首页 >  航天工业行业标准(QJ) >  QJ 2689-1994 电子器件中多余物的X射线照相检验方法

基本信息

标准号: QJ 2689-1994

QJ 2689-1994电子器件中多余物的X射线照相检验方法

标准类别:航天工业行业标准(QJ)

发布日期:1994-06-24

实施日期:1994-12-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 射线 照相 电子器件

标准分类号

标准ICS号:试验>>19.100无损检测

中标分类号:电子元器件与信息技术>>电子元件>>L10电子元件综合

关联标准

出版信息

页数:8页

标准价格:14.0 元

相关单位信息

标准简介

QJ 2689-1994 电子器件中多余物的X射线照相检验方法 QJ2689-1994