-1996相比主要技术变化如下：
扩展了标准的范围（本版的第1章，1996年版的第1章）；增加了“规范性应用文件”的内容（本版的第2章，1996年版的第2章）；一增加了“术语和定义”的内容（本版的第3章，1996年版的第3章）；增加了“基本参数”（本版的4.2)；修改和增加了“技术要求”的内容（本版的第5章，1996年版的第5章）；修改和增加了“试验方法”的内容（本版的第6章，1996年版的第6章）；-增加了“判定规则”（本版的7.3)；-增加了附录A；
修改了部分文字的叙述。
本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本标准负责起草单位：北京航天峰光电子技术有限责任公司。本标准参加起草单位：桂林广陆数字测控股份有限公司、桂林迪吉特电子有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院、桂林市晶瑞传感技术有限公司。本标准主要起草人：马礼耀、张杰、李振雄、李晓莉、全贻智、李广金。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：JB/T8371—1996。
1范围
容栅线位移测量系统数显组件
JB/T8371--2012
本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm，显示范围为-999999~+999999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件”)。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191-2008包装储运图示标志GB/T2423.3一2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法，试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.5一1995电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦）GB/T2423.10—2008日
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.22—2002日
GB4208-2008
外壳防护等级（IP代码）
GB/T4879—1999
GB/T5048—1999
GB/T6388—1986
GB/T9969—2008
GB/T13384—2008
GB/T14436-
—1993
GB/T17163—2008
GB/T17164—2008
防锈包装
防潮包装
运输包装收发货标志
工业产品使用说明书总则
机电产品包装通用技术条件
工业产品保证文件总则
几何量测量器具术语基本术语
几何量测量器具术语产品术语
GB/T17626.2—2006
GB/T17626.3—2006
3术语和定义
电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
容栅线位移测量系统capacitancelineardisplacementmeasuringsystem由容栅线位移传感器、信号处理电路、显示器组成，用于测量两个物体之间相对移动的距离，给出数字显示或数据输出的装置。
容栅线位移传感器capacitancelineardisplacementtransducer由能够相对移动的增量式电容线位移传感器的主栅、副栅和相关电路组成，输出与线位移存在给定关系的电信号的部件。
主栅primarygrating
JB/T8371—2012
栅型电容线位移传感器的一组耦合电极，由一系列沿移动方向等距离排列的栅条构成。3.4
secondarygrating
栅型电容线位移传感器的一组发送电极和接收电极，发送电极由一系列沿移动方向等距离排列的栅条构成。
栅距pitch
副栅上每一周期激励信号所加载的栅条距离总和，或者与其对应的主栅中相邻两个栅条之间的距离。3.6
细分误差
errorinpitch
测量两个物体相对移动一个栅距内示值误差的最大值（峰-峰值）。3.7
浮动零位floatzero
可在测量范围内任意位置设定的零位。3.8
主栅尺scale
带有容栅线位移传感器主栅和基材的标尺。3.9
数显组件displaymodule
带有容栅线位移传感器的副栅、信号处理的电路、数字显示器等的部件。3.10
容栅间隙capacitance gap
主栅和副栅之间的距离。
4结构型式与基本参数
4.1结构型式
数显组件的结构型式如图1所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。说明：
显示器；2-
-测量电路：3-
副栅；4
数显组件；5-
主栅。
图1数显组件的结构型式
4.2基本参数
数显组件的基本参数参见表1。
基本参数
栅距mm
分辨力mm
显示范围
5要求
5.1外观和相互作用
参数值
JB/T8371--2012
5.08，5，2.54，2.5，2，1.016，1，0.508，0.50.01，0.005,0.001
-999 999~+999 999
数显组件的表面不应有影响外观和使用性能的划伤、凹坑、裂纹、色差，功能符号应清晰明确，显示屏无划痕、漏液，按键应灵活可靠。5.2栅距及误差
副栅在一个栅距内被等分为若干个栅条，任意栅条间距离的误差不应大于表2的规定。副栅可以由多个栅距的栅条组成，总的栅条距离的累积误差不应大于表2的规定。表2
5.3平面度
整个副栅表面的平面度误差不应大于0.05mm。5.4显示屏
单位为毫米
显示屏应有显示测量长度的数字、小数点，表示方向、单位、功能的提示符，所有显示笔画、符号应完整、清晰。
5.5分辨力及显示范围
显示屏显示的分辨力和显示范围应符合表1的规定。5.6零位设置
数显组件宜有零位设置功能，在测量范围内任意位置按“清零”键，显示屏显示全零。5.7工作电压
工作电压额定值为1.5V、3.0V或5.0V，允许变化范围为土10%。5.8低电压报警
数显组件宜有低电压报警功能，当供电电压低于正常工作电压时，显示屏应有提示符显示，或以数字闪烁报警。
5.9工作电流
工作电流宜不大于40μA。
5.10响应速度
允许数显组件和主栅尺相对移动的最大速度宜不小于表3的规定。3
JB/T8371--2012
5.11数字漂移
分辨力mm
最大移动速度m/s
0.5，0.3
数显组件和主栅尺不发生相对移动的情况下，在试验条件下，1h内，显示数值的变化不应超过1个分辨力值。
5.12通讯接口
数显组件宜有数据输出的端口，其通讯格式推荐为RS232或USB。5.13细分误差
在任意一个栅距内示值的最大允许误差不应超过表4的规定。表4
分辨力
5.14环境温度
数显组件的工作温度为0℃～40℃，贮存温度为-20℃～70℃。注1：工作温度是指数显组件可以在此温度范围内正常工作。注2：贮存温度是指包装好的数显组件可以在此温度范围内贮存。5.15环境湿度
数显组件应能在环境相对湿度不大于80%的条件下正常工作。5.16抗静电干扰能力
细分误差
数显组件的抗静电干扰的能力不应低于1级（按GB/T17626.2一2006的规定）。5.17抗电磁干扰能力
数显组件的抗电磁干扰的能力不应低于1级（按GB/T17626.3一2006的规定）。5.18防护等级（IP）
数显组件应具有防护能力，其防护等级不应低于IP40（按GB4208一2008的规定）。5.19机械振动（正弦）
单位为毫米
承受一定机械振动（见表5）后的数显组件，其外观不应有明显的损伤和变形；通电后，应能正常工作。
振动幅度mm
注：Bp
5.20冲击
扫频范围Hz
10~55～10
扫频速率Bp/min
倍频程，表示频率比为2的两个频率之间的频段。振动方向
X、Y、Z
持续时间
承受一定冲击（见表6）后的数显组件，其外观不应有明显的损伤和变形；通电后，应能正常工作。4
冲击加速度m/s2
6检验方法
持续时间
冲击波形
半正弦
JB/T8371--2012
冲击次数
6.1检验条件
数显组件检验时，室内的温度应为20℃土5℃、相对湿度不应大于80%。检验前，应将数显组件和检查用设备在室内环境下放置时间不少于2h。6.2检验项目及检验方法
6.2.1外观和相互作用
用目力观察及检验，应符合5.1的规定。6.2.2栅距
用工具显微镜或其他专用测量设备，测量任意相邻两栅条之间距离，其误差应符合5.2的规定。6.2.3平面度
用刀口尺和塞尺检查，副栅部分的平面度应符合5.3的规定。6.2.4显示屏
将数显组件放在主栅尺上，并使其处于工作状态，检查显示屏显示的信息，应符合5.4的规定。6.2.5功能
将数显组件放在主栅尺上，并使其处于工作状态，检查数显组件的功能，应符合5.5、5.6、5.7、5.8的规定。如数显组件增加其他功能，则应按增加的功能要求逐项检查，并应符合该项要求的规定。6.2.6工作电流
将数显组件放在主栅尺上，在额定工作电压下，用量程为50μA、准确度不低于2.5级的电流表，检查数显组件的工作电流应符合5.9的规定。6.2.7响应速度
按5.10的要求，用手动速度模拟或专用设备测试，移动数显组件或主栅尺后，检查零位应该重复。6.2.8数字漂移
在数显组件和主栅尺不发生相对移动的情况下置零，在试验条件下，1h内，其数值的漂移应符合5.11的规定。
6.2.9通讯接口
根据数据输出格式，连接数显组件和计算机，在计算机上能够显示数显组件的显示值。6.2.10细分误差
根据数显组件的分辨力和细分误差的要求，采用符合表7规定要求的主栅和专用检测设备，在一个栅距内至少检测10个点（在栅距内均布），检测时容栅问隙不小于0.25mm，其误差应符合5.13的规定。
数显组件分辨力
主栅误差
分辨力
专用检测设备
单位为毫米
不确定度（2α）
注：主栅误差是指在副栅长度2倍长度范围内，主栅任意栅条之间距离的误差。JB/T8371—2012
6.2.11电源适应性
根据5.7的要求，分别在额定电压的110%和90%时，按6.2.5、6.2.6、6.2.10的方法检查数显组件，结果均应符合相应的规定。
6.2.12温度适应性
按GB/T2423.22--2002规定的方法试验，结果应符合本标准5.14的规定。6.2.13湿度适应性
按GB/T2423.3一2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.15的规定。6.2.14抗静电干扰
按GB/T17626.2一—2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.16的规定。6.2.15抗电磁干扰
按GB/T17626.3一2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.17的规定。6.2.16防护等级（TP）
按GB4208一—2008规定的方法试验，结果应符合本标准5.18的规定。6.2.17机械振动（正弦）试验
按GB/T2423.10--2008规定的方法试验，结果应符合本标准5.19的规定。6.2.18冲击试验
按GB/T2423.5-—1995规定的方法试验，结果应符合本标准5.20的规定。7检验规则
7.1出厂检验
7.1.1项目
出厂检验项目按附录A的规定。
7.1.2检验数量
出厂检验的数量为100%。
7.2型式检验
7.2.1项目
型式检验项目按附录A的规定。
7.2.2检验数量
型式检验采用产品抽样的方法，样品数量不少于3套。7.2.3检验条件
有下述情况之一，应进行型式检验：a）新产品定型鉴定或产品在转厂生产的试制定型鉴定时；b）定型产品在设计、工艺、材料有重大改变时；c）定型产品停产一年以上再生产时；d）定型产品连续生产两年以上时，每两年至少一次；e）国家质量监督部门提出型式检验要求时。7.2.4检验的判定wwW.bzxz.Net
型式检验如有项目不合格时，应加倍抽样，仍不合格时，型式检验不予通过。7.3判定规则
7.3.1A级重要度
将直接影响抗干扰性能和使用性能的关键项目列入A级重要度（按附录A的规定）。对列入A级重要度的检验项目有一项不合格的产品，判为不合格品。6
7.3.2B级重要度
JB/T8371--2012
将对产品质量无直接影响或影响不大，且在质量指标中有独立特征的有关检验项目均列入B级重要度（按附录A的规定）。对列入B级重要度的检验项目，如果出现两项或两项以上不合格的产品，判为不合格品。
8标志与包装
8.1标志
8.1.1产品标志
数显组件应标志：
a）制造厂厂名或注册商标；
b）产品型号。
8.1.2包装标志
产品外包装的标志应符合GB/T191、GB/T6388、GB/T13384的规定。8.2包装
8.2.1产品包装
产品的包装应符合GB/T4879、GB/T5048的规定。8.2.2产品证书
产品应具有符合GB/T14436规定的产品合格证，符合GB/T9969规定的使用说明书、装箱单，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品型号、规格和生产日期。
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JB/T8371—2012
代替JB/T8371-1996
容栅线位移测量系统
数显组件
Capacitance linear displacement measuring system-Display module2012-05-24发布
2012-11-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布中华人民共和
机械行业标准
容栅线位移测量系统
数显组件
JB/T8371—2012
机械工业出版社出版发行
北京市百万庄大街22号
邮政编码：100037
210mm×297mm·0.75印张23千字2012年12月第1版第1次印刷
书号：15111·10580
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规范性引用文件
3术语和定义
4结构型式与基本参数
结构型式.
基本参数，
要求．
外观和相互作用
栅距及误差
平面度
显示屏.
分辨力及显示范围
零位设置.
工作电压
低电压报警
工作电流.
响应速度，
数字漂移，
通讯接口，
细分误差，
环境温度，
环境湿度.
抗静电干扰能力
抗电磁干扰能力..
防护等级（IP）
机械振动（正弦）
6检验方法．
检验条件，
检验项目及检验方法
7检验规则，
出厂检验.
型式检验
判定规则.…
8标志与包装
8.1标志..
附录A（规范性附录）检验项目及重要度图1数显组件的结构型式.
JB/T8371—2012
JB/T8371—2012
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替JB/T8371—1996《容栅线位移测量系统数显单元0.01mm》，与JB/T8371-1996相比主要技术变化如下：
扩展了标准的范围（本版的第1章，1996年版的第1章）；增加了“规范性应用文件”的内容（本版的第2章，1996年版的第2章）；一增加了“术语和定义”的内容（本版的第3章，1996年版的第3章）；增加了“基本参数”（本版的4.2)；修改和增加了“技术要求”的内容（本版的第5章，1996年版的第5章）；修改和增加了“试验方法”的内容（本版的第6章，1996年版的第6章）；-增加了“判定规则”（本版的7.3)；-增加了附录A；
修改了部分文字的叙述。
本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本标准负责起草单位：北京航天峰光电子技术有限责任公司。本标准参加起草单位：桂林广陆数字测控股份有限公司、桂林迪吉特电子有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院、桂林市晶瑞传感技术有限公司。本标准主要起草人：马礼耀、张杰、李振雄、李晓莉、全贻智、李广金。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：JB/T8371—1996。
1范围
容栅线位移测量系统数显组件
JB/T8371--2012
本标准规定了容栅线位移测量系统数显组件的术语和定义、结构型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.001mm、0.005mm、0.01mm，显示范围为-999999~+999999的容栅线位移测量系统数显组件（以下简称“数显组件”)。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191-2008包装储运图示标志GB/T2423.3一2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法，试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.5一1995电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦）GB/T2423.10—2008日
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.22—2002日
GB4208-2008
外壳防护等级（IP代码）
GB/T4879—1999
GB/T5048—1999
GB/T6388—1986
GB/T9969—2008
GB/T13384—2008
GB/T14436-
—1993
GB/T17163—2008
GB/T17164—2008
防锈包装
防潮包装
运输包装收发货标志
工业产品使用说明书总则
机电产品包装通用技术条件
工业产品保证文件总则
几何量测量器具术语基本术语
几何量测量器具术语产品术语
GB/T17626.2—2006
GB/T17626.3—2006
3术语和定义
电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
容栅线位移测量系统capacitancelineardisplacementmeasuringsystem由容栅线位移传感器、信号处理电路、显示器组成，用于测量两个物体之间相对移动的距离，给出数字显示或数据输出的装置。
容栅线位移传感器capacitancelineardisplacementtransducer由能够相对移动的增量式电容线位移传感器的主栅、副栅和相关电路组成，输出与线位移存在给定关系的电信号的部件。
主栅primarygrating
JB/T8371—2012
栅型电容线位移传感器的一组耦合电极，由一系列沿移动方向等距离排列的栅条构成。3.4
secondarygrating
栅型电容线位移传感器的一组发送电极和接收电极，发送电极由一系列沿移动方向等距离排列的栅条构成。
栅距pitch
副栅上每一周期激励信号所加载的栅条距离总和，或者与其对应的主栅中相邻两个栅条之间的距离。3.6
细分误差
errorinpitch
测量两个物体相对移动一个栅距内示值误差的最大值（峰-峰值）。3.7
浮动零位floatzero
可在测量范围内任意位置设定的零位。3.8
主栅尺scale
带有容栅线位移传感器主栅和基材的标尺。3.9
数显组件displaymodule
带有容栅线位移传感器的副栅、信号处理的电路、数字显示器等的部件。3.10
容栅间隙capacitance gap
主栅和副栅之间的距离。
4结构型式与基本参数
4.1结构型式
数显组件的结构型式如图1所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。说明：
显示器；2-
-测量电路：3-
副栅；4
数显组件；5-
主栅。
图1数显组件的结构型式
4.2基本参数
数显组件的基本参数参见表1。
基本参数
栅距mm
分辨力mm
显示范围
5要求
5.1外观和相互作用
参数值
JB/T8371--2012
5.08，5，2.54，2.5，2，1.016，1，0.508，0.50.01，0.005,0.001
-999 999~+999 999
数显组件的表面不应有影响外观和使用性能的划伤、凹坑、裂纹、色差，功能符号应清晰明确，显示屏无划痕、漏液，按键应灵活可靠。5.2栅距及误差
副栅在一个栅距内被等分为若干个栅条，任意栅条间距离的误差不应大于表2的规定。副栅可以由多个栅距的栅条组成，总的栅条距离的累积误差不应大于表2的规定。表2
5.3平面度
整个副栅表面的平面度误差不应大于0.05mm。5.4显示屏
单位为毫米
显示屏应有显示测量长度的数字、小数点，表示方向、单位、功能的提示符，所有显示笔画、符号应完整、清晰。
5.5分辨力及显示范围
显示屏显示的分辨力和显示范围应符合表1的规定。5.6零位设置
数显组件宜有零位设置功能，在测量范围内任意位置按“清零”键，显示屏显示全零。5.7工作电压
工作电压额定值为1.5V、3.0V或5.0V，允许变化范围为土10%。5.8低电压报警
数显组件宜有低电压报警功能，当供电电压低于正常工作电压时，显示屏应有提示符显示，或以数字闪烁报警。
5.9工作电流
工作电流宜不大于40μA。
5.10响应速度
允许数显组件和主栅尺相对移动的最大速度宜不小于表3的规定。3
JB/T8371--2012
5.11数字漂移
分辨力mm
最大移动速度m/s
0.5，0.3
数显组件和主栅尺不发生相对移动的情况下，在试验条件下，1h内，显示数值的变化不应超过1个分辨力值。
5.12通讯接口
数显组件宜有数据输出的端口，其通讯格式推荐为RS232或USB。5.13细分误差
在任意一个栅距内示值的最大允许误差不应超过表4的规定。表4
分辨力
5.14环境温度
数显组件的工作温度为0℃～40℃，贮存温度为-20℃～70℃。注1：工作温度是指数显组件可以在此温度范围内正常工作。注2：贮存温度是指包装好的数显组件可以在此温度范围内贮存。5.15环境湿度
数显组件应能在环境相对湿度不大于80%的条件下正常工作。5.16抗静电干扰能力
细分误差
数显组件的抗静电干扰的能力不应低于1级（按GB/T17626.2一2006的规定）。5.17抗电磁干扰能力
数显组件的抗电磁干扰的能力不应低于1级（按GB/T17626.3一2006的规定）。5.18防护等级（IP）
数显组件应具有防护能力，其防护等级不应低于IP40（按GB4208一2008的规定）。5.19机械振动（正弦）
单位为毫米
承受一定机械振动（见表5）后的数显组件，其外观不应有明显的损伤和变形；通电后，应能正常工作。
振动幅度mm
注：Bp
5.20冲击
扫频范围Hz
10~55～10
扫频速率Bp/min
倍频程，表示频率比为2的两个频率之间的频段。振动方向
X、Y、Z
持续时间
承受一定冲击（见表6）后的数显组件，其外观不应有明显的损伤和变形；通电后，应能正常工作。4
冲击加速度m/s2
6检验方法
持续时间
冲击波形
半正弦
JB/T8371--2012
冲击次数
6.1检验条件
数显组件检验时，室内的温度应为20℃土5℃、相对湿度不应大于80%。检验前，应将数显组件和检查用设备在室内环境下放置时间不少于2h。6.2检验项目及检验方法
6.2.1外观和相互作用
用目力观察及检验，应符合5.1的规定。6.2.2栅距
用工具显微镜或其他专用测量设备，测量任意相邻两栅条之间距离，其误差应符合5.2的规定。6.2.3平面度
用刀口尺和塞尺检查，副栅部分的平面度应符合5.3的规定。6.2.4显示屏
将数显组件放在主栅尺上，并使其处于工作状态，检查显示屏显示的信息，应符合5.4的规定。6.2.5功能
将数显组件放在主栅尺上，并使其处于工作状态，检查数显组件的功能，应符合5.5、5.6、5.7、5.8的规定。如数显组件增加其他功能，则应按增加的功能要求逐项检查，并应符合该项要求的规定。6.2.6工作电流
将数显组件放在主栅尺上，在额定工作电压下，用量程为50μA、准确度不低于2.5级的电流表，检查数显组件的工作电流应符合5.9的规定。6.2.7响应速度
按5.10的要求，用手动速度模拟或专用设备测试，移动数显组件或主栅尺后，检查零位应该重复。6.2.8数字漂移
在数显组件和主栅尺不发生相对移动的情况下置零，在试验条件下，1h内，其数值的漂移应符合5.11的规定。
6.2.9通讯接口
根据数据输出格式，连接数显组件和计算机，在计算机上能够显示数显组件的显示值。6.2.10细分误差
根据数显组件的分辨力和细分误差的要求，采用符合表7规定要求的主栅和专用检测设备，在一个栅距内至少检测10个点（在栅距内均布），检测时容栅问隙不小于0.25mm，其误差应符合5.13的规定。
数显组件分辨力
主栅误差
分辨力
专用检测设备
单位为毫米
不确定度（2α）
注：主栅误差是指在副栅长度2倍长度范围内，主栅任意栅条之间距离的误差。JB/T8371—2012
6.2.11电源适应性
根据5.7的要求，分别在额定电压的110%和90%时，按6.2.5、6.2.6、6.2.10的方法检查数显组件，结果均应符合相应的规定。
6.2.12温度适应性
按GB/T2423.22--2002规定的方法试验，结果应符合本标准5.14的规定。6.2.13湿度适应性
按GB/T2423.3一2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.15的规定。6.2.14抗静电干扰
按GB/T17626.2一—2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.16的规定。6.2.15抗电磁干扰
按GB/T17626.3一2006规定的方法试验，结果应符合本标准5.17的规定。6.2.16防护等级（TP）
按GB4208一—2008规定的方法试验，结果应符合本标准5.18的规定。6.2.17机械振动（正弦）试验
按GB/T2423.10--2008规定的方法试验，结果应符合本标准5.19的规定。6.2.18冲击试验
按GB/T2423.5-—1995规定的方法试验，结果应符合本标准5.20的规定。7检验规则
7.1出厂检验
7.1.1项目
出厂检验项目按附录A的规定。
7.1.2检验数量
出厂检验的数量为100%。
7.2型式检验
7.2.1项目
型式检验项目按附录A的规定。
7.2.2检验数量
型式检验采用产品抽样的方法，样品数量不少于3套。7.2.3检验条件
有下述情况之一，应进行型式检验：a）新产品定型鉴定或产品在转厂生产的试制定型鉴定时；b）定型产品在设计、工艺、材料有重大改变时；c）定型产品停产一年以上再生产时；d）定型产品连续生产两年以上时，每两年至少一次；e）国家质量监督部门提出型式检验要求时。7.2.4检验的判定wwW.bzxz.Net
型式检验如有项目不合格时，应加倍抽样，仍不合格时，型式检验不予通过。7.3判定规则
7.3.1A级重要度
将直接影响抗干扰性能和使用性能的关键项目列入A级重要度（按附录A的规定）。对列入A级重要度的检验项目有一项不合格的产品，判为不合格品。6
7.3.2B级重要度
JB/T8371--2012
将对产品质量无直接影响或影响不大，且在质量指标中有独立特征的有关检验项目均列入B级重要度（按附录A的规定）。对列入B级重要度的检验项目，如果出现两项或两项以上不合格的产品，判为不合格品。
8标志与包装
8.1标志
8.1.1产品标志
数显组件应标志：
a）制造厂厂名或注册商标；
b）产品型号。
8.1.2包装标志
产品外包装的标志应符合GB/T191、GB/T6388、GB/T13384的规定。8.2包装
8.2.1产品包装
产品的包装应符合GB/T4879、GB/T5048的规定。8.2.2产品证书
产品应具有符合GB/T14436规定的产品合格证，符合GB/T9969规定的使用说明书、装箱单，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品型号、规格和生产日期。
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