JB/T 10005-2012
基本信息
标准号： JB/T 10005-2012
中文名称：小测头千分尺
标准类别：其他行业标准
英文名称：Small anvil micrometer
标准状态：现行
发布日期：2012-05-24
实施日期：2012-11-01
出版语种：简体中文
下载格式：.pdf .zip
下载大小：4979247
相关标签： 千分尺
标准分类号
标准ICS号：计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表
中标分类号：机械>>工艺装备>>J42量具与量仪
关联标准
替代情况：替代JB/T 10005-1999
出版信息
出版社：机械工业出版社
标准价格：21.0
出版日期：2012-11-01
相关单位信息
起草单位：桂林量具刃具有限责任公司、浙江省计量科学研究院、苏州麦克龙测量技术有限公司等
归口单位：全国量具量仪标委会
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
标准简介
本标准规定了小测头千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方法、标志与包装等。
本标准适用于分度值为0.01mm、分度值/分辨力为0.001mm，测量范围上限至200mm的机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺。
标准图片预览
标准内容
ICS 17.040.30
备案号：364892012
中华人民共和国机械行业标准
JB/T10005—-2012
代替JB/T10005-1999
小测头于分尺
Smallanvilmicrometer
2012-05-24发布
2012-11-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言，
2规范性引用文件
3术语和定义
4型式与基本参数
4.1型式
基本参数，
5要求
5.1外观
相互作用，
测微螺杆和测砧，bzxz.net
锁紧装置
测力装置
测微头…
测量面，
最大允许误差
电子数显装置
抗温度变化及抗湿热能力，
重复性
响应速度，
校对量杆.
6试验方法.
防尘、防水试验
抗静电干扰试验.
6.3抗电磁干扰试验...
温度变化试验
湿热试验
检查条件
检查方法.
相互作用
尺架变形的检查
测微螺杆和测砧的检查
锁紧前后测量面间距离变化的检查测量力和测量力变化
JB/T10005—2012
JB/T10005—2012
测微头的示值误差，
测量面.
最大允许误差，
电子数显装置
8.11重复性..
8.12校对量杆.
9标志与包装...
附录A（规范性附录）测微螺杆轴向窜动和径向间隙图1机械式小测头千分尺.……
图2电子数显小测头千分尺
图3锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图图4校对量杆的尺寸偏差及平行度检点示意图6
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。JB/T10005—2012
本标准代替JB/T10005-1999《小测头千分尺》，与JB/T10005-1999相比主要技术变化如下：增加了电子数显小测头千分尺的品种、规格及要求（本版的第1章，1999年版的第1章）；增加了小测头千分尺的量程规格（本版的第1章，1999年版的第1章）；重新定义了小测头千分尺的有关术语和定义（本版的3.1，1999年版的第2章）；重新规定和调整了固定套管的标尺标数的刻写方式（本版的4.2.1，1999年版的3.2）；修改了对小测头千分尺测量量程的规定（本版的4.2.2，1999年版的3.1)；增加了小测头千分尺测微螺杆和测砧测量端直径规格（本版的4.2.3，1999年版的3.3）；增加并调整了对标尺的要求，并引用GB/T1216一2004的相关要求（本版的5.7)；用“最大允许误差”术语代替“示值误差”术语对示值指标做出规定（本版的5.9和5.11，1999年版的2.2、4.11)；
修改了测量面硬度和表面粗糙度的要求（本版的5.10.2，1999年版的4.8和4.9）；修改了小测头千分尺对两测量面的偏位要求（本版的5.10.3）；修改了对测量面的平面度要求（本版的5.10.4，1999年版的5.11)；修改并调整了对测量面平行度的要求（本版的5.10.5，1999年版的5.11)；增加了电子数显装置性能要求（本版的5.12)；修改了对校对量杆尺寸偏差及平行度的要求（本版的5.16.1，1999年版的4.12）；修改了对校对量杆测量面表面粗糙度的要求（本版的5.16.2，1999年版的4.14）；-增加了对数显装置的试验方法（本版的第6章）；增加了检查条件章节（本版的第7章）；增加了锁紧前后测量面间距离变化的检查方法（本版的8.5）；删除了1999年版标准的附录A，并将其内容经修改后收入本标准的相关章节，（本版的5.4、5.9、5.11、8.6、8.8.3及附录A，1999年版的附录A）。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本标准负责起草单位：桂林量具刃具有限责任公司。本标准参加起草单位：浙江省计量科学研究院、苏州麦克龙测量技术有限公司、桂林广陆数字测控股份有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院。本标准主要起草人：程江龙、吴庆良、茅振华、黄晓宾、董中新、陈萍。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-ZBJ42002—1987;
JB/T10005—1999。
1范围
小测头千分尺
JB/T10005—2012
本标准规定了小测头千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方法、标志与包装等。
本标准适用于分度值为0.01mm、分度值/分辨力为0.001mm，测量范围上限至200mm的机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺（统称“小测头千分尺”）。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1216--2004外径千分尺
GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.22一2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB4208—2008外壳防护等级（IP代码）GB/T17163-2008几何量测量器具术语基本术语GB/T17164一2008几何量测量器具术语产品术语GB/T17626.2一2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GB/T17626.3一2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T20919--2007电子数显外径千分尺3术语和定义
GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
小测头千分尺
smallanvilmicrometer
利用螺旋副原理或螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合，对尺架上两较小测量面间分割的距离进行读数的外尺寸测量器具。注1：改写GB/T17164—2008中定义2.3.6。注2：利用螺旋副原理，通过微分筒标尺进行读数的小测头千分尺，又称机械式小测头千分尺。注3：利用螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合进行读数的小测头千分尺，又称电子数显小测头千分尺。注4：机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺，统称“小测头千分尺”。3.2
响应速度
response speed
电子数显小测头千分尺能正常显示数值时测微螺杆相对于测砧的最大移动速度。3.3
数显装置digitalindicatingdevices利用传感器、电子和数字显示技术计算并显示数显小测头千分尺的测量面位移的装置。3.4
最大允许误差（MIPE）
maximum permissibleerror(MPE）由技术规范、规则所规定的误差极限值。JB/T10005—2012
［GB/T17163—2008，定义4.21]3.5
测微头移动最大允许误差maximumpermissiblemovingerrorofmicrometerhead忽略了测砧和尺架的影响，仅针对测微头在量程范围内，规定的误差极限值。注1：改写GB/T1216—2004中定义3.4。注2：此误差包括测微螺杆、调节螺母及微分标尺引入的误差。4型式与基本参数
4.1型式
4.1.1小测头千分尺的型式如图1、图2所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。4.1.2小测头千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测微螺杆的锁紧装置。说明：
尺架：2-
测砧；3-
固定套管；7
说明：
隔热装置：4
微分筒；8
尺架；2测砧；3
测力装置；8
测微螺杆；5
测力装置。
-锁紧装置：
图1机械式小测头千分尺
MOSOHOO
测微螺杆：4
输出口；9
锁紧装置；
显示屏：10
固定套管：6
数显装置；11
图2电子数显小测头千分尺
微分筒：
功能键；12-
一隔热装置。
4.2基本参数
4.2.1固定套管的标尺标数，除有特别要求的之外，应按表1的规定刻写。表1
测微头的量程
0+A，5+A，10+A，15+A
标尺标数的刻写
0+A，5+A，10+A，15+A，20+A，25+A0+A，5+A，10+A,15+A，20+A，25+A，30+AJB/T10005—2012
单位为毫米
注：测量范围上限至100mm的小测头千分尺，表中A为测量范围下限值；测量范围下限大于100mm的小测头千分尺，表中A为测量范围下限值减100。4.2.2小测头千分尺的量程宜为：15mm、25mm、30mm；测微螺杆螺距宜为：0.5mm、1mm。4.2.3
测微螺杆和测砧测量端直径宜为：1.5mm、.2mm、3mm，其伸出长度不应小于5mm。5要求
5.1外观
5.1.1小测头千分尺不应有影响使用性能的裂纹、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5.1.2小测头千分尺表面的镀层、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3电子数显小测头千分尺的显示屏应透明、清洁、无划痕，数字显示应清晰。5.1.4标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。5.2相互作用
5.2.1小测头千分尺测微螺杆的移动应平稳、灵活，在其整个行程范围内不应有卡滞现象，其轴向窜动量和径向间隙量均不应大于0.01mm。5.2.2锁紧装置应能将测微螺杆在其测量范围内任意位置可靠紧固，松开锁紧装置后测微螺杆应能灵活移动。
5.3材料
按GB/T1216—2004中5.2的规定。5.4尺架
按GB/T1216—2004中5.3的规定。5.5测微螺杆和测砧
按GB/T1216—2004中5.4的规定。5.6锁紧装置
用锁紧装置在锁紧测微螺杆前后，小测头千分尺两测量面间的距离变化不应超过表2的规定，且两测量面间的平行度应符合5.10.5的规定。表2
紧固部位类型
锁紧时测量面间距离变化
分度值：0.01mm
有刚性支撑
无刚性支撑
按GB/T1216—2004中5.9的规定。5.8测力装置
单位为毫米
分度值/分辨力：0.001mm
小测头千分尺的测力装置，在平面与球面接触状态下，通过测力装置作用在测量面上的测量力应在3
JB/T10005--2012
5N～10N之间、测量力变化不应大于2N。5.9测微头
小测头千分尺的测微头在其量程范围内移动位移的最大允许误差不应超过表3的规定。测微头的示值误差按浮动零位原则判定，即示值误差的带宽不应超过表3中最大允许误差“土”号后的规定值。
测微头的量程
测微头移动最大允许误差
分度值：0.01mm；分辨力：0.001mm15，25，30
测量面
单位为毫米
分度值：0.001mm
并应经过研磨（特殊需要时也可做成球面及其他型面及组合）。测量面应为平面，
测量面的硬度及表面粗糙度应符合表4的规定。表4
测量面材料
碳素钢、工具钢
不锈钢
硬质合金或其他耐磨材料
≥766HV（或62HRC)
≥551HV（或52.5HRC）
≥1 000 HV
注：括号内参数仅针对除平面形外的异型测量面。5.10.3
小测头千分尺两测量面的偏位量不应大于表5的规定。表5
测量范围上限
≤100
≤125
≤150
≤175
≤200
小测头千分尺测量面的平面度误差不应大于表6的规定。6
测量上限t
≤100
100<≤200
表面粗糙度Ra
单位为毫米
偏位量
单位为毫米
测量面的平面度公差
分度值：0.01mm
注：测量面的平面度公差在测量面边缘0.1mm范围内不计。4
分度值/分辨力：0.001mm
5.10.5两测量面的平行度误差不应大于表7的规定。表7
测量上限
30<≤50
50<≤100
100≤150
150<≤200
最大允许误差μm
分度值：0.01mm
最大允许误差
分度值/分辨力：0.001mm
小测头千分尺的最大允许误差不应超过表7的规定。5.12电子数显装置
按GB/T20919—2007中5.8的规定。5.13抗温度变化及抗湿热能力
JB/T10005—-2012
两测量面的平行度公差um
分度值：0.01mm
分度值/分辨力：0.001mm
电子数显小测头千分尺应具有抗温度变化及抗湿热的能力，其在表8规定的严酷等级下应能正常工作。表8
温度变化严酷等级
低温TA
高温TB
循环数
转换时间
4重复性
(2~3）min
电子数显小测头千分尺的重复性不应大于0.001mm。5.15响应速度
恒定湿热试验严酷等级
（30±2）℃
相对湿度
持续时间
（80±3）%
电子数显小测头千分尺的响应速度应能保证以测力装置操作测微螺杆运动时，显示值正常。5.16校对量杆
5.16.1机械式小测头千分尺校对量杆的尺寸偏差为js3；电子数显小测头千分尺校对量杆的尺寸偏差为js2。当校对量杆量面采用大于Φ3mm直径时，其平行度公差为其尺寸公差的1/2。当校对量杆量面直径小于或等于Φ3mm时，其两工作面平行度可不作要求。5.16.2校对量杆的测量面应做成平面，表面粗糙度不应大于Ra0.1um。5.16.3
校对量杆测量面硬度不应低于766HV1（或62HRC)。校对量杆应有隔热装置。
试验方法
防尘、防水试验
电子数显小测头千分尺的防尘、防水试验应符合GB4208一2008的规定。抗静电干扰试验
电子数显小测头千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T17626.2—2006的规定。6.3抗电磁干扰试验
电子数显小测头千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626.3--2006的规定。5
JB/T10005—2012
6.4温度变化试验
电子数显小测头千分尺应进行温度变化试验，试验应符合GB/T2423.22-2002的规定。在标准大气条件下恢复至常温后，按本标准5.1、5.11、5.12、5.14要求进行检查。6.5湿热试验
电子数显小测头千分尺应进行湿热试验，试验应符合GB/T2423.3-2006的规定。在标准大气条件下恢复时间2h后，按本标准5.1、5.11、5.12、5.14要求进行检查。7检查条件
7.1检查前，应将被检小测头干分尺、校对量杆与检查用设备共同置于铸铁平板或木桌上进行平衡温度，其平衡时间不应小于表9的要求。表9
检查室内温度对20℃的允许偏差测量范围上限
≤100
>100～200
机械式
小测头千分尺
校对量杆
平衡温度时间
检查室内温度对20℃的允许偏差℃
电子数显
小测头千分尺
电子数显小测头千分尺检查时的相对湿度应不大于80%。8检查方法
8.1外观
目力观察。
8.2相互作用
手感、目测及试验，如有异议，则按符合附录A的规定进行检查。8.3尺架变形的检查
校对量杆
平衡温度时间
将尺架测砧端固定，在另一端沿测微螺杆轴线方向施加100N的力，并由千分指示表在施力端的量面上读取数值，分别观察在施力和未施力条件下千分指示表的示值，将两次示值之差按10N力的比例换算，求出尺架的变形量。
8.4测微螺杆和测砧的检查
测微螺杆和测砧的伸出长度可用游标卡尺进行检查。8.5锁紧前后测量面间距离变化的检查将小测头千分尺置于专用检具上紧固，用杠杆千分表测头对准测量面中心处预压少许，并对“零”，然后锁紧测微螺杆，读取杠杆千分表示值变化值，即为测量面间距离的锁紧变化量（见图3）。8.6测量力和测量力变化
小测头千分尺的测量力和测量力变化，用专用测力计进行检查，该项检查应在测微螺杆整个测量行程范围内的始点、中点、末点附近进行，三点测得值均应在5N～10N。三点测得值中的最大值与最小值之差为测量力变化，其值不应大于2N。8.7测微头的示值误差
将小测头千分尺安放牢固，将具有球形测量面的测微头示值专用检具安装在接近测微螺杆端的尺架上，并调整好，然后用表10所列尺寸系列的一组量块进行检查（分度值为0.01mm的小测头千分尺用2级或四等量块。分度值/分辨力为0.001mm的小测头千分尺用1级或三等量块）。根据测微头各点指示值与量块尺寸的差值绘制误差曲线，取误差曲线上最高点与最低点纵坐标的差值，按浮动零位原则确定测6
微头的示值误差，其值不应大于表3的规定。JB/T10005--2012
测量上限至100mm的小测头千分尺测微头的示值误差可不做检查，只做整体示值检查。测量下限大于100mm的小测头千分尺可只做测微头的示值误差检查，不做整体示值检查。图3锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图表10
测微头的行程
8.8测量面
8.8.1测量面的表面粗糙度
2.5，5.1，7.7，10.3，12.9，15量块尺寸系列
2.5，5.1，7.7，10.3，12.9，15，17.6，20.2，22.8，25；或5.12，10.24，15.36，21.5，252.5，5.1，7.7，10.3，12.9，17.6，20.2，22.8，25，27.5，30；或5.12，10.24，15.36，21.5，25，27.5，30用表面粗糙度检查仪检查和表面粗糙度比较样块及显微镜比较检查。8.8.2测量面硬度
单位为毫米
对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，可在距测量面1mm的光滑圆柱部位处检查，用维氏硬度计（或洛氏硬度计）在圆周上均布三点进行检查，取三点测得值的算术平均值作为测量结果（可仅在生产过程中进行）。
对于镶装硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检查。8.8.3测量面偏位
将小测头千分尺尺架平放在平板上的三个可调支承架上，调整支承架使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测砧至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测量面在水平方向的偏移量&，然后，将小测头千分尺尺架绕测微螺杆轴线转动90°，使尺架平面与平板平面垂直，以尺架为支撑点。调整支撑点使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测量面在垂直方向上的偏移量&，两测量面的偏位&按公式（1）计算，其计算结果不应大于表5的规定值。, =() +(s
式中：
&——两测量面的偏位；
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备案号：364892012
中华人民共和国机械行业标准
JB/T10005—-2012
代替JB/T10005-1999
小测头于分尺
Smallanvilmicrometer
2012-05-24发布
2012-11-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言，
2规范性引用文件
3术语和定义
4型式与基本参数
4.1型式
基本参数，
5要求
5.1外观
相互作用，
测微螺杆和测砧，bzxz.net
锁紧装置
测力装置
测微头…
测量面，
最大允许误差
电子数显装置
抗温度变化及抗湿热能力，
重复性
响应速度，
校对量杆.
6试验方法.
防尘、防水试验
抗静电干扰试验.
6.3抗电磁干扰试验...
温度变化试验
湿热试验
检查条件
检查方法.
相互作用
尺架变形的检查
测微螺杆和测砧的检查
锁紧前后测量面间距离变化的检查测量力和测量力变化
JB/T10005—2012
JB/T10005—2012
测微头的示值误差，
测量面.
最大允许误差，
电子数显装置
8.11重复性..
8.12校对量杆.
9标志与包装...
附录A（规范性附录）测微螺杆轴向窜动和径向间隙图1机械式小测头千分尺.……
图2电子数显小测头千分尺
图3锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图图4校对量杆的尺寸偏差及平行度检点示意图6
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。JB/T10005—2012
本标准代替JB/T10005-1999《小测头千分尺》，与JB/T10005-1999相比主要技术变化如下：增加了电子数显小测头千分尺的品种、规格及要求（本版的第1章，1999年版的第1章）；增加了小测头千分尺的量程规格（本版的第1章，1999年版的第1章）；重新定义了小测头千分尺的有关术语和定义（本版的3.1，1999年版的第2章）；重新规定和调整了固定套管的标尺标数的刻写方式（本版的4.2.1，1999年版的3.2）；修改了对小测头千分尺测量量程的规定（本版的4.2.2，1999年版的3.1)；增加了小测头千分尺测微螺杆和测砧测量端直径规格（本版的4.2.3，1999年版的3.3）；增加并调整了对标尺的要求，并引用GB/T1216一2004的相关要求（本版的5.7)；用“最大允许误差”术语代替“示值误差”术语对示值指标做出规定（本版的5.9和5.11，1999年版的2.2、4.11)；
修改了测量面硬度和表面粗糙度的要求（本版的5.10.2，1999年版的4.8和4.9）；修改了小测头千分尺对两测量面的偏位要求（本版的5.10.3）；修改了对测量面的平面度要求（本版的5.10.4，1999年版的5.11)；修改并调整了对测量面平行度的要求（本版的5.10.5，1999年版的5.11)；增加了电子数显装置性能要求（本版的5.12)；修改了对校对量杆尺寸偏差及平行度的要求（本版的5.16.1，1999年版的4.12）；修改了对校对量杆测量面表面粗糙度的要求（本版的5.16.2，1999年版的4.14）；-增加了对数显装置的试验方法（本版的第6章）；增加了检查条件章节（本版的第7章）；增加了锁紧前后测量面间距离变化的检查方法（本版的8.5）；删除了1999年版标准的附录A，并将其内容经修改后收入本标准的相关章节，（本版的5.4、5.9、5.11、8.6、8.8.3及附录A，1999年版的附录A）。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本标准负责起草单位：桂林量具刃具有限责任公司。本标准参加起草单位：浙江省计量科学研究院、苏州麦克龙测量技术有限公司、桂林广陆数字测控股份有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院。本标准主要起草人：程江龙、吴庆良、茅振华、黄晓宾、董中新、陈萍。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：-ZBJ42002—1987;
JB/T10005—1999。
1范围
小测头千分尺
JB/T10005—2012
本标准规定了小测头千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方法、标志与包装等。
本标准适用于分度值为0.01mm、分度值/分辨力为0.001mm，测量范围上限至200mm的机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺（统称“小测头千分尺”）。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T1216--2004外径千分尺
GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.22一2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB4208—2008外壳防护等级（IP代码）GB/T17163-2008几何量测量器具术语基本术语GB/T17164一2008几何量测量器具术语产品术语GB/T17626.2一2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GB/T17626.3一2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T20919--2007电子数显外径千分尺3术语和定义
GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
小测头千分尺
smallanvilmicrometer
利用螺旋副原理或螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合，对尺架上两较小测量面间分割的距离进行读数的外尺寸测量器具。注1：改写GB/T17164—2008中定义2.3.6。注2：利用螺旋副原理，通过微分筒标尺进行读数的小测头千分尺，又称机械式小测头千分尺。注3：利用螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合进行读数的小测头千分尺，又称电子数显小测头千分尺。注4：机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺，统称“小测头千分尺”。3.2
响应速度
response speed
电子数显小测头千分尺能正常显示数值时测微螺杆相对于测砧的最大移动速度。3.3
数显装置digitalindicatingdevices利用传感器、电子和数字显示技术计算并显示数显小测头千分尺的测量面位移的装置。3.4
最大允许误差（MIPE）
maximum permissibleerror(MPE）由技术规范、规则所规定的误差极限值。JB/T10005—2012
［GB/T17163—2008，定义4.21]3.5
测微头移动最大允许误差maximumpermissiblemovingerrorofmicrometerhead忽略了测砧和尺架的影响，仅针对测微头在量程范围内，规定的误差极限值。注1：改写GB/T1216—2004中定义3.4。注2：此误差包括测微螺杆、调节螺母及微分标尺引入的误差。4型式与基本参数
4.1型式
4.1.1小测头千分尺的型式如图1、图2所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。4.1.2小测头千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测微螺杆的锁紧装置。说明：
尺架：2-
测砧；3-
固定套管；7
说明：
隔热装置：4
微分筒；8
尺架；2测砧；3
测力装置；8
测微螺杆；5
测力装置。
-锁紧装置：
图1机械式小测头千分尺
MOSOHOO
测微螺杆：4
输出口；9
锁紧装置；
显示屏：10
固定套管：6
数显装置；11
图2电子数显小测头千分尺
微分筒：
功能键；12-
一隔热装置。
4.2基本参数
4.2.1固定套管的标尺标数，除有特别要求的之外，应按表1的规定刻写。表1
测微头的量程
0+A，5+A，10+A，15+A
标尺标数的刻写
0+A，5+A，10+A，15+A，20+A，25+A0+A，5+A，10+A,15+A，20+A，25+A，30+AJB/T10005—2012
单位为毫米
注：测量范围上限至100mm的小测头千分尺，表中A为测量范围下限值；测量范围下限大于100mm的小测头千分尺，表中A为测量范围下限值减100。4.2.2小测头千分尺的量程宜为：15mm、25mm、30mm；测微螺杆螺距宜为：0.5mm、1mm。4.2.3
测微螺杆和测砧测量端直径宜为：1.5mm、.2mm、3mm，其伸出长度不应小于5mm。5要求
5.1外观
5.1.1小测头千分尺不应有影响使用性能的裂纹、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5.1.2小测头千分尺表面的镀层、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3电子数显小测头千分尺的显示屏应透明、清洁、无划痕，数字显示应清晰。5.1.4标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。5.2相互作用
5.2.1小测头千分尺测微螺杆的移动应平稳、灵活，在其整个行程范围内不应有卡滞现象，其轴向窜动量和径向间隙量均不应大于0.01mm。5.2.2锁紧装置应能将测微螺杆在其测量范围内任意位置可靠紧固，松开锁紧装置后测微螺杆应能灵活移动。
5.3材料
按GB/T1216—2004中5.2的规定。5.4尺架
按GB/T1216—2004中5.3的规定。5.5测微螺杆和测砧
按GB/T1216—2004中5.4的规定。5.6锁紧装置
用锁紧装置在锁紧测微螺杆前后，小测头千分尺两测量面间的距离变化不应超过表2的规定，且两测量面间的平行度应符合5.10.5的规定。表2
紧固部位类型
锁紧时测量面间距离变化
分度值：0.01mm
有刚性支撑
无刚性支撑
按GB/T1216—2004中5.9的规定。5.8测力装置
单位为毫米
分度值/分辨力：0.001mm
小测头千分尺的测力装置，在平面与球面接触状态下，通过测力装置作用在测量面上的测量力应在3
JB/T10005--2012
5N～10N之间、测量力变化不应大于2N。5.9测微头
小测头千分尺的测微头在其量程范围内移动位移的最大允许误差不应超过表3的规定。测微头的示值误差按浮动零位原则判定，即示值误差的带宽不应超过表3中最大允许误差“土”号后的规定值。
测微头的量程
测微头移动最大允许误差
分度值：0.01mm；分辨力：0.001mm15，25，30
测量面
单位为毫米
分度值：0.001mm
并应经过研磨（特殊需要时也可做成球面及其他型面及组合）。测量面应为平面，
测量面的硬度及表面粗糙度应符合表4的规定。表4
测量面材料
碳素钢、工具钢
不锈钢
硬质合金或其他耐磨材料
≥766HV（或62HRC)
≥551HV（或52.5HRC）
≥1 000 HV
注：括号内参数仅针对除平面形外的异型测量面。5.10.3
小测头千分尺两测量面的偏位量不应大于表5的规定。表5
测量范围上限
≤100
≤125
≤150
≤175
≤200
小测头千分尺测量面的平面度误差不应大于表6的规定。6
测量上限t
≤100
100<≤200
表面粗糙度Ra
单位为毫米
偏位量
单位为毫米
测量面的平面度公差
分度值：0.01mm
注：测量面的平面度公差在测量面边缘0.1mm范围内不计。4
分度值/分辨力：0.001mm
5.10.5两测量面的平行度误差不应大于表7的规定。表7
测量上限
30<≤50
50<≤100
100≤150
150<≤200
最大允许误差μm
分度值：0.01mm
最大允许误差
分度值/分辨力：0.001mm
小测头千分尺的最大允许误差不应超过表7的规定。5.12电子数显装置
按GB/T20919—2007中5.8的规定。5.13抗温度变化及抗湿热能力
JB/T10005—-2012
两测量面的平行度公差um
分度值：0.01mm
分度值/分辨力：0.001mm
电子数显小测头千分尺应具有抗温度变化及抗湿热的能力，其在表8规定的严酷等级下应能正常工作。表8
温度变化严酷等级
低温TA
高温TB
循环数
转换时间
4重复性
(2~3）min
电子数显小测头千分尺的重复性不应大于0.001mm。5.15响应速度
恒定湿热试验严酷等级
（30±2）℃
相对湿度
持续时间
（80±3）%
电子数显小测头千分尺的响应速度应能保证以测力装置操作测微螺杆运动时，显示值正常。5.16校对量杆
5.16.1机械式小测头千分尺校对量杆的尺寸偏差为js3；电子数显小测头千分尺校对量杆的尺寸偏差为js2。当校对量杆量面采用大于Φ3mm直径时，其平行度公差为其尺寸公差的1/2。当校对量杆量面直径小于或等于Φ3mm时，其两工作面平行度可不作要求。5.16.2校对量杆的测量面应做成平面，表面粗糙度不应大于Ra0.1um。5.16.3
校对量杆测量面硬度不应低于766HV1（或62HRC)。校对量杆应有隔热装置。
试验方法
防尘、防水试验
电子数显小测头千分尺的防尘、防水试验应符合GB4208一2008的规定。抗静电干扰试验
电子数显小测头千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T17626.2—2006的规定。6.3抗电磁干扰试验
电子数显小测头千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626.3--2006的规定。5
JB/T10005—2012
6.4温度变化试验
电子数显小测头千分尺应进行温度变化试验，试验应符合GB/T2423.22-2002的规定。在标准大气条件下恢复至常温后，按本标准5.1、5.11、5.12、5.14要求进行检查。6.5湿热试验
电子数显小测头千分尺应进行湿热试验，试验应符合GB/T2423.3-2006的规定。在标准大气条件下恢复时间2h后，按本标准5.1、5.11、5.12、5.14要求进行检查。7检查条件
7.1检查前，应将被检小测头干分尺、校对量杆与检查用设备共同置于铸铁平板或木桌上进行平衡温度，其平衡时间不应小于表9的要求。表9
检查室内温度对20℃的允许偏差测量范围上限
≤100
>100～200
机械式
小测头千分尺
校对量杆
平衡温度时间
检查室内温度对20℃的允许偏差℃
电子数显
小测头千分尺
电子数显小测头千分尺检查时的相对湿度应不大于80%。8检查方法
8.1外观
目力观察。
8.2相互作用
手感、目测及试验，如有异议，则按符合附录A的规定进行检查。8.3尺架变形的检查
校对量杆
平衡温度时间
将尺架测砧端固定，在另一端沿测微螺杆轴线方向施加100N的力，并由千分指示表在施力端的量面上读取数值，分别观察在施力和未施力条件下千分指示表的示值，将两次示值之差按10N力的比例换算，求出尺架的变形量。
8.4测微螺杆和测砧的检查
测微螺杆和测砧的伸出长度可用游标卡尺进行检查。8.5锁紧前后测量面间距离变化的检查将小测头千分尺置于专用检具上紧固，用杠杆千分表测头对准测量面中心处预压少许，并对“零”，然后锁紧测微螺杆，读取杠杆千分表示值变化值，即为测量面间距离的锁紧变化量（见图3）。8.6测量力和测量力变化
小测头千分尺的测量力和测量力变化，用专用测力计进行检查，该项检查应在测微螺杆整个测量行程范围内的始点、中点、末点附近进行，三点测得值均应在5N～10N。三点测得值中的最大值与最小值之差为测量力变化，其值不应大于2N。8.7测微头的示值误差
将小测头千分尺安放牢固，将具有球形测量面的测微头示值专用检具安装在接近测微螺杆端的尺架上，并调整好，然后用表10所列尺寸系列的一组量块进行检查（分度值为0.01mm的小测头千分尺用2级或四等量块。分度值/分辨力为0.001mm的小测头千分尺用1级或三等量块）。根据测微头各点指示值与量块尺寸的差值绘制误差曲线，取误差曲线上最高点与最低点纵坐标的差值，按浮动零位原则确定测6
微头的示值误差，其值不应大于表3的规定。JB/T10005--2012
测量上限至100mm的小测头千分尺测微头的示值误差可不做检查，只做整体示值检查。测量下限大于100mm的小测头千分尺可只做测微头的示值误差检查，不做整体示值检查。图3锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图表10
测微头的行程
8.8测量面
8.8.1测量面的表面粗糙度
2.5，5.1，7.7，10.3，12.9，15量块尺寸系列
2.5，5.1，7.7，10.3，12.9，15，17.6，20.2，22.8，25；或5.12，10.24，15.36，21.5，252.5，5.1，7.7，10.3，12.9，17.6，20.2，22.8，25，27.5，30；或5.12，10.24，15.36，21.5，25，27.5，30用表面粗糙度检查仪检查和表面粗糙度比较样块及显微镜比较检查。8.8.2测量面硬度
单位为毫米
对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，可在距测量面1mm的光滑圆柱部位处检查，用维氏硬度计（或洛氏硬度计）在圆周上均布三点进行检查，取三点测得值的算术平均值作为测量结果（可仅在生产过程中进行）。
对于镶装硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检查。8.8.3测量面偏位
将小测头千分尺尺架平放在平板上的三个可调支承架上，调整支承架使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测砧至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测量面在水平方向的偏移量&，然后，将小测头千分尺尺架绕测微螺杆轴线转动90°，使尺架平面与平板平面垂直，以尺架为支撑点。调整支撑点使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测量面在垂直方向上的偏移量&，两测量面的偏位&按公式（1）计算，其计算结果不应大于表5的规定值。, =() +(s
式中：
&——两测量面的偏位；
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